一种电子结构拓扑分析的方法

    公开(公告)号:CN115862788B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202211703386.3

    申请日:2022-12-29

    Inventor: 姜小明 郭国聪

    Abstract: 本发明属于材料细分领域,一种电子结构拓扑分析的方法,包括:通过实验或理论计算获得一个单胞中的电子密度ρ(i,j,k)和波函数其中,i,j,k为三维空间中的位置坐标,m为波函数的序号,ρ和在一个单胞三个方向的取值点个数分别为nx,ny,nz;通过电子局域函数ELF(i,j,k),计算ELF(i,j,k)值;通过计算出分数维度FD,获取ELF‑FD曲线图,可以提取出电子结构,如电子密度、波函数的深层次的拓扑几何特征,用于分析材料电子结构与性能的关系和高性能材料的研究。

    一种X射线衍射多重散射校正方法
    64.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115963131A

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202211708146.2

    申请日:2022-12-29

    Inventor: 姜小明 郭国聪

    Abstract: 本发明属于材料分析领域,一种X射线衍射多重散射校正方法,包括:步骤一、根据晶体的对称特性,获取等效衍射点,等效衍射点为衍射强度I(h,k,l)的点的集合;步骤二、是否满足异常点的判断依据;如果满足,删除;否则,保留;步骤三、是否满足删除比率,如满足,删除;否则,保留;步骤四、剩余的没有异常点的数据集I校正(h,k,l)用于进行后续的精修,校正后的I校正(h,k,l)更利于电子结构精修的准确性。

    一种X射线单晶衍射实验的高角度衍射数据非高斯偏差的校正方法

    公开(公告)号:CN115963130A

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202211703390.X

    申请日:2022-12-29

    Inventor: 姜小明 郭国聪

    Abstract: 本发明属于材料细分领域,一种X射线单晶衍射实验的高角度衍射数据非高斯偏差的校正方法包括:对斑点坐标系K(h,k,l)的衍射斑点W进行强度分布的校正;校正后,一个强度弥散的衍射斑点W校正为强度集中的衍射斑点W';通过直接积分I总=∫f总(x,y)dxdy(其中,f(x,y)为斑点W在各坐标点位置点(x,y)的强度计算出总强度I总;通过高斯函数拟合出背景(其中a、c为拟合参数),并通过积分I背景=∫f背景(x,y)dxdy计算I背景;根据I信号=I总‑I背景计算出校正后的I信号,本发明通过将分散的衍射点强度分布的数据图校正成集中的衍射点强度分布,确保X射线单晶衍射实验数据的准确性,更利于确保后续参与电子结构精修的准确性。

    一种电子结构精修模型的新方法

    公开(公告)号:CN115938519A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211703421.1

    申请日:2022-12-29

    Inventor: 姜小明 郭国聪

    Abstract: 本发明属于材料细分领域,尤其是一种电子结构精修模型的新方法,步骤包括:建立参数价电子数Pi价和价电子收缩因子κi参数的电子密度模型,计算出每个衍射点的理论结构因子Fk理论(P);通过X射线单晶衍射实验,获得每个衍射点的实验强度,计算出实验结构因子;建立理论结构因子与实验结构因子的差值函数;采用最小二乘法计算出差值函数中的最小值,获得最优模型的参数价电子数Pi价和价电子收缩因子κi,通过本发明得到材料分析领域精修后的电子结构;后续依据该电子结构进行拓扑分析和材料设计更加精准。

    一种可视化CVT硫化物晶体生长装置与方法

    公开(公告)号:CN114574971A

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN202111591718.9

    申请日:2021-12-23

    Abstract: 本申请公开了一种适用于单斜相Ga2S3单晶的可视CVT晶体生长装置与方法,属于单晶生长技术领域。将含有Ga2S3多晶原料和ICl3的真空密闭容器在控温区内进行恒温加热;晶体生长结束后降温,得到所述单斜相Ga2S3单晶。生长装置中设计的观察视窗,可以实时观察晶体生长情况,并设定稳定的上升程序,使得晶体结晶界面始终处在恒定的温度点上,进而得到了能够符合实用要求的厘米级的高质量大尺寸单斜相Ga2S3单晶,尺寸约为Φ10×20mm。

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