磁头滑块的检查方法以及检查装置

    公开(公告)号:CN101202051A

    公开(公告)日:2008-06-18

    申请号:CN200710199584.X

    申请日:2007-12-12

    IPC分类号: G11B5/455 G11B5/41 G01N21/88

    摘要: 本发明提供一种既能抑制对磁头滑块的影响,又能高效率地进行磁头滑块外观检查的方法。一种磁头滑块的检查方法,是在多个矩形形状的磁头滑块沿长形条的长度方向排列成一列的状态下检查磁头滑块的方法。该方法包括:支撑长形条的支撑步骤,从而在分别以长形条长度方向两侧的端面以外的磁头滑块四个面为起点向外侧延伸的四个法线矢量中,使从第一面延伸的第一法线矢量和从与第一面相邻的第二面延伸的第二法线矢量同时具有铅直方向上的分量;检查步骤,从而对被支撑的所述长形条中的磁头滑块,用第一检查单元光学地检查其所述第一面,同时用第二检查单元光学地检查其所述第二面。另外,本发明还提供一种磁头滑块的检查装置。

    磁头滑块的检查方法及检查装置

    公开(公告)号:CN101101757A

    公开(公告)日:2008-01-09

    申请号:CN200710126487.8

    申请日:2007-06-19

    发明人: 藤井隆司

    IPC分类号: G11B5/455 G01N21/88

    摘要: 本发明提供的磁头滑块检查方法是一种大致呈长方体形状的磁头滑块的检查方法,其包括如下步骤:将媒体相对面或成为媒体相对面的表面的第一表面之外的表面作为下表面而支撑所述磁头滑块,同时,将磁头滑块向上方移动,并停止在检查位置上的移动步骤(S2、S3);利用预先将光轴对准检查位置而设置的第一相机检查第一表面的同时,利用预先将光轴对准检查位置而设置的第二相机检查不同于第一表面也不同于下表面的所述磁头滑块的第二表面的检查步骤(S4)。通过本发明可以抑制对磁头滑块的影响的同时有效地进行磁头滑块的外观检查。

    用于研磨薄膜磁头的装置和方法

    公开(公告)号:CN1612217A

    公开(公告)日:2005-05-04

    申请号:CN200410088002.7

    申请日:2004-10-28

    IPC分类号: G11B5/187 G11B5/31 B24B19/26

    摘要: 本发明提供了一种研磨方法和装置,它增加了磁头滑动件制造处理的收获率,但是不会使得输出和不对称特征变差。根据本发明,一种用于研磨薄膜磁头的装置包括夹具块和研磨板。该夹具块包括第一夹具和第二夹具,该第一夹具保持要进行研磨的杆,该第二夹具保持用于分担负载的部件。该研磨板可相对于第一和第二夹具运动,并可与由第一夹具保持的杆的要研磨表面以及由第二夹具保持的负载分担部件接触,以便进行研磨。

    磁头保护膜、磁头、磁头折片组合及磁盘驱动器

    公开(公告)号:CN205810377U

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201620308544.9

    申请日:2016-04-13

    IPC分类号: G11B5/40 G11B5/31 G11B5/127

    摘要: 本实用新型公开了一种用于磁头的磁头保护膜,包括金属层、金属氧化物层、DLC层及氟化碳层,所述金属层层压于磁头或长形条上,所述金属氧化物层层压于所述金属层;其中,所述金属氧化物层与所述金属层为同一金属元素,所述DLC层层压于所述金属氧化物层,所述氟化碳层层压于所述DLC层。本实用新型实施例的磁头保护膜,能够获得高粘附性、高耐热性和低表面能,在磁头使用过程中能够有效保护磁头,防止周围环境对磁头的侵蚀影响。本实用新型还公开了设有所述磁头保护膜的磁头、设有所述磁头的折片组合和磁盘驱动器。

    用于形成磁头的长形条及晶圆

    公开(公告)号:CN205845513U

    公开(公告)日:2016-12-28

    申请号:CN201620766708.2

    申请日:2016-07-19

    IPC分类号: G11B5/33

    摘要: 本实用新型公开一种用于形成磁头的长形条及晶圆。所述长形条,包括一列磁头形成部,每一所述磁头形成部包括将从长形条上切割出来的磁头以及邻近所述磁头的切割部,所述磁头上设置有一行连接触点以及一第一电研磨导向触点,所述切割部上设有一第二电研磨导向触点,所述第一电研磨导向触点及所述第二电研磨导向触点分别用于在研磨过程中与一探针相接触,其中,所述第一电研磨导向触点及所述第二电研磨导向触点的外周形成有高于所述第一电研磨导向触点及所述第二电研磨导向触点的所在平面的导电结构。该导电结构可防止在研磨过程中探针从其上偏移,从而保证探针和电研磨导向触点之间接触稳定,进而确保有效、精确的电阻测量。