用于探测焊接连接的探测系统

    公开(公告)号:CN105308442A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201480033328.1

    申请日:2014-05-26

    Abstract: 本发明涉及一种用于探测尤其集成电路的电子部件(10)的焊接连接(16、17)的探测系统(1)。部件具有方体状的壳体。探测系统具有探测装置(2),探测装置带有用于电磁射线的发射器(5)和用于电磁射线的探测器(6)。该探测装置构造成利用发射器产生电磁射线(18、19)且将电磁射线发送到部件上。探测器布置且构造成探测由部件反射的电磁射线(18’、19’)且产生代表经反射的射线(18’、19’)的图像数据组。探测装置构造成由图像数据组产生代表部件的边缘的至少一个边缘数据组,且在图像数据组的边缘数据组、尤其代表边缘的图像区域的范围中确定图像数据组的代表焊点的至少一部分,且依赖于图像数据组的该部分的强度值、尤其亮度值或灰度值产生和输出代表焊点质量的质量信号。

    MEMS光学传感器
    46.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104603592A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201380030307.X

    申请日:2013-06-06

    Abstract: 本发明涉及一种利用波导的有效折射率调制和对反射光的波长移位的检测的全光学传感器,以及一种容纳所述光学传感器的力感测系统。本发明的一个实施方案涉及一种传感器系统,所述传感器系统包括:至少一个多模光源;一个或多个光学传感器,其包括容纳分布式布拉格反射器的多模传感器光学波导;至少一个发射光学波导,其用于将来自所述至少一个光源的光引导到所述一个或多个多模传感器光学波导;检测器,其用于测量在所述一个或多个多模传感器光学波导中从所述布拉格反射器反射的光;以及数据处理器,其适于分析所述反射光的至少一个高阶模的布拉格波长的变化。

    表面增强拉曼散射元件
    47.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104520695A

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201380042449.8

    申请日:2013-08-09

    CPC classification number: G01N21/658 B82Y40/00 G01N2201/061

    Abstract: 表面增强拉曼散射元件具备:基板,具有主面;成形层,具有以沿着基板的主面延伸的方式被形成于主面上的支撑部以及被形成于支撑部上的细微结构部;导电体层,被形成于细微结构部上并且构成使表面增强拉曼散射产生的光学功能部;与基板的主面交叉的方向上的成形层的厚度以相较于成形层上的形成有细微结构部的细微结构区域的外缘部分,在细微结构区域的中央部分相对变薄的方式形成。

    迅速地接收液体吸收频谱用的装置和方法

    公开(公告)号:CN104412080A

    公开(公告)日:2015-03-11

    申请号:CN201380018730.8

    申请日:2013-04-04

    Abstract: 本发明涉及接收液体吸收频谱用的装置,带有第一射线源(1),它沿着第一光程(11)在第一频谱范围内发射射线;带有安排在第一光程(11)中的第一测量段(5),沿过该测量段射线射过该液体;带有安排在第一光程(11)中的可调节的Fabry-Perot干涉计(7),可以作为可移动带通滤波器在第一频谱范围内透射射线;并带有第一检测器(9;35),在第一频谱范围内测量该射线的强度。按照本发明规定,该装置具有第一校准器(3)用以对射线进行频谱调制,它安排在第一光程(11)上并在第一频谱范围内具有多个透射最大值(17),建立该Fabry-Perot(7)(干涉仪)是为了由Fabry-Perot干涉计(7)形成的带通滤波器可以这样地在第一频谱范围上移动,使得第一校准器(3)对射线的频谱调制可以作为射线强度的时间调制由第一检测器(9,35)测量。

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