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公开(公告)号：CN113075252A
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202110239656.9
申请日：2021-03-04
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种被动毫米波辐射特征量的测量方法及系统、分类方法，属于无源微波遥感与探测技术领域。方法包括：利用测量得到的目标的水平极化亮温和垂直极化亮温，通过数据分析得到毫米波辐射特征量RDoP，同时给出了通过RDoP计算其它辐射特征量的公式，利用这些特征量可以实现目标的分类。本发明不需要测量目标的物理温度即可得到目标的毫米波辐射特征量；辐射计测量噪声、定标误差、大气辐射和衰减等不理想因素不会造成本方法的测量失真。本发明所构思的以上技术方案，可用于遥感中地物目标的识别与分类、人体安检中各类隐匿物的识别与分类、液体检测等。
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公开(公告)号：CN110161496B
公开(公告)日：2020-11-17
申请号：CN201910447070.4
申请日：2019-05-27
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于极化毫米波辐射的目标表面法向量获取方法及系统，方法包括在不同观测点以三种不同的天线极化旋转角度对置于无极化辐射环境中的待测目标进行成像，得到目标的亮温图像，计算目标表面的平均亮温值，将三种不同天线极化旋转角度及其相应的平均亮温值代入曲线方程中，求解出每个表面相位角，最后根据表面相位角结合观测方位角和观测天顶角获得目标表面的法向量。本方法计算法向量仅需获取两个方向上的相位角，而大气传输和大气辐射以及定标等操作均不会改变余弦方程的相位角，因此也不会影响法向量的获取，故而本方法在室内、室外，远距离、近距离等应用场景下均可适用，对目标的检测和识别能力很强。
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公开(公告)号：CN108921803B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201810711003.4
申请日：2018-06-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于毫米波与可见光图像融合的去雾方法，包括：采集可见光图像与毫米波图像并配准，然后提取可见光图像的亮度分量得到亮度图像；根据毫米波图像和亮度图像中每个像素点的权重值，得到毫米波图像和亮度图像的权重图；对毫米波图像和亮度图像进行拉普拉斯金字塔分解得到毫米波图像和亮度图像的拉普拉斯金字塔，利用毫米波图像和亮度图像的权重图对毫米波图像与亮度图像的拉普拉斯金字塔进行融合，得到融合图像；利用可见光图像与毫米波图像建立雾天图像退化模型，利用雾天图像退化模型对融合图像进行去雾，得到去雾图像。本发明提高浓雾天气条件下的图像去雾效果，可用于视频监控、智能导航、卫星遥感检测以及目标识别跟踪领域。
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公开(公告)号：CN106785485B
公开(公告)日：2019-09-13
申请号：CN201611246369.6
申请日：2016-12-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种一维双重冗余天线阵列及构造方法，构造方法包括：建立基于最小阵列冗余度的一维双重冗余天线阵列的设计模型；利用智能优化算法获得满足设计模型的多个第一天线阵列；根据所述第一天线阵列的相邻阵元间距分布情况对第一天线阵列扩展操作获得多个第二天线阵列；并将满足一维双重冗余天线阵列要求且阵列冗余度小的第二天线阵列作为第三天线阵列，根据所述第三天线阵列相邻阵元间距分布情况获得任意阵元数的一维双重冗余天线阵列。本发明提供的用于构造一维双重冗余天线阵列的方法，解决了单个阵元损坏情况下采样频率较大程度覆盖的问题，为综合孔径辐射计在微波毫米波辐射测量应用中的系统可靠性提供保障。
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公开(公告)号：CN108680262A
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201810472195.8
申请日：2018-05-16
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J5/52
CPC classification number: G01J5/522
Abstract: 本发明公开了一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法，属于无源微波遥感与探测技术领域，包括：利用辐射计分别对同一位置的金属目标、待测目标、黑体目标进行测量，得到第一电压、第二电压和第三电压；利用第一电压、第二电压和第三电压进行差值分析，得到待测目标的辐射率。本发明能够非接触、被动、且不需要复杂的定标过程，同时还可消除天线旁瓣以及主波束不完全被目标区域覆盖时所引起的误差，从而获取更为准确的、便易的辐射率测量方法，为目标的检测和识别提供信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108519600A
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：CN201810352217.7
申请日：2018-04-19
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01S13/90
Abstract: 本发明公开了一种综合孔径辐射计增广协方差矩阵的构造方法及系统，应用于对地遥感领域，所述方法包括如下步骤：基于MIRAS稀疏天线阵列A构造虚拟全填充天线阵列B；根据MIRAS稀疏天线阵列A的可见度函数，填充虚拟全填充天线阵列B的可见度函数；根据虚拟全填充天线阵列B的可见度函数构造增广协方差矩阵；基于增广协方差矩阵，利用其中已知UV采样点对未知UV采样点的值进行估计，实现增广协方差矩阵的完备化。根据本发明所构建的完备化增广协方差矩阵，可减小RFI定位点的拖尾效应，有利于弱源检测。
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公开(公告)号：CN106226766B
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201610534007.0
申请日：2016-07-08
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于被动毫米波极化成像的材料分类方法；首先利用毫米波辐射计成像系统在无极化照射环境中获取给定入射角下场景的水平极化图和垂直极化图；再根据水平极化图和垂直极化图计算得到“线极化比”图像；然后统计分析“线极化比”的分布规律，利用阈值估计公式估计“线极化比”阈值；最后根据分类准则，实现对场景中的金属材料和非金属材料的分类。本发明能非接触、被动地对金属材料和介质材料的进行有效分类，并且不受环境辐射变化的影响，具有很好的鲁棒性，可用于金属目标的遥感与探测、金属危险品的安全检测与预警等领域。
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公开(公告)号：CN102914774B
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201210346376.9
申请日：2012-09-18
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01S13/90
Abstract: 本发明公开了一种综合孔径辐射计图像反演方法，该方法包括根据目标场景的可见度数据V和辐射计的冲击响应矩阵G获得可见度的概率测度初始值β和不同像素点i的概率测度初始值ai，计算GTG矩阵的特征值λi；计算后验概率的均值u和后验概率的方差∑T|V，更新β和a并判断可见度的概率测度更新值βnew和概率测度更新值anew是否同时收敛，若是则将可见度的概率测度更新值βnew、概率测度更新值anew、后验概率的均值u和后验概率的方差∑T|V代入公式p(T|G，anew，βnew)＝N(T|u，∑T|V)获得亮温图像分布T，若否，则返回进一步计算u和∑T|V。本发明能够有效的降低获得最优模型的计算复杂度，得到方差和偏差都较小的反演结果，减少噪声对反演结果的影响，有效的提高反演图像的分辨率，是一种可以自动的选取最优模型的综合孔径图像反演方法。
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公开(公告)号：CN101261319B
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200810047372.4
申请日：2008-04-18
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于微波遥感及探测技术领域，为一种综合孔径辐射计成像校正方法。该方法首先测量背景和通道本底各基线的可见度输出；然后在视场内放置外部源(信号源或者噪声源)，测量各基线的可见度输出；将两次测量的可见度按基线相减得到仅由外部源产生的可见度输出；测量被测场景的可见度输出，将得到的输出相位减去由外部源产生的相关输出的相位，得到校正后的可见度，然后反演成像，即可得到校正后被测场景的图像。该校正方法可提高干涉式综合孔径辐射计的成像性能，具有测量简单、不需要转台控制系统的支持、计算量小以及可以周期测量的优点。本发明并不局限于远场测量，仿真和实验均发现近场条件下该校正方法仍然可用。
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公开(公告)号：CN101788665A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN201010124342.6
申请日：2010-03-16
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01S13/89
Abstract: 一种被动毫米波焦平面成像装置，属于被动毫米波成像领域，解决现有成像系统存在的像素数有限、成像分辨率较低的问题。本发明包括N个馈源和N路毫米波辐射计通道，N个馈源以线阵形式排列在聚焦天线的焦平面上，每路毫米波辐射计通道由射频放大器、射频滤波器、混频器和模数转换器依次串联构成，N路中频数字信号送入计算机进行自相关和互相关处理，计算得到天线温度TAi和干涉测量亮温Tcij，计算机再对天线温度TAi处理得到像素值Ti，将干涉测量亮温Tcij插入像素值Ti和Tj之间，共同构成焦平面图像。本发明将相干成像和非相干成像进行有效结合，增加了图像的像素，进而提高了成像的空间分辨率。
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