单片CR-39两次蚀刻法同步测量222Rn、220Rn浓度的方法

    公开(公告)号:CN105353401A

    公开(公告)日:2016-02-24

    申请号:CN201510805209.X

    申请日:2015-11-20

    Inventor: 谭延亮 袁红志

    CPC classification number: G01T5/02

    Abstract: 一种单片CR-39两次蚀刻法同步测量222Rn、220Rn浓度的方法,对单片CR-39进行两次蚀刻,利用两次的读数来同步得到222Rn、220Rn浓度。其具体操作步骤如下:将CR-39安装在一个小盒中,组成一个CR-39固体径迹探测器,然后将CR-39固体径迹探测器放在环境空气中测量空气中222Rn和220Rn浓度,测量时间为T1,测量完成后对CR-39进行两次蚀刻,分别在显微镜下读取径迹数N1、N1。再将CR-39固体径迹探测器分别放入浓度为C1标准222Rn室和照射浓度为C2标准220Rn室,照射时间为T2,照射完成后对CR-39树脂片进行两次蚀刻,分别在显微镜下读取径迹数 、、、,然后通过计算得到环境中222Rn和220Rn的浓度。

    一种带电粒子与边界互作用的概率性模拟方法

    公开(公告)号:CN104035125A

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201410260804.5

    申请日:2014-06-12

    Abstract: 本发明公开了一种带电粒子与边界互作用的概率性模拟方法,初始化入射至边界的带电粒子的入射能量、入射角度及边界材料属性;根据得到的带电粒子的入射能量、入射角度及边界材料属性,计算带电粒子与边界互作用的总发射系数、背散射发射系数、非弹性背散射与弹性背散射带电粒子的比例,并由此得到各种互作用行为的发射系数;利用得到的各种发射系数,概率性的决定带电粒子与边界互作用发生何种行为;如果该行为存在出射粒子,则从该出射粒子发射特性分布中随机取样,实现对出射粒子的出射能量和出射角度的概率性处理。本发明使得该概率性物理过程得以精确描述,考虑了背散射行为中弹性背散射和非弹性背散射两种情况,更具有通用性。

    同步测量有效衰变常数和氡析出率的装置及方法

    公开(公告)号:CN115015987B

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202210343219.6

    申请日:2022-04-02

    Abstract: 同步测量有效衰变常数和氡析出率的装置,包括集氡罩收集室筒体、集氡罩收集室端盖、第一CR‑39固体核径迹探测器、第二CR‑39固体核径迹探测器、金属片及磁铁。利用该装置进行测量的方法包括测量过程及计算过程,分别测量两个探测器在是否被金属片覆盖的情况下的不同读数,然后基于CR‑39固体核径迹探测器和静电收集法测量的氡浓度相等的基础计算出有效衰变常数和氡析出率。本装置的制作成本低,测量过程简单便捷,使用两片CR‑39固体核径迹探测器进行测量考虑了泄漏和反扩散作用,测量精度较高,且适用于大面积布样检测氡析出率,能够大大改善现有的有效衰变常数和氡析出率的测量的不足。

    面向固体核径迹探测器的二阶段辐射粒子径迹自动化采集方法及系统

    公开(公告)号:CN118426027A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410507427.4

    申请日:2024-04-25

    Abstract: 本发明公开了一种面向固体核径迹探测器的二阶段辐射粒子径迹自动化采集方法及系统,包括:对辐射粒子数据集进行预处理,修正人工标记的长短轴点,对重离子的径迹数据进行归一化;使用yolov7模型作为检测器对图片特征进行抽取,得到多个辐射粒子的外接矩形;提取粗略定位到的矩形框所在位置图片,利用ROIAglin实现不同大小的矩形框规范到同一表达空间,并将矩形框所在的辐射粒子特征进行放大;使用测量器提取辐射粒子的特征信息,对辐射粒子的径迹进行预测;对预测出的相对中心点和长短轴以及角度进行还原,还原为相对图片的绝对中心点和长短轴以及角度。本发明能够在短时间内对辐射粒子进行定位以及测量。

    低物质量圆柱形微结构气体探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN117969604A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410392125.7

    申请日:2024-04-02

    Abstract: 本公开提供一种低物质量圆柱形微结构气体探测器及其制备方法,该制备方法包括:操作S10:制备面电阻率不高于0.25Ω/□的柔性低物质量电极基材;操作S20:制备柔性放大单元和读出电极单元;操作S30:基于内筒辅助结构和所述低物质量电极基材、柔性放大单元、读出电极单元制备内筒探测器电极组件;操作S40:基于外筒辅助结构和所述低物质量电极基材制备外筒漂移电极组件;以及操作S50:基于内筒辅助结构和外筒辅助结构将内筒探测器电极组件和外筒漂移电极组件进行组装,并进行电气连接及固定密封,完成气体探测器的制备。

    一种X射线偏振度直接测量装置及方法

    公开(公告)号:CN117518228A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311446334.7

    申请日:2023-11-01

    Abstract: 本发明涉及一种X射线偏振度直接测量装置及方法,入射的X射线在光电转换结构发生光电效应,产生携带偏振信息的光电子,光电子经过电子倍增器进行电荷放大后,像素板记录放大后的光电子的运动轨道。信号输出单元接收光电子的运动轨迹,并根据运动轨迹重建得到出射电子的方向,进而测量获得入射X射线的偏振度。上述X射线偏振度直接测量装置及方法,将气体像素探测器作为焦平面探测器,测量入射X光子发生光电效应的光电子径迹,由径迹重建得到出射电子的方向,从而直接测量获得入射X射线的偏振度,能够高效灵敏的探测来自宇宙极端环境下的X射线,通过X射线偏振测量获得X射线源的几何形状、磁场强度和起源等重要信息。

    粒子束流动参数测量装置、测量系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN115343749A

    公开(公告)日:2022-11-15

    申请号:CN202211049817.9

    申请日:2022-08-30

    Abstract: 本发明提供一种粒子束流动参数测量装置、测量系统及其测量方法,涉及粒子射流表面处理工艺的技术领域,包括机架、调速电机、转轴、第一圆盘、第二圆盘和多个压力传感器;转轴连接于调速电机输出端,第一、第二圆盘直径相等且由上至下依次且间隔套接且固定连接于转轴,在第一圆盘上设有沿第一圆盘径向延伸的裂缝或多个粒子穿孔;多个压力传感器均匀设于第二圆盘,用于感应并向外传递第二圆盘上承受粒子撞击的承压信息。本发明至少缓解了现有技术中对粒子束的流速的装置至少存在的:成本高、操作复杂、易受环境干扰、受粒子束温度限制、以及无法测量到粒子束各个位置处粒子速度的技术问题。

    一种基于光度立体的固体核径迹三维测量系统

    公开(公告)号:CN113805220A

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN202111140540.6

    申请日:2021-09-28

    Applicant: 复旦大学

    Abstract: 本发明涉及辐射探测与测量技术领域,具体涉及一种基于光度立体的固体核径迹三维测量系统,本发明的基于光度立体的固体核径迹三维测量系统填补了现有的基于光度立体测量物体表面方法不适用CR‑39所造成的空白,克服了原子力显微镜、共聚焦显微镜仪器昂贵,扫描速度慢、经济性差的缺点,且不会对被测物造成损伤,同时能够带动被测物在水平面上高精度移动,补充充足的背景光源,并为控制装置运行设置了按特定逻辑运行的算法。

    强激光脉冲与高能电子对撞的三维立体探测的处理方法

    公开(公告)号:CN112558136A

    公开(公告)日:2021-03-26

    申请号:CN201910851942.3

    申请日:2019-09-10

    Abstract: 本申请公开了一种强激光脉冲与高能电子对撞的三维立体探测的处理方法。该方法包括采用Matlab三维编程模拟方法通过跟踪每个电子在电磁场中的运动,模拟高能电子全空间运动轨迹,用于处理激光脉冲与高能电子相互作用过程的非线性过程。本申请解决了相关技术中无法立体探测强激光脉冲与高能电子对撞,并将其运用于实际实验过程中的技术问题。通过本申请通过获得的基于Matlab编程的强激光脉冲与高能电子对撞的三维立体探测的全时间和全空间特性,为实验上进行全时间和全空间的强激光脉冲与高能电子对撞的三维立体探测提供理论和数值模拟依据。通过编写Matlab程序来研究强激光脉冲与高能电子的对撞特性,在实际探测中具有重要的意义和较好的应用前景。

Patent Agency Ranking