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公开(公告)号：CN105510363A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201511017642.3
申请日：2015-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/087 , G01N2223/202 , G01N2223/501 , G01N2223/505 , G01T1/2008 , G01T1/2018 , G01N23/04 , G01N2223/1016
摘要： 本申请涉及双能探测装置、系统及方法，属于辐射检查领域。该装置包括：靠近射线源一侧的第一像素探测器阵列，用于探测相对低能的射线源光子；远离射线源一侧的第二像素探测器阵列，用于探测相对高能的射线源光子；其中第一像素探测器阵列包括多排第一像素探测器，其包括第一灵敏介质、第一光敏器件、用于射线源入射的第一入射面及与第一光敏器件耦合的第一窗口，第一入射面朝向射线源；第二像素探测器阵列包括单排第二像素探测器，其包括第二灵敏介质、第二光敏器件、第二入射面及与第二光敏器件耦合的第二窗口；每个第二像素探测器与其相应的多个第一像素探测器的像素面积相同。本公开能够同时兼顾物质有效原子序数的识别、提升空间分辨能力和增强对射线的有效探测。
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公开(公告)号：CN107861147A
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201711428925.6
申请日：2017-12-26
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T7/00
CPC分类号： G01T7/00
摘要： 本公开涉及一种闪烁体灵敏度测量装置及测量方法，装置包括：射线源(11)，在预设的有效辐射区(15)中提供射线(13)；驱动机构(2)，使待检测的多个闪烁体(3)依次进入所述有效辐射区(15)；和图像采集系统(4)，采集进入所述有效辐射区(15)的被测闪烁体(3)的闪烁发光图像，以便基于所述闪烁发光图像计算出被测闪烁体(3)的灵敏度。通过驱动机构使待检测的多个闪烁体依次进入射线源的有效辐射区，并通过图像采集系统采集进入有效辐射区的被测闪烁体的闪烁发光图像，基于闪烁发光图像就能够计算出被测闪烁体的灵敏度。在这个过程中，利用驱动机构可以实现多个闪烁体的自动依次测量，使得闪烁体的灵敏度测量更加快速有效。
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公开(公告)号：CN105403908A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201511018469.9
申请日：2015-12-29
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T7/00
CPC分类号： G01T7/005
摘要： 本申请涉及测量闪烁体灵敏度的方法、系统及设备，属于测量技术领域。该方法包括：将多个闪烁体单元排成闪烁体阵列，每个闪烁体单元具有窗口；用射线源从入射面照射所述闪烁体阵列从而使闪烁光从所述多个闪烁体单元的窗口发出；用成像装置对发出闪烁光的所述闪烁体阵列进行拍照，得到灰度图像，所述灰度图像的各个灰度值对应闪烁光强度，所述成像装置包括多个像素；根据所述多个闪烁体单元在所述灰度图像中的相应位置及所述相应位置处的灰度值的分别得到所述多个闪烁体单元的灵敏度。本公开采用相机批量测试多个闪烁体单元，能够提高生产效率和控制产品质量，且具备通用性。
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公开(公告)号：CN116184484A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202111427640.7
申请日：2021-11-26
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T7/00
摘要： 本公开提供了一种探测器装置和射线检测设备，其可以应用于辐射检测技术领域。该探测器装置包括：探测器组件，用于接收射线源产生的射线，并生成模拟信号；模拟电路模块，用于接收模拟信号并转换成数字信号，模拟电路模块具有相对设置的第一表面和第二表面，第一表面的第一区域与探测器组件可拆卸连接，第二表面适于与探测器装置的目标安装位置连接；以及数字电路模块，用于接收来自模拟电路模块的数字信号，第一表面的第二区域与数字电路模块可拆卸连接。
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公开(公告)号：CN115436989A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202110625375.7
申请日：2021-06-04
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T1/29
摘要： 本公开涉及一种束流分布专用探测装置和束流分布探测方法。该束流分布专用探测装置包括至少一个探测器模块，探测器模块包括线阵探测器和逻辑控制模组，其中，线阵探测器，被配置为根据逻辑控制模组的指示，采集束流数据；逻辑控制模组，被配置为对束流数据进行处理，根据处理后的束流数据判断束流状态是否满足预定要求；在束流状态不满足预定要求的情况下，对束流进行调整。本公开采用线阵探测器，使用方法简单，大大节省了调试时间。
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公开(公告)号：CN113466186A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202010243019.4
申请日：2020-03-31
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种用于闪烁体余辉的检测装置和方法。该检测装置包括：LED芯片光源，用于在被开启后发出紫外光，以及在被关断后不发出紫外光，其中，该紫外光照射在闪烁体上以使得该闪烁体发出光信号；光电探测器，用于接收闪烁体发出的光信号，并将该光信号转换为电信号；信号处理器，用于对电信号进行信号处理，以得到闪烁体的闪烁光强度；以及信息处理设备，用于从信号处理器接收闪烁光强度，并拟合得到该闪烁光强度随时间变化的曲线，并根据该曲线获得闪烁体的余辉特性参数。本公开实现了闪烁体余辉的便捷检测。
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公开(公告)号：CN110333252A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201810262091.4
申请日：2018-03-28
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/087 , G01B15/02
摘要： 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括：X射线源，用于向被测物体发送X射线束；闪烁探测器，工作于积分模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号；切伦科夫探测器，位于所述闪烁探测器后方，工作于计数模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
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公开(公告)号：CN101937096A
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN200910088621.9
申请日：2009-06-30
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01T1/38
摘要： 一种多通道多道脉冲幅度分析器，各个通道独立工作，可以进行多个通道的相关性测量，提高了测量的实时性，并具有结构简化扩展灵活的优点。包括：多个脉冲峰检测电路，相对独立工作，接收多路脉冲信号，检测各个峰到达时刻，并分别输出多个甄别信号；多个ADC，相对独立工作，启动对所述多路脉冲信号进行A/D变换，并输出变换数据；多个多道数据存储电路，接收变换数据并进行计数存储；网络传输模块，读取所述存储数据并输出；以及时序控制电路，产生时序信号，用于控制所述各个电路工作时序。
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公开(公告)号：CN208283312U
公开(公告)日：2018-12-25
申请号：CN201820684913.3
申请日：2018-05-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01N23/04
摘要： 本实用新型公开了一种探测器模块结构，包括：探测器组件，包括探测器和与探测器连接的信号输出连接件；数据采集电路板，包括板体和信号输入连接件，板体的第一表面具有信号输入区，信号输入连接件设置于信号输入区，信号输出连接件与信号输入连接件连接；第一封盖，贴合于板体的与第一表面相对的第二表面；探测器封罩，罩设于探测器组件和信号输入连接件外；第一连接件，连接探测器封罩、板体和第一封盖；和第一密封元件，设置于探测器封罩与第一表面之间，用于密封探测器封罩和信号输入区所形成的区域。本实用新型可以提高探测器模块结构的环境适应性能和使用寿命。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN204439577U
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201420867184.7
申请日：2014-12-31
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/02
摘要： 本实用新型公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。
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