公开(公告)号：CN105372577B

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：CN201510507547.5

申请日：2015-08-18

申请人： 联发科技股份有限公司

发明人： 郑国忠 ,  刘宏孟 ,  吴一品

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/31725 ,  G01R31/3016

摘要： 本发明公开了一种芯片上变异侦测方法和集成电路，所述方法包括：发射暂存电路根据第一时钟输出测试数据至撷取暂存电路；撷取暂存电路，根据第二时钟，从所述发射暂存电路接收所述测试数据；以及，控制电路调整第一链的延迟组件的第一数量以及第二链的延迟组件的第二数量，使得撷取暂存电路正好能通过第二时钟撷取测试数据，并根据撷取暂存电路正好能通过所述第二时钟撷取测试数据时第一链的延迟组件的第一数量以及第二链的延迟组件的第二数量判断所述发射暂存电路和所述撷取暂存电路间的路径延迟。由此，本发明实施例可了解芯片上变异的真实情况，可为静态时序分析模型的校准提供参考。

公开(公告)号：CN103119455A

公开(公告)日：2013-05-22

申请号：CN201180044113.6

申请日：2011-09-14

申请人： 菲尼克斯电气公司

发明人： D·魏斯

IPC分类号： G01R31/317 ,  G01R31/30 ,  G05B23/02

CPC分类号： G01R31/2851 ,  G01R31/3016 ,  G01R31/31721 ,  G01R31/31725 ,  G05B23/0218

摘要： 本发明涉及一种用于集成电路运行参数监测的装置。在此，通过比较一个比较元件（11）的至少两个输入端上的输入信号（S2、S3）的切换状态，在该比较元件（11）的至少一个输出端上生成信号（S4），该信号说明所述至少一个运行参数低出或超出规定的阈值。所述两个输入信号由至少两个与运行参数有关的装置（12、13）生成并且根据所述至少一个运行参数的瞬时值在其切换特性中在时间上被延迟。在比较元件（11）的这两个输入信号（S2、S3）之间形成规定的时间延迟。该延迟的值使得在运行参数超出规定的阈值时所述输入信号（S2、S3）之一在由时钟信号（S1.1）为比较元件（11）规定的时刻因该规定的时间延迟改变其切换状态并且因此比较元件（11）显示不一致性并且因此以信号显示所述至少一个运行参数超出阈值。

公开(公告)号：CN101145770B

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN200710143083.X

申请日：2007-08-22

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 藤田和宽 ,  须田昌克 ,  莲见卓也

IPC分类号： H03K5/13 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/3016

摘要： 本发明提供一种延迟电路、测试装置、半导体芯片、初始化电路及初始化方法。延迟电路包括：第1延迟元件；第2延迟元件；及测量第1延迟元件对每个延迟设定值产生的延迟量且对第1延迟元件进行初始化的初始化部。初始化部包括：将第1延迟元件的输出信号输入到第1延迟元件的第1循环路径；将第2延迟元件的输出信号输入到第2延迟元件的第2循环路径；对第1延迟元件依次设定不同的延迟设定值，依次测量第1延迟元件中的延迟量的第1测量部；使第2延迟元件的延迟设定值不发生变化，和第1测量部同步测量第2延迟元件中的延迟量的第2测量部；用第2测量部与相应延迟量同步测量所得延迟量，来补正第1测量部测得的延迟量的延迟量计算部。

公开(公告)号：CN101322038A

公开(公告)日：2008-12-10

申请号：CN200680045644.6

申请日：2006-12-06

申请人： 高通股份有限公司

发明人： K·Z·玛利克

IPC分类号： G01R31/30

CPC分类号： H03K3/0315 ,  G01R31/3016 ,  G01R31/31727

摘要： 环形振荡器产生的振荡信号的频率被用于确定标准单元多路复用器的选择－输出延迟。该环形振荡器除了奇数或偶数个标准单元多路复用器之外没有其它有源逻辑元件。振荡信号的信号路径穿过该环形振荡器的各多路复用器的选择输入引线。该环形振荡器可用于表征信号传播延迟如何依存于向各多路复用器供应的电压而变化。令信号能继续传过测试电路的最关键电路路径的最低电源电压可被建模。另外，该环形振荡器可被内建在运算电路中以实时监视时基和信号传播延迟。对延迟的实时监视增强了在蜂窝电话里的信号处理电路中使用的自适应电压定标的益处。

公开(公告)号：CN101145770A

公开(公告)日：2008-03-19

申请号：CN200710143083.X

申请日：2007-08-22

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 藤田和宽 ,  须田昌克 ,  莲见卓也

IPC分类号： H03K5/13 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/3016

摘要： 本发明提供一种延迟电路、测试装置、存储介质、半导体芯片、初始化电路及初始化方法。延迟电路包括：第1延迟元件；第2延迟元件；及测量第1延迟元件对每个延迟设定值产生的延迟量且对第1延迟元件进行初始化的初始化部。初始化部包括：将第1延迟元件的输出信号输入到第1延迟元件的第1循环路径；将第2延迟元件的输出信号输入到第2延迟元件的第2循环路径；对第1延迟元件依次设定不同的延迟设定值，依次测量第1延迟元件中的延迟量的第1测量部；使第2延迟元件的延迟设定值不发生变化，和第1测量部同步测量第2延迟元件中的延迟量的第2测量部；用第2测量部与相应延迟量同步测量所得延迟量，来补正第1测量部测得的延迟量的延迟量计算部。

公开(公告)号：CN1532910A

公开(公告)日：2004-09-29

申请号：CN200410004097.X

申请日：2004-02-09

申请人： 因芬尼昂技术股份公司

发明人： S·穆夫 ,  A·巴查

IPC分类号： H01L21/66 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28

CPC分类号： G11C29/50012 ,  G01R31/2882 ,  G01R31/3016 ,  G01R31/31725 ,  G01R31/31937

摘要： 本发明系关于一种方法和装置，其系用以于信号针脚或分配至其之焊垫(2)上之时间测量，其系于一半导体模块(M)上，其中半导体芯片，尤其是半导体内存芯片，能使用球栅数组技术装置于其上。整合于该半导体模块上，以一直接邻接之欲被测量之信号针脚之一焊垫(2)，系为一特殊等效导体图案(1)，其能以被动式组件依此方式负载，该方式系为于该负载状态，其形成相关信号针脚之一等效负载电路，其系仿真该信号针脚之该时间相关特性电子值，该时间测量接着于该等效负载电路连接至分派给相关信号针脚之焊垫后执行，该半导体芯片系分离于该半导体模块(M)。

公开(公告)号：CN103119455B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201180044113.6

申请日：2011-09-14

申请人： 菲尼克斯电气公司

发明人： D·魏斯

IPC分类号： G01R31/317 ,  G01R31/30 ,  G05B23/02

CPC分类号： G01R31/2851 ,  G01R31/3016 ,  G01R31/31721 ,  G01R31/31725 ,  G05B23/0218

摘要： 本发明总体涉及一种用于集成电路运行参数监测的装置。在此，通过比较一个比较元件（11）的至少两个输入端上的输入信号（S2、S3）的切换状态，在该比较元件（11）的至少一个输出端上生成信号（S4），该信号说明所述至少一个运行参数低出或超出规定的阈值。所述两个输入信号由至少两个与运行参数有关的装置（12、13）生成并且根据所述至少一个运行参数的瞬时值在其切换特性中在时间上被延迟。在比较元件（11）的这两个输入信号（S2、S3）之间形成规定的时间延迟。该延迟的值使得在运行参数超出规定的阈值时所述输入信号（S2、S3）之一在由时钟信号（S1.1）为比较元件（11）规定的时刻因该规定的时间延迟改变其切换状态并且因此比较元件（11）显示不一致性并且因此以信号显示所述至少一个运行参数超出阈值。

公开(公告)号：CN102812373A

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201180014113.1

申请日：2011-03-14

申请人： 国立大学法人九州工业大学 ,  国立大学法人奈良先端科学技术大学院大学 ,  公立大学法人首都大学东京

发明人： 佐藤康夫 ,  梶原诚司 ,  井上美智子 ,  米田友和 ,  李贤彬 ,  三浦幸也

IPC分类号： G01R31/28 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC分类号： G01R31/2884 ,  G01R31/2856 ,  G01R31/3016

摘要： 本发明提供一种半导体装置等，即使是在测试环境变动的情形下，也能更高精度地判断半导体集成电路的动作性能。一种半导体装置，能检测半导体集成电路所产生的劣化，包含：测定单元，测定温度及电压；决定单元，在各测试动作频率下对检测对象电路部判别测试内容是否在容许测试时序内被执行，决定所执行的最大的测试动作频率；算出单元，将最大测试动作频率换算成基准温度及基准电压下的最大测试动作频率并且也算出表示劣化的状态的劣化量，半导体集成电路具有监控区块电路，该监控区块电路监控用于供测定单元测定温度及电压的值的值，测定单元具有根据监控区块电路监控的值估计检测对象电路部的温度及电压的值的估计单元，算出单元使用估计单元所估计的温度及电压的值。

公开(公告)号：CN1902502B

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：CN200480039163.5

申请日：2004-12-17

申请人： NXP股份有限公司

发明人： A·米塔尔

IPC分类号： G01R31/3183

CPC分类号： G01R31/3016

摘要： 本发明提供一种延迟故障测试电路，该延迟故障测试电路用于响应于与将要测试的被设置为以不同速度运行的逻辑电路相关联的两个相应不同频率时钟信号来产生两时钟脉冲序列，并且被如此设置使得时钟脉冲中第二个的上升沿被对准，并且该电路进一步包括：计数装置，用于产生参考计数值，用于在所述计数值达到第一阈值时开始该两个时钟脉冲中第一个时钟脉冲的装置，用于在所述计数值达到第二阈值时结束该两个时钟脉冲中第一个时钟脉冲的装置，用于在所述计数值述到第三阈值时开始该两个时钟脉冲中第二个时钟脉冲的装置，用于在所述计数值达到第四阈值时结束该两个时钟脉冲中第二个时钟脉冲的装置，其中第三阈值对于两个输入时钟信号是公共的，而第一、第二和第四阈值基于时钟信号各自的频率。

公开(公告)号：CN101048780B

公开(公告)日：2010-06-02

申请号：CN200580028048.2

申请日：2005-07-11

申请人： 佛姆法克特股份有限公司

发明人： C·A·米勒

IPC分类号： G06K5/04 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R35/005 ,  G01R31/3016 ,  G01R31/31723 ,  G01R31/318511 ,  G01R31/3191 ,  G01R31/31937

摘要： 一连串脉冲可被驱动到各个驱动通道，各个驱动通道在缓冲器的输出端生成一连串混合脉冲。各个混合脉冲是由驱动到驱动通道的各个脉冲构成。可调节与驱动通道相关联的时间偏移量，直到混合脉冲中的各个脉冲对齐或接近对齐。这些时间偏移量对驱动通道进行校准和/或校直，从而补偿通过驱动通道的传播延迟的偏差。混合脉冲可经由比较通道反馈到测试器，且可使与用于各个比较通道的比较信号相关联的偏移量与混合脉冲对齐，这可校准和/或校直比较脉冲。