一种面壁材料3D微区燃料滞留无损定量分析方法

    公开(公告)号:CN107340285B

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN201710616095.3

    申请日:2017-07-26

    IPC分类号: G01N21/71 G01N27/62

    摘要: 本发明公开了一种面壁材料3D微区燃料滞留无损定量分析方法。首先,四维可移动样品加热模块对被测样品进行加热,温度在300K到1300K可控;其次,计算机通过FPGA时序控制解吸附激光器发出解吸附激光,依次经过激光扩束仪、激光能量调控系统、石英片、斩波器、激光高反射镜、抛物面反射镜照射在被测样品上;ICCD相机采集微区激光解吸附的XY分辨率;解吸附气体被铱灯丝发射出的70eV高能电子电离再经由四级质谱仪采集质谱信息,送入计算机;最后,计算机提取需定量的质谱峰的强度及展宽信息,并与计算机中使用权威计量机构标定的通导型玻璃漏孔分压方法得到的定量校准曲线对比分析,通过数据处理,得到微区燃料滞留的定量分析结果。

    一种EAST托卡马克装置偏滤器表面杂质元素的分析系统及分析方法

    公开(公告)号:CN115753715A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211460405.4

    申请日:2022-11-17

    IPC分类号: G01N21/64 G01N21/01 G01N21/84

    摘要: 一种EAST托卡马克装置偏滤器表面杂质元素的分析系统及分析方法,激光光谱分析技术领域。该分析系统及分析通过激光器发射合适能量的激光脉冲,经聚焦后对偏滤器表面杂质沉积进行蒸发、电离、形成激光诱导等离子体,通过中阶梯光谱仪记录杂质层激光诱导等离子体发射光谱信号,并通过物理模型分析出杂质层中各元素含量;同时,激光诱导击穿光谱分析过程中,联合激光诱导荧光光谱技术对等离子体中痕量钨杂质进行荧光光谱分析,实现对痕量钨杂质的高灵敏度定量化分析。本发明能够在EAST托卡马克装置运行中实现原位、在线、远程遥控条件下的偏滤器表面元素快速的精确分析,并且可以对感兴趣的各种元素进行三维分析成像。

    改进飞行时间质谱测量激光烧蚀离子物种的质谱分辨装置

    公开(公告)号:CN110176386B

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN201910504585.3

    申请日:2019-06-12

    IPC分类号: H01J49/24 H01J49/40 G01N27/62

    摘要: 本发明涉及质谱分析技术领域,提供一种改进飞行时间质谱测量激光烧蚀离子物种的质谱分辨装置,包括:真空系统单元、等离子体产生单元和粒子约束选择及分离单元,其中:所述粒子约束选择及分离单元包括:粒子限制选择器和多个离子脉冲加速电极板;所述粒子限制选择器包括约束器托举块、约束器和约束器选择挡片;所述约束器托举块中开设一个通孔;所述约束器选择挡片上设置不同孔径的多个圆孔,所述约束器和约束器选择挡片设置在约束器托举块中并且可以移动;所述离子脉冲加速电极板设置在粒子前进方向上,并与约束器托举块轴向平行。本发明能够提高飞行时间质谱分辨率,能够选择控制引入等离子体的范围,具有更好的实用性效果。

    基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测装置

    公开(公告)号:CN110208240A

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201910274711.0

    申请日:2019-04-08

    IPC分类号: G01N21/65 G01J3/44 G01J3/02

    摘要: 本发明涉及光谱检测技术领域,提供一种基于时间域和频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测装置,包括:散射光激发与收集单元、频域降噪单元、时序控制单元和信号检测单元;散射光激发与收集单元包括激光器、第一反射镜、第二反射镜、第一直角棱镜、第一消色差透镜、样品池、第二直角棱镜和光束转储器;频域降噪单元包括:第二消色差透镜、偏振片和陷波滤波片;第一消色差透镜收集后的平行散射光束穿过所述第二消色差透镜进行聚焦;第二消色差透镜聚焦后的散射光束依次穿过所述偏振片和所述陷波滤波片。本发明分别从时间域和频率域压制杂散光,得到同时具有斯托克斯光谱线和反斯托克斯光谱线的高信噪比太赫兹拉曼光谱。

    一种托卡马克壁材料侵蚀与再沉积的测量装置

    公开(公告)号:CN105203501B

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201510583398.0

    申请日:2015-09-14

    IPC分类号: G01N21/45 G01B11/16 G01B11/02

    摘要: 本发明涉及核聚变与光学诊断技术领域,提供一种托卡马克壁材料侵蚀与再沉积的测量装置,包括:激光入射单元、干涉单元、相移单元、图像采集单元以及时序控制单元;所述激光入射单元包括第一激光器、第二激光器、透反镜、第一孔阑、空间滤波器和凸透镜;所述干涉单元包括依次设置的分束镜和反射镜;所述相移单元包括依次设置的压电陶瓷和压电陶瓷控制箱;所述图像采集单元包括工业相机;所述时序控制单元包括数据采集控制箱。本发明能够实现对托卡马克壁材料侵蚀与再沉积的在线、无损、高精度、高灵敏度、三维及定量监测。

    直流级联弧等离子体炬清洗托卡马克第一镜的装置

    公开(公告)号:CN104772305B

    公开(公告)日:2017-12-26

    申请号:CN201510185627.3

    申请日:2015-04-20

    IPC分类号: B08B7/00

    摘要: 本发明提供一种直流级联弧等离子体炬清洗托卡马克第一镜的装置,包括级联弧等离子体炬发生系统、冷却水供给系统、支撑系统和反射率检测系统,所述级联弧等离子体炬发生系统包括真空腔室、级联源、直流电源、真空单元、供气单元和冷却单元,所述级联源设置在真空腔室的一端,所述直流电源与级联源电连,所述供气单元与级联源通过管路连接,所述真空单元与真空腔室连接,所述冷却单元设置在级联源内。本发明直流级联弧等离子体炬清洗托卡马克第一镜的装置结构简单、合理、紧凑,该装置基于直流级联弧等离子体炬技术,能够在不引入杂质的前提下,实现对第一镜样品表面杂质沉积层的大面积均匀清洗,快速去除杂质沉积层。

    一种托卡马克壁材料侵蚀与再沉积的测量装置

    公开(公告)号:CN105203501A

    公开(公告)日:2015-12-30

    申请号:CN201510583398.0

    申请日:2015-09-14

    IPC分类号: G01N21/45 G01B11/16 G01B11/02

    摘要: 本发明涉及核聚变与光学诊断技术领域,提供一种托卡马克壁材料侵蚀与再沉积的测量装置,包括:激光入射单元、干涉单元、相移单元、图像采集单元以及时序控制单元;所述激光入射单元包括第一激光器、第二激光器、透反镜、第一孔阑、空间滤波器和凸透镜;所述干涉单元包括依次设置的分束镜和反射镜;所述相移单元包括依次设置的压电陶瓷和压电陶瓷控制箱;所述图像采集单元包括工业相机;所述时序控制单元包括数据采集控制箱。本发明能够实现对托卡马克壁材料侵蚀与再沉积的在线、无损、高精度、高灵敏度、三维及定量监测。

    一种实现大面积均匀介质阻挡放电的装置和方法

    公开(公告)号:CN104853513A

    公开(公告)日:2015-08-19

    申请号:CN201510253935.5

    申请日:2015-05-19

    IPC分类号: H05H1/24

    摘要: 一种实现大面积均匀介质阻挡放电的装置和方法,属于新材料合成、表面工程和高电压放电领域。其特征涉及实现大面积均匀介质阻挡放电的装置和相应方法,涉及电极的放电间隙气流流速、专用于产生介质阻挡放电的放电间距,和产生介质阻挡放电的谐振电源谐振频率或脉冲电源的脉冲频率的参数。实现大面积均匀介质阻挡放电的过程中气流的流速、放电间隙的距离以及谐振电源的频率之间的关系符合优化关系,相应的放电装置上安装与上述技术条件相匹配的部件。本发明的效果经济性好,通用性强,操作简单,容易实现大面积均匀介质阻挡放电。克服了现有介质阻挡放电实现大规模均匀性的效率低,设备昂贵,操作复杂等缺点。

    一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法

    公开(公告)号:CN103105376B

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201310027896.8

    申请日:2013-01-25

    IPC分类号: G01N21/3586 G01N21/94

    摘要: 本发明涉及光学诊断领域,公开了一种原位分析聚变装置第一镜表面杂质的方法,首先测量并记录原始第一镜的太赫兹时域波谱,然后测量磁约束聚变装置运行一段时间后载有杂质灰尘的第一镜表面反射太赫兹时域波谱;将两者在有效频域内分别进行傅里叶变换,并进一步得到聚变装置运行过后沉积在第一镜表面灰尘杂质层的相对反射率谱,将其与计算机数据库中所有物质的太赫兹吸收峰相比较;如果数据库中某种物质的特征吸收峰重合,就证明第一境表面杂质灰尘中含有该物质。本发明是一种无损检测方法,可以有效地检测沉积杂质的物理化学信息;由于太赫兹波在聚等离子体及真空腔室内传播过程损耗极小,可以实现远距离原位在线诊断,信噪比较高,稳定性好;依据本发明,可以开发出小型,高效,直观的第一镜表面检测设备。

    一种测量材料耐烧蚀特性的方法

    公开(公告)号:CN103149112B

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201310115263.2

    申请日:2013-04-03

    IPC分类号: G01N5/02 G01N21/63 G01B7/06

    摘要: 本发明涉及核聚变领域,公开了一种测量材料耐烧蚀特性的方法,本方法将激光诱导击穿光谱LIBS和石英晶体微天平QCM相结合,LIBS诊断烧蚀出物种的种类以及各物种百分比,QCM推算出总烧蚀量,再将二者的测量结果相结合,得出各成分的烧蚀率。本发明将LIBS和QCM相结合,弥补了LIBS定量分析比较困难,QCM不能进行物质分辨的不足,用LIBS诊断烧蚀出物种的种类以及各物种百分比,用QCM推算出总烧蚀量;再将LIBS和QCM二者的测量结果相结合,得出各成分的烧蚀率,为评估已使用的和寻找更适合托卡马克稳定运行的第一壁材料提供一种可行的检测手段。