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公开(公告)号：CN110024020B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN201780072346.4
申请日：2017-11-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G09G3/32
Abstract: 提供了一种显示装置、校准装置及其校准方法。所述显示装置包括：显示器，包括显示模块；存储设备，被配置为存储所述显示模块中的每一个中包括的发光像素中的每一个的校正系数；以及处理器，被配置为将所述发光像素中的每一个的校正系数分别应用于所述发光像素中的每一个的像素值，以校正所述发光像素中的每一个的像素值。基于用于像素之间的均匀性的第一目标值来确定发光像素中的每一个的校正系数，并且基于所述显示模块的一个或多个代表性像素值来确定所述第一目标值。
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公开(公告)号：CN107689206B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN201710235839.7
申请日：2017-04-12
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种显示设备及其控制方法。所述显示设备包括：显示器，被配置为包括多个显示模块，存储器，被配置为存储与构成多个显示模块中的每一个的发光像素相应的第一亮度校正系数和与发光像素之中的邻近于接缝区域的至少一个目标像素相应的第二亮度校正系数，以及处理器，被配置为将第二亮度校正系数应用于目标像素，将第一亮度校正系数应用于剩余像素，并驱动显示器，其中，第二亮度校正系数可以是基于用于补偿接缝区域的目标像素值而计算出的亮度校正系数。
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公开(公告)号：CN106604018B
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN201610577107.1
申请日：2016-07-20
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04N13/302 , H04N13/31
Abstract: 提供一种3D显示设备及其控制方法。所述3D显示设备包括：显示面板；视区分离器，布置在显示面板的前面并且被配置为向观看区域提供具有不同视点的多个光学视图；处理器，被配置为基于输入图像的深度来渲染具有不同视点的多个图像视图，并通过按照排列图案在显示面板上排列所述多个图像视图来提供多视点图像。处理器还被配置为基于排列图案确定在具有不同视点的所述多个图像视图之间发生的估计串扰，通过根据估计串扰执行串扰逆补偿来校正所述多个图像视图，并基于串扰逆补偿来提供多视点图像。
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公开(公告)号：CN111492486A
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201880081547.5
申请日：2018-12-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种显示装置包括：蓝色发光元件，被配置为发射蓝色；红色发光元件，被配置为发射红光；以及绿色发光元件，被配置为发射绿光。所述蓝色发光元件可以包括：第一发光二极管，被配置为发射在比蓝色波长短的波长处具有最大强度的光；以及蓝色滤光器，被配置为透射具有蓝色波长的光。
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公开(公告)号：CN109426698A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201810999604.X
申请日：2018-08-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F17/50
Abstract: 提供了一种良率预测装置。良率预测装置可以包括耦接到至少一个非暂时性计算机可读介质的至少一个处理器。所述至少一个处理器可以被配置为：接收与半导体器件的工作特性相关联的第一变量；对半导体器件的工作特性执行模拟；使用模拟结果执行神经网络回归分析，以确定针对第一变量的第一函数；以及基于高级蒙特卡罗模拟来预测半导体集成电路的良率。高级蒙特卡罗模拟的输入可以包括所确定的第一函数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104836998A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510063956.0
申请日：2015-02-06
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H04N13/359 , H04N13/302 , H04N13/366 , H04N13/398 , H04N2213/006
Abstract: 提供一种显示设备及其控制方法。一种多视图图像显示设备包括：显示器，被配置为将显示器的操作模式在三维(3D)模式和二维(2D)模式之间切换，并在三维模式下提供多视图图像；检测器，被配置为检测观看者的观看位置和观看姿势中的至少一个；控制器，被配置为响应于观看者的观看位置和观看姿势中的至少一个满足预设标准，控制显示器将显示器的操作模式从三维模式切换到二维模式并提供二维图像。
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公开(公告)号：CN101599306B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN200910145467.4
申请日：2009-06-01
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种场安装型测试装置和方法，所述装置和方法可以通过模拟包括安装环境的各种测试条件来增强产品的竞争力，从而提高存储器装置的品质可靠性，并通过使由于改变安装环境导致的整体损失最小化来减少测试时间并降低测试成本。根据示例实施例，场安装型测试装置可以包括：捕获系统，被构造为从由外部装置产生的信号中捕获信号数据，并被构造为将捕获的信号数据转换为测试逻辑数据；模式数据中心，被构造为存储测试逻辑数据；测试器主结构，被构造为利用存储在模式数据中心中的测试逻辑数据来测试被测装置(DUT)。
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公开(公告)号：CN104469341A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410213227.4
申请日：2014-05-20
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H04N13/302 , H04N13/349 , H04N13/351 , H04N13/359 , H04N13/376
Abstract: 提供了一种显示装置及其控制方法。提供了一种多视点图像显示装置。该显示装置包括：跟踪器，被构造为根据用户移动位置跟踪用户的脸部的位置；显示器，被构造为提供多视图，并且选择并提供该多视图的第一目标视图和第二目标视图作为用户的左眼图像和右眼图像；以及控制器，被构造为基于被跟踪的用户的脸部的位置，移动所述多视图的位置，并提供移动的多视图，以使得第一目标视图和第二目标视图被提供为用户的左眼图像和右眼图像。
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公开(公告)号：CN119720914A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411239261.9
申请日：2024-09-05
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F30/392 , G06F30/398 , G06N3/0464 , G06N3/084
Abstract: 提供一种预测半导体布局内的潜在缺陷诱发因素的计算设备。所述计算设备包括：机器学习模块，其计算对应于在基于多个半导体布局图像及对应实际测量数据经训练之后的所述多个半导体布局图像当中的至少一个第一半导体布局图像的预测测量数据，及图像解释模块，其基于利用积分梯度IG方式的图像回归模型而产生所述预测测量数据的属性地图图像，预先分析所述属性地图图像并检测所述属性地图图像内具有对所述预测测量数据具有高敏感度的属性值的元素作为潜在缺陷诱发因素。
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公开(公告)号：CN111103529B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN201910588959.4
申请日：2019-07-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01R31/311
Abstract: 提供了用于测试布线电路的设备和方法。所述设备包括：电路基底，具有在电路基底中的布线和在电路基底的上表面上并连接到布线的垫；电极，位于电路基底的下表面下方；光学传感器，位于电路基底的上表面上方，并且被构造成检测从电路基底的上表面发射的信号；以及光学单元，位于光学传感器上方并且被构造成照射光，其中，光学传感器包括：光学基底，其光学特性通过从电路基底的上表面发射的信号而改变；以及图案化反射层，位于光学基底的面对电路基底的表面上，图案化反射层具有反射入射在光学基底上的光的第一区域和透射入射在光学基底上的光的第二区域。
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