光模块、光电芯片和电子设备
    41.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117240365A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311318167.8

    申请日:2023-10-11

    发明人: 吴骁 罗启元

    IPC分类号: H04B10/40

    摘要: 本公开涉及一种光模块、光电芯片和电子设备,所述光模块包括第一基板、控制组件及光组件,所述控制组件及所述光组件设置在所述第一基板上,控制组件包括:总线及连接于所述总线的通信接口及多个功能单元,通信接口及各个功能单元能够通过总线建立两两之间的通信关系,光组件包括:光接收单元及光发送单元,所述光接收单元用于接收第一光信号,并将所述第一光信号转换为第一电信号后传输到所述通信接口,所述光发送单元用于从所述通信接口接收第二电信号,将所述第二电信号转换为第二光信号并发送。本公开实施例能够提升光模块运行的处理速度,能够极大的降低噪声和干扰,减少光模块布线及设备体积,在提升光模块可靠性的基础上降低设备成本。

    频偏确定装置及方法
    42.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108768910B

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN201810730737.7

    申请日:2018-07-05

    摘要: 本公开涉及一种频偏确定装置及方法,所述频偏确定装置包括:差分鉴相模块,用于对第一信号进行鉴相和差分运算,从而获取第一信号的差分信号;第一直流分量获取及去除模块,连接于所述差分鉴相模块;帧同步检测模块,连接于所述第一直流分量获取及去除模块;第二直流分量获取及去除模块,连接于所述帧同步检测模块;载波频偏获取模块,连接于所述第二直流分量获取及去除模块。根据本公开上述实施例的频偏确定装置能够获取接收机接收信号中的载波频率偏移量,并去除因载波频率偏移导致在信号中叠加的直流分量。

    芯片测试装置
    43.
    发明公开
    芯片测试装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115494369A

    公开(公告)日:2022-12-20

    申请号:CN202110673554.8

    申请日:2021-06-17

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本公开涉及一种芯片测试装置,所述装置包括控制模块、测试模块,控制模块根据控制信息实现对测试模块的控制,以使得测试模块对连接的至少一个待测芯片进行测试;测试模块,包括处理单元、测试单元、接口单元、供电及复位单元,处理单元用于与所述控制模块、测试单元及供电及复位单元通信,通过测试单元及接口单元将测试程序写入待测芯片并根据控制程序执行相应的测试,供电及复位单元用于当待测芯片出现死机情况时,执行多级复位管理,确定所述待测芯片出现死机的原因。本公开实施例可以对至少一个待测芯片进行快速、自动、准确测试,得到清晰、可靠的测试结果,人工干预少,成本低,效率高。

    电机驱动装置、驱动组件及电动工具

    公开(公告)号:CN115208244A

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202110383439.7

    申请日:2021-04-09

    IPC分类号: H02P6/08 H02P6/14 H02P27/08

    摘要: 本公开涉及一种电机驱动装置、驱动组件及电动工具,所述装置包括三相电机、三相全桥逆变器、电压侦测模块、驱动模块及控制模块,驱动模块当三相电机的转速小于预设转速时,在第K个控制周期交替输出驱动信号及检测信号;电压侦测模块侦测驱动信号作用时第三桥臂的第一电压及检测信号作用时第三桥臂的第二电压;控制模块用于当第一电压及第二电压相等时,延时后输出换相信号,以使得驱动模块调整驱动信号及检测信号进行换相,以在第K+1个控制周期输出调整后的驱动信号及调整后的检测信号。本公开实施例的电机驱动装置,可以在三相电机处于低速下时,实现转矩保持,并实时检测换相点进行准确换相,实现三相电机的精确控制。

    电流采样装置、驱动组件及电动工具

    公开(公告)号:CN114910682A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202110178567.8

    申请日:2021-02-09

    IPC分类号: G01R19/00

    摘要: 本公开涉及一种电流采样装置、驱动组件及电动工具,所述装置包括:三相电机;三相全桥逆变器;第一电流采样模块,用于进行利用所述第四晶体管的晶体管内阻、第五晶体管的晶体管内阻、第六晶体管的晶体管内阻进行电流采样;第二电流采样模块,用于通过所述母线进行电流采样;采样选择模块,用于:在一个控制周期中,根据所述第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管均被断开的第一时长确定利用所述第一电流采样模块或所述第二电流采样模块进行电流采样。通过以上装置,本公开实施例的电流采样装置具有电流采样方式多样化的特点,且可以避免采样盲区的问题,可以进行全方面的电流采样,提高了电流采样的实时性、全面性,并提高了电机控制的准确性。

    谐振频率校正装置、倒车雷达报警系统及测距系统

    公开(公告)号:CN114325668A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202011050696.0

    申请日:2020-09-29

    IPC分类号: G01S7/52 G01S15/931 G01S15/08

    摘要: 本公开涉及谐振频率校正装置、倒车雷达报警系统及测距系统,所述装置包括:带通采样模块,下变频滤波模块,频偏检测模块。通过以上装置,本公开实施例可以对接收的超声波信号进行带通采样滤波,得到复基带信号,对复基带信号进行频偏检测,得到复基带信号的第一载波频偏,并利用第一载波频偏及复基带信号确定第二载波频偏,并利用超声波发射器的预设发射频率及第二载波频偏确定超声波发射器的谐振频率,以对超声波发射器进行频率校正,通过对超声波发射器的实际谐振频率进行校正,可以解决频率漂移问题,以提高发射效率,降低载波频偏的影响,从而提高测距精度。

    提高单片机的模数转换精度的方法及装置

    公开(公告)号:CN106385258B

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201610853077.2

    申请日:2016-09-26

    IPC分类号: H03M1/50 H03M1/06

    摘要: 本发明涉及提高单片机的模数转换精度的方法及装置。该方法包括:判断是否由单片机的内部原因造成所述单片机的电源电压波动;在由所述单片机的内部原因造成所述单片机的电源电压波动的情况下,配置所述单片机的PWM模块相应的寄存器以及所述单片机的模数转换器相应的寄存器,以使所述PWM模块的输出频率等于所述模数转换器的时钟频率的整数倍。通过配置单片机的寄存器,使单片机的PWM模块的输出频率等于单片机的模数转换器的时钟频率的整数倍,根据本发明的提高单片机的模数转换精度的方法及装置能够在不增加硬件的前提下,保证单片机的模数转换精度不受电源电压波动的影响。

    直流分量获取装置及方法
    48.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108900453A

    公开(公告)日:2018-11-27

    申请号:CN201810607106.6

    申请日:2018-06-13

    IPC分类号: H04L27/00

    摘要: 本公开涉及一种直流分量获取装置及方法,所述装置包括:鉴相模块,用于对基带信号进行鉴相处理,以获取所述基带信号的相位信号;峰值检测模块,连接于所述鉴相模块,用于对所述相位信号进行峰值检测,以获取所述相位信号的第一波峰值和第一波谷值,并根据所述第一波峰值和所述第一波谷值获取直流分量信息;滤波模块,连接于所述峰值检测模块,当所述峰值检测模块检测到所述第一波峰值和所述第一波谷值时,用于对所述相位信号进行滤波处理,并通过所述直流分量信息获取稳定直流分量。通过所述直流分量获取装置及方法,根据本公开可以获取基带信号中的稳定直流分量。

    提高单片机的模数转换精度的方法及装置

    公开(公告)号:CN106385258A

    公开(公告)日:2017-02-08

    申请号:CN201610853077.2

    申请日:2016-09-26

    IPC分类号: H03M1/50 H03M1/06

    摘要: 本发明涉及提高单片机的模数转换精度的方法及装置。该方法包括:判断是否由单片机的内部原因造成所述单片机的电源电压波动;在由所述单片机的内部原因造成所述单片机的电源电压波动的情况下,配置所述单片机的PWM模块相应的寄存器以及所述单片机的模数转换器相应的寄存器,以使所述PWM模块的输出频率等于所述模数转换器的时钟频率的整数倍。通过配置单片机的寄存器,使单片机的PWM模块的输出频率等于单片机的模数转换器的时钟频率的整数倍,根据本发明的提高单片机的模数转换精度的方法及装置能够在不增加硬件的前提下,保证单片机的模数转换精度不受电源电压波动的影响。

    一次性可编程微控制器芯片的测试电路及测试方法

    公开(公告)号:CN105988074A

    公开(公告)日:2016-10-05

    申请号:CN201510075394.1

    申请日:2015-02-12

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明公开一种基于一次性可编程微控制器芯片的测试电路,包括:一解锁单元,该解锁单元接收一电平信号以及一串行数据信号,当该电平信号以及该串行数据信号满足一特定时序时,该解锁单元发送一解锁信号;一译码单元,该译码单元与该解锁单元连接,该译码单元接收到该解锁信号后接收该串行数据信号和一串行时钟信号并生成一测试信号和测试时钟信号;一测试单元,该测试单元与该译码单元连接,该测试单元在接收到该测试信号后接收该串行数据信号和该测试时钟信号,该测试单元将该串行数据信号中的测试数据发送至一处理器,并将该测试时钟信号作为该处理器的时钟信号。