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公开(公告)号：CN114641629A
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202080075903.X
申请日：2020-11-19
申请人： 三星电子株式会社
摘要： 提供了一种行星齿轮传动装置。一种行星齿轮传动装置包括：行星齿轮装置，包括太阳齿轮、齿圈、多个行星齿轮和行星架；电机，用于产生输入到行星齿轮装置的旋转力并包括电机轴和电机主体；固定支架，形成为固定行星齿轮装置的太阳齿轮、齿圈或行星架中的任一个以防止旋转；和循环旋转支架，设置有电机并固定到行星齿轮装置的部件中未被固定支架固定的一个部件，其中，当行星齿轮装置的部件中连接电机轴的一个部件通过电机轴旋转时，电机主体通过循环旋转支架旋转，并且电机轴的旋转力通过循环旋转支架输出。
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公开(公告)号：CN101727981B
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN200910204682.7
申请日：2009-10-10
申请人： 三星电子株式会社
IPC分类号： G11C16/02
CPC分类号： G11C16/16
摘要： 非易失性存储器设备包括在擦除非易失性(例如，快闪)存储器单元块的操作期间支持存储器单元的恢复。非易失性存储器系统包括快闪存储器设备以及电耦接到快闪存储器设备的存储器控制器。存储器控制器被配置为，通过将第一指令发布到快闪存储器设备、接着将第二指令发布到快闪存储器设备来控制快闪存储器设备内的存储器单元的恢复操作，将第一指令发布到快闪存储器设备导致存储器块中的擦除的存储器单元变为至少部分地编程的存储器单元，将第二指令发布到快闪存储器设备导致至少部分地编程的存储器单元变为全部地被擦除。
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公开(公告)号：CN103226975A
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201310031305.4
申请日：2013-01-28
申请人： 三星电子株式会社
CPC分类号： G11C11/5635 , G11C16/14 , G11C29/82
摘要： 公开了一种存储设备、存储系统、块管理方法、编程和擦除方法。在一个实施例中，一种方法包括覆写存储m位数据的存储单元以存储n位数据，其中n小于或等于m。当存储m位数据时存储单元具有第一多个编程状态中的一个，而当存储n位数据时存储单元具有第二多个编程状态中的一个。第二多个编程状态包括不在第一多个编程状态中的至少一个编程状态。
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公开(公告)号：CN1756090B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200510069769.X
申请日：2005-03-24
CPC分类号： H03M13/118
摘要： 提供了一种信道编码装置和方法，其中奇偶校验比特部分被设置为错误比特，以及通过使用通信系统中接收机的信道解码装置对这些错误比特进行纠正来创建整个奇偶校验比特。在该信道编码装置中，为了通过将奇偶校验比特流添加到消息比特流来产生编码比特流，部分奇偶校验产生器产生部分奇偶校验比特流，作为使用该消息比特流的奇偶校验比特流的一部分，删除产生器产生具有差错值的比特流，作为该奇偶校验比特流的剩余部分，以及解码器通过使用奇偶校验检查矩阵对具有差错值的比特流进行纠正来计算所述奇偶校验比特流的值，该奇偶校验检查矩阵确定该奇偶校验比特流、消息比特流和部分奇偶校验比特流。
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公开(公告)号：CN1697359A
公开(公告)日：2005-11-16
申请号：CN200510074172.4
申请日：2005-04-22
申请人： 三星电子株式会社
CPC分类号： H03M13/116 , H03M13/31 , H03M13/6362
摘要： 本发明提供一种用于发送/接收由低密度奇偶校验矩阵码编码的数据的系统、装置和方法。该用于发送由低密度奇偶校验码编码的数据的装置包括：低密度奇偶校验编码器，用于基于低密度奇偶校验码来编码输入数据；和位删截器，用于根据输出数据的码率在低密度奇偶校验码中以由删截引起的最小地降低性能的列的次序删截列。因此，可以在支持多种码率的下一代移动通信系统中实施该具有优越性能的低密度奇偶校验码。
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公开(公告)号：CN1353521A
公开(公告)日：2002-06-12
申请号：CN01125828.4
申请日：2001-08-29
申请人： 三星电子株式会社
CPC分类号： H03M13/09
摘要： 一种在发送方发送排序校验位所产生的CRC码的情况下,用于在接收方检测所收到的CRC码中是否出现任何发送错误的装置,其中校验位使用发生多项式产生并按逆序附加在消息位后。该装置包括用于将消息位除以校验位发生多项式从而形成余数的除法装置、用于按位比较余数位与逆序校验位的比较装置和根据比较装置的结果判断CRC码中是否出现发送错误的判定装置。根据本发明,CRC码包括与传统正序排列不同的逆序排列的校验位时,接收的CRC码中的发送错误能被有效地检测。
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公开(公告)号：CN111103529B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN201910588959.4
申请日：2019-07-02
申请人： 三星电子株式会社
IPC分类号： G01R31/311
摘要： 提供了用于测试布线电路的设备和方法。所述设备包括：电路基底，具有在电路基底中的布线和在电路基底的上表面上并连接到布线的垫；电极，位于电路基底的下表面下方；光学传感器，位于电路基底的上表面上方，并且被构造成检测从电路基底的上表面发射的信号；以及光学单元，位于光学传感器上方并且被构造成照射光，其中，光学传感器包括：光学基底，其光学特性通过从电路基底的上表面发射的信号而改变；以及图案化反射层，位于光学基底的面对电路基底的表面上，图案化反射层具有反射入射在光学基底上的光的第一区域和透射入射在光学基底上的光的第二区域。
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公开(公告)号：CN111220904A
公开(公告)日：2020-06-02
申请号：CN201911092231.9
申请日：2019-11-08
申请人： 三星电子株式会社
IPC分类号： G01R31/309 , G01N21/956 , G02B27/28
摘要： 提供了测试互连基板的方法和用于执行该方法的装置。在测试互连基板的方法中，可以设置从具有本征光学特性的探头反射的参考光的阻挡条件。从具有多个电路的测试互连基板发射的电场可以使探头的本征光学特性改变为测试光学特性。可以使光照射到具有测试光学特性的探头上。可以根据阻挡条件，阻挡从具有测试光学特性的探头反射的参考光。可以检测可能由于异常电路产生的剩余的反射光。
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公开(公告)号：CN111103529A
公开(公告)日：2020-05-05
申请号：CN201910588959.4
申请日：2019-07-02
申请人： 三星电子株式会社
IPC分类号： G01R31/311
摘要： 提供了用于测试布线电路的设备和方法。所述设备包括：电路基底，具有在电路基底中的布线和在电路基底的上表面上并连接到布线的垫；电极，位于电路基底的下表面下方；光学传感器，位于电路基底的上表面上方，并且被构造成检测从电路基底的上表面发射的信号；以及光学单元，位于光学传感器上方并且被构造成照射光，其中，光学传感器包括：光学基底，其光学特性通过从电路基底的上表面发射的信号而改变；以及图案化反射层，位于光学基底的面对电路基底的表面上，图案化反射层具有反射入射在光学基底上的光的第一区域和透射入射在光学基底上的光的第二区域。
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