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公开(公告)号：CN102262996A
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：CN201110145305.8
申请日：2011-05-31
申请人： 北京工业大学
CPC分类号： H01J37/20 , G01N3/08 , G01N23/04 , G01N2203/0286 , G01N2223/307 , H01J37/26 , H01J2237/20207 , H01J2237/206 , H01J2237/2062
摘要： 透射电镜用双轴倾转的原位力、电性能综合测试样品杆属于透射电子显微镜配件及纳米材料原位测量研究领域。本发明包括自设计透射电镜样品杆，力电性能传感器，压片，样品头前端，传感器载台；力电性能传感器通过压片固定在样品杆前端上的传感器载台上，传感器载台通过位于两侧的转轴与样品杆前端连接并且可以绕这两个转轴在垂直于样品杆前端的平面内旋转(即绕着Y轴旋转，±30°)；力电性能传感器上的电极通过压片连接到位于样品杆前端两侧的电极上，经样品杆内的导线连接到外部测试设备上实现力电信号的面内加载(传感器平面内)及反馈的实时监测。本发明可将研究样品倾转到低指数正带轴下实现原位原子尺度观察的同时获得力、电综合性能参数。
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公开(公告)号：CN101582366B
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910086803.2
申请日：2009-06-05
申请人： 北京工业大学
摘要： 本发明涉及一种透射电镜用非磁性双金属片驱动器，包括非磁性单金属片、非磁性双金属片和导热金属框三部分，其特征在于：由线膨胀系数小的非磁性金属片和线膨胀系数大的非磁性金属片组成的非磁性的双金属片，固定在金属导热框的上方，非磁性单金属片位于两个非磁性双金属片之间，纳米材料位于非磁性的双金属片上方，置入透射电镜加热后，非磁性双金属片产生变形，驱动纳米材料变形。本发明排除了一般双金属片的磁性对透射电镜内纳米材料成像的影响，能方便快捷地得到纳米材料原子尺度的信息。
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公开(公告)号：CN101419150B
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200810239234.6
申请日：2008-12-05
申请人： 北京工业大学
摘要： 低维材料应力状态下性能测试装置属于低维纳米材料应力状态下综合性能测试领域，其特征在于包括底座和一端固定在底座上另一端为自由端的压电陶瓷。在底座上加装了一个三轴位移调节装置，用以调节软悬臂梁和硬悬臂梁在同一水平面内并且间距在2～50μm之间，利用精密激光定位系统可以获得在拉伸变形过程中软悬臂梁精确的变形量。从而测得施加在材料上的应力值，揭示材料所受应力与变形机制之间的关系，同时还可以从事材料在应力作用下的光学、电学性能的研究。本发明结构简单，价格低廉，性能可靠，可实现低维材料在受应力状态下电、光等综合性能的测试。
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公开(公告)号：CN101158629B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200710176364.5
申请日：2007-10-26
申请人： 北京工业大学
摘要： 扫描电镜电子背散射衍射原位拉伸装置及测量的方法属材料结构与性能原位测试领域。现有技术难用于原位微结构与性能一体化测试。该装置由底座，支撑和驱动部分，样品夹持部分及拉伸位移和载荷检测部分组成；支撑部分包括固定挡板I(4)和固定档版II(14)，底座(1)上依次设滑动挡板(13)，位移滑块(8)和应力滑块(7)；一对滑杆(3)固定在底座(1)上；驱动部分为直线电机位移驱动器(2)；样品夹持部分包括加载夹具(10)、固定夹具(6)；拉伸位移和载荷检测部分包括应力传感器(5)、与位移传感器(11)及计算机数据采集和处理系统。装置结构简单性能可靠，将材料力学性能和微观结构对应起来，便于发现优异力学性能及变形机制。
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公开(公告)号：CN100587459C
公开(公告)日：2010-02-03
申请号：CN200810056837.2
申请日：2008-01-25
申请人： 北京工业大学
摘要： 压电陶瓷片驱动的扫描电镜中纳米材料拉伸装置属于纳米材料原位测试领域。本发明包括底座(1)和带有两个凹槽的绝缘支撑座(2)，该两个凹槽分别固定两片金属片(3)一端，金属片两侧分别粘贴两片压电陶瓷片(4)，同时在每片金属片的另外一端分别固定两个样品台(5)，通过电极引线I(7)连接电源负极和电极引线II(8)连接正极，电极引线I(7)分别连接两片金属片(3)，电极引线II(8)分别连接4个压电陶瓷片(4)；两个样品台在同一水平面，之间的狭缝在2-50μm之间。该发明成本低，操作简便，可测量纳米材料在应力应变过程中的电荷输运特性，为纳米材料在微机电系统等领域提供可靠的数据。
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公开(公告)号：CN100520351C
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200610057989.5
申请日：2006-03-03
申请人： 北京工业大学
摘要： 本发明属纳米材料原位表征领域。现有纳米材料力学性能测试中性能测试和结构分析是分开进行的，且操作复杂等。本发明方法：纳米线放入有机溶剂中，超声波分散10-30分钟成悬浮液后滴在涂有60-120nm火棉胶支持膜的金属载网上，使纳米线附着在支持膜上；将金属载网固定在试样座上放入透射电镜中；测量纳米线的原始长度l0和直径d0，调整透射电镜的电子束加速电压为80KV至400KV，束流密度在1020至8×1030电子/平方厘米秒，使火棉胶支持膜发生变形；纳米线随之变形；实时原位记录纳米线的变形过程中结构变化；测量变形后纳米线长度l和直径d，用公式n＝l0/d0计算纳米线的长度和直径比，ε＝(l-l0)/l0计算纳米线的最大应变量。本发明成本低工艺简单，从纳米尺度及原子层次上揭示一维纳米线的力学性能。
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公开(公告)号：CN100511567C
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200710122092.0
申请日：2007-09-21
申请人： 北京工业大学
IPC分类号： H01J37/20 , H01J37/244 , G01N13/10
摘要： 一种纳米材料原位结构性能测试的透射电镜载片属于纳米材料性能原位检测领域。该载片包括中心金属片(1)、两个附耳(2)、狭缝(3)、扇形燕尾槽(4)、沿狭缝(3)对称分布的至少20个圆形栅孔(5)；分布于中心金属片(1)左右两侧且处于同一直径上的两个附耳(2)，包含附耳在内的整个金属片的直径在2.8-3mm之间；垂直于附耳(2)的直径、沿中心金属片(1)一侧开口的狭缝(3)，该狭缝(3)宽度为2-50μm，长为1.2-1.5mm；位于与狭缝(3)同一直径上且与狭缝(3)相对的、在中心金属片的另一侧开口的扇形燕尾槽(4)，扇形燕尾槽缺口半径为0.2-0.3mm，圆心角为30-45°。本发明结构简单，便于操作，可正带轴下实现对一维纳米材料的结构信息的把握，及的力学/电学综合性能测试。
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公开(公告)号：CN1995963A
公开(公告)日：2007-07-11
申请号：CN200610169839.3
申请日：2006-12-29
申请人： 北京工业大学
摘要： 一种扫描电镜中纳米线原位拉伸装置及方法，属于纳米材料力学性能原位测量领域。该发明通过控制加热器使双金属片发生弯曲变形，双金属片驱动滑块沿导轨向两侧直线运动，拉伸变形固定在样品台上面的纳米线，利用扫描电子显微镜原位实时记录纳米线在拉伸作用下弹塑性变形过程及断裂失效的方式，最大断裂应变量，将纳米线的力学性能与微观结构变化直接对应起来，从纳米尺度上揭示的纳米线的弹塑性变形机制、断裂失效的形式，脆韧转变机制等一维纳米线的力学性能。与现有技术相比，本发明具有结构简单，控制方便，应变速率可控等优点，可以方便地在扫描电子显微镜中工作，实现了纳米线力学性能的原位在线测量。
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公开(公告)号：CN1963985A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200610144031.X
申请日：2006-11-24
申请人： 北京工业大学
IPC分类号： H01J37/20
摘要： 一种热双金属片驱动的透射电子显微镜载网属纳米材料微区变形原位表征领域。现有透射电子显微镜原位纳米材料力学性能测试不能实现大角度倾转。载网包括支撑部分和驱动部分，支撑部分是金属环(1)，驱动部分是两个对称排列的不同线膨胀系数组成的热双金属片(2)且线膨胀系数大的金属片在内侧小的在外侧，热双金属片一端用压片(3)固定在金属环上，另一端搭到金属环上；或驱动部分包括热双金属片(2)和并行排列的金属丝(4)，热双金属片一端用压片(3)固定在金属环上，另一端搭到金属环上；金属丝两端均用压片固定在金属环上。本发明结构简单，可实现X，Y方向大角度倾转，原位拉伸变形的同时从最佳的晶带轴实现高分辨成像。
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公开(公告)号：CN113945599B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202111214492.0
申请日：2021-10-19
申请人： 北京工业大学
IPC分类号： G01N23/2251
摘要： 一种去除扫描电镜中非导电样品荷电效应的方法涉及扫描电镜领域。为了在不镀膜的条件下看到绝缘样品的真实形貌而又不会产生荷电效应，本专利提出一种消除扫描电镜下观察非导电样品的方法并提出扫描电镜下观察非导电样品的装置。利用该方法可以有效的消除部分样品表面的荷电效应，达到清晰成像的目的。本发明不但省去了复杂的镀膜工艺而且可以在扫描电镜下清楚地反映出绝缘样品形貌。
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