一种检测设备及玻璃检测系统
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    发明公开

    公开(公告)号:CN118776820A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202410833011.1

    申请日:2024-06-25

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明属于车辆检测技术领域,尤其涉及一种检测设备及玻璃检测系统。检测设备包括:支撑结构,用于供玻璃放置;投屏结构,位于玻璃下方并包括用于向玻璃投射图像的投屏光机、连接投屏光机用于调节投屏光机沿竖直方向的高度的升降组件、用于驱动升降组件沿第一方向滑动的第一驱动组件以及用于驱动第一驱动组件沿第二方向滑动的第二驱动组件,第一方向与第二方向正交;以及视觉检测结构,用于拍摄位于玻璃上的图像,并分析拍摄的图像。本发明的投屏光机的位置能够发生改变,从而也可以使检测设备适配不同尺寸和形状的玻璃,提高了检测设备的应用范围,提高了检测的便利性。

    一种基于光电振荡器的激光信号相噪测量装置及方法

    公开(公告)号:CN118776689A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202411017555.7

    申请日:2024-07-26

    IPC分类号: G01J9/00 G01M11/02

    摘要: 本发明提供了一种基于光电振荡器的激光信号相噪测量装置,可以应用于光通信技术领域。该激光信号相噪测量装置包括:待测激光器用于输出激光信号;相位调制器用于将微波信号调制到激光信号上,输出相位调制光信号;光凹陷滤波器用于对相位调制光信号进行滤波,把相位调制的光信号转换为强度调制光信号;光电探测器用于对该强度调制的光信号进行探测,输出射频信号;射频功分器用于对射频信号进行功分,输出至少两个射频信号;射频相噪测量系统用于将至少两个射频信号中的一个射频信号进行相噪测量,获得待测激光相噪;至少两个射频信号中的一个射频信号通过相位调制器调制到激光信号上,输出相位调制光信号。本发明还提供了一种基于光电振荡器的激光信号相噪测量方法,可对待测激光器进行相噪测量。

    一种光束质量检测方法、装置、电子设备及介质

    公开(公告)号:CN118294115B

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202410422954.5

    申请日:2024-04-09

    IPC分类号: G01M11/02 G06T7/62

    摘要: 本发明涉及光学技术领域,尤其涉及一种光束质量检测方法、装置、电子设备及介质,包括根据重构模型获取到第一光斑直径集合和第二光斑直径,拟合得到初始轮廓曲线并获取到第二采集距离对应的预测光斑直径,根据第二光斑直径和预测光斑直径的比较结果更新第一光斑图像集合,直至获取到目标轮廓曲线,以得到待检测激光的质量等级,通过重构模型消除图像采集过程中干扰因素的影响,并基于拟合圆图像获取准确性更高的光斑直径,进一步通过预测光斑直径与对应的真实的光斑直径之间的比较结果,不断在第一光斑图像集合和第一采集距离集合中添加新的光斑图像和对应的采集距离信息,提高了目标轮廓曲线的准确性,从而提高了光束质量检测结果的准确性。

    一种基于LED车灯的亮度检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN116878654B

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202310918928.7

    申请日:2023-07-26

    发明人: 俞军

    摘要: 本发明公开了一种基于LED车灯的亮度检测设备及其检测方法,包括框架,所述框架的顶部设置有方形架,方形架的内壁设置有放置槽,框架的内壁穿设有承重板,承重板的顶部设置有支撑板,支撑板的内壁设置有感光元器件,支撑板的内壁设置有照度仪,放置槽的上下两侧对称设置有定位组件,定位组件的内壁设置有定位板。本发明通过安装有定位组件便于基于LED车灯的亮度检测设备对检测的LED车灯进行快速的固定,使用亮度检测设备对LED车灯的亮度进行检测时,将LED车灯放置在放置槽的内部后,使电磁铁工作产生磁力,磁力会吸动定位板的位置移动进入到放置槽的内部后可以对安放在放置槽内部的LED车灯进行固定,进而达到快速对不同尺寸LED车灯进行固定目的。

    一种调制传递函数的检测方法及检测装置

    公开(公告)号:CN114577444B

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202210207329.X

    申请日:2022-03-04

    发明人: 刘鹭 牛磊 崔萌

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明实施例公开了一种调制传递函数的检测方法及检测装置。该调制传递函数的检测方法包括:获取待测显示器的斜边图像参数;获取待测显示器的特征频率;根据特征频率确定滤波范围,并根据滤波范围对斜边图像参数进行低通滤波,得到滤波斜边图像参数;根据滤波斜边图像参数确定滤波斜边图像,并根据滤波斜边图像利用刃边法计算调制传递函数。本发明实施例的技术方案,根据特征频率确定滤波范围对斜边图像参数进行低通滤波后可以去除像素周期噪声,准确计算显示器的调制传递函数。

    一种光学镀膜元件透、反射率测试系统及方法

    公开(公告)号:CN118758903A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202411245508.8

    申请日:2024-09-06

    IPC分类号: G01N21/55 G01M11/02 G01N21/59

    摘要: 本发明公开了一种光学镀膜元件透、反射率测试系统及方法,涉及光学镀膜技术领域,包括获取光学镀膜元件信息,对光学膜进行光学测试,获取光学膜透过曲线,根据光学膜透过曲线,获取光学膜特征波长信息,基于光学膜特征波长信息,获取光学膜特征数据集。本发明通过光学镀膜折射差异系数,对透过曲线极值点进行筛选,获取透过曲线极值特征点信息,通过透过曲线极值特征点信息,选取出特定的透过曲线极值点,便于之后对光学镀膜元件进行测试,提高了测试效率,通过光学镀膜元件测试偏离系数确保了光学镀膜元件测试数据的可靠性和准确性,避免与光学镀膜元件实际状况差别过大,提高了光学镀膜元件的产品稳定性。

    一种面发射半导体激光器的综合测试方法及系统

    公开(公告)号:CN118758567A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202411246929.2

    申请日:2024-09-06

    发明人: 张星

    IPC分类号: G01M11/02 G01R31/26

    摘要: 本发明一般地涉及电子数字数据处理领域。更具体地,本发明涉及一种面发射半导体激光器的综合测试方法及系统,其中的方法包括:设定半导体激光器在不同温度下的测量次数;获得半导体激光器在不同温度对应的测量次数下的多组测量数据,并计算多组测量数据与标准数据之间的相似度之和;根据所述重要性对所述相似度之和进行加权计算,以得到半导体激光器的稳定系数;响应于所述稳定系数小于阈值,确定面发射半导体激光器不合格。本发明通过半导体激光器的光学性能以及电学性能在多个温度环境下的表现对半导体激光器稳定性进行评估。

    一种用于半导体激光器的检测装置及定位方法

    公开(公告)号:CN118758566A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202411245945.X

    申请日:2024-09-06

    发明人: 卢勇 黄竹 周聪

    摘要: 本发明涉及一种用于半导体激光器的检测装置及定位方法,属于激光器检测技术领域包括:基座和装夹壳,基座连接于测试平台,所述基座内连接有多个气嘴;装夹壳用于装夹激光发射端,所述气嘴吹出的气体作用于所述装夹壳的底面、顶面以及左右两侧面,所述装夹壳四个面受力后悬浮于所述基座内,所述装夹壳通过四个面气体压力变化进行位移调整其在所述基座内的位置;其能解决现有技术中激光器定位装置因为与激光器直接接触出现热变形导致定位精度保持性差的技术问题。

    光学镜头畸变测试系统以及测试方法

    公开(公告)号:CN114427955B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202111637936.1

    申请日:2021-12-29

    发明人: 董会

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本申请实施例公开了一种光学镜头畸变测试系统以及测试方法;其中,光学镜头畸变测试系统包括承载模组、相机模组以及控制模组;承载模组用于承载光学镜头;在承载模组位于第一位置的情况下,相机模组用于拍摄光学镜头的第一虚像,在第一位置时,光学镜头的光轴与相机模组中相机的光轴重合;在承载模组移动至第二位置和/或相机模组转动至第三位置的情况下,相机模组用于拍摄光学镜头的第二虚像;控制模组用于根据第一虚像获取基准值,基准值为第一虚像的光学中心点与预设定位点之间的距离;根据第二虚像和基准值获取光学镜头的畸变数值。本申请实施例提供的测试方案,能够测量光学镜头在不同视场角下畸变的差异,从而能够评估光学镜头的畸变情况。

    一种基于白光动态干涉的拼接镜共相检测方法

    公开(公告)号:CN118746422A

    公开(公告)日:2024-10-08

    申请号:CN202410974449.1

    申请日:2024-07-19

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种基于白光动态干涉的拼接镜共相检测方法,搭建白光泰曼‑格林动态干涉仪,使用精密电动位移台驱动参考镜对拼接镜进行扫描并记录各扫描位置四步移相干涉图,共相检测过程主要分为粗共相检测和精共相检测两个阶段,粗共相检测阶段通过消色差偏振移相方法获得不同扫描位置处对比度曲线,突破了干涉级次模糊对共相误差检测范围的限制;精共相检测阶段使用基于Zernike拟合分析的高精度拼接镜平移误差计算模型,以纳米级精度精确反馈共相误差。本发明在白光扫描干涉测量方法基础上进一步实现了消色散动态干涉测量,检测效率高,可实现大范围高精度检测,在拼接镜共相检测领域具有广阔应用前景。