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    显示基板的测试组件以及测试方法
    61.
    发明公开
    显示基板的测试组件以及测试方法 有权

    公开(公告)号：CN107180604A

    公开(公告)日：2017-09-19

    申请号：CN201710565256.0

    申请日：2017-07-12

    申请人： 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

    发明人： 吕晓文 ,  江博仁

    IPC分类号： G09G3/00

    CPC分类号： G09G3/006

    摘要： 本发明实施例提供显示基板的测试组件及测试方法，其中测试组件包括至少一个第一焊盘、多个第二焊盘、多个开关元件。每个开关元件的第二端分别连接不同的第二焊盘，至少一个第一焊盘连接至少两个开关元件的第一端，在显示基板进行光配向固化时，多个开关元件的控制端接收第一控制信号，第一端与第二端导通，至少一个第一焊盘与至少两个第二焊盘接通，第一焊盘接收第一信号并通过第二焊盘传输至显示基板；在显示基板进行阵列测试时，多个开关元件的控制端接收第二控制信号，第一端与第二端断开，多个第二焊盘分别接收第二信号并传输至显示基板。通过上述方式，本发明能够有效提升显示基板的空间利用率。

    校准器
    63.
    发明授权
    校准器 有权

    公开(公告)号：CN105075252B

    公开(公告)日：2017-09-05

    申请号：CN201380074856.7

    申请日：2013-08-16

    申请人： LG电子株式会社

    发明人： 李京源 ,  柳周爀 ,  权五官

    IPC分类号： H04N9/64

    CPC分类号： G09G3/006 ,  F16B47/00 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/506 ,  G06F3/04897 ,  G09G2320/0693 ,  G09G2360/145 ,  G09G2360/147

    摘要： 公开了一种被构造成对显示设备的屏幕的色彩进行校准的校准器，该校准器包括：由可变形材料形成的吸附板，该吸附板包括以真空吸附方法附装至所述显示设备的所述屏幕的底表面；控制部分，该控制部分被构造成使所述吸附板的第一部分从所述显示设备的所述屏幕离开而留出空间；固定部分，该固定部分被构造成将所述吸附板的第二部分紧密地挤压至所述显示设备的屏幕；旋转部分，该旋转部分被构造成在水平方向上以可旋转的方式联接至所述固定部分并且在其被旋转时使所述控制部分在所述显示设备的竖直方向上移动；以及电路单元，该电路单元安装在所述固定部分中以对所述显示设备的色彩进行校准，从而该校准器可以被固定在屏幕的精确位置中，并且能够精确地执行屏幕校准，并且该校准器能够甚至被附装至倾斜屏幕而广泛使用。

    阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及装置
    66.
    发明授权
    阵列检测可靠性判断方法、有机发光背板检测方法及装置 有权

    公开(公告)号：CN105096786B

    公开(公告)日：2017-08-29

    申请号：CN201510512980.8

    申请日：2015-08-19

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司

    发明人： 曹昆 ,  吴仲远

    IPC分类号： G09G3/00 ,  G09G3/3233 ,  H01L21/66

    CPC分类号： G09G3/006 ,  G09G3/3258 ,  G09G3/3266 ,  G09G2330/10

    摘要： 本发明提供一种有机发光背板的阵列检测可靠性判断方法，包括：S1、从已完成阵列检测的有机发光背板中抽取至少一个有机发光背板作为样本基板；S2、对样本基板的多个像素单元逐行扫描并提供数据电压信号；S3、检测像素电路层输出至每个阳极的电流；S4、将像素电路层输出至每个阳极的电流与预定电流对比，当二者不一致时，判定该像素单元为不良像素；S5、将每个像素单元的判定结果与阵列检测的检测结果对比，当二者一致时，判定阵列检测为可靠检测；当二者不一致时，判定阵列检测为不可靠检测。相应地，本发明还提供一种有机发光背板的检测方法及检测装置。本发明可以避免发光层的不良对阵列检测的可靠性判断时的干扰，更准确地进行可靠性判断。

    检测显示面板缺陷的方法及装置
    68.
    发明授权
    检测显示面板缺陷的方法及装置 失效

    公开(公告)号：CN104297622B

    公开(公告)日：2017-08-25

    申请号：CN201410601650.1

    申请日：2014-10-30

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  北京京东方光电科技有限公司

    发明人： 张郑欣 ,  徐帅 ,  马经山

    IPC分类号： G01R31/02

    CPC分类号： G09G3/006 ,  G01R1/0416 ,  G09G2330/10

    摘要： 本发明提供了一种检测显示面板缺陷的方法及装置，该方法包括：将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上；向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。本发明可以实现对显示面板中进行性缺陷或不良的有效检出和拦截。

    一种阵列基板及显示面板
    69.
    发明公开
    一种阵列基板及显示面板 有权

    公开(公告)号：CN107085333A

    公开(公告)日：2017-08-22

    申请号：CN201710546281.4

    申请日：2017-07-06

    申请人： 上海天马微电子有限公司

    发明人： 许作远 ,  朱桂熠

    IPC分类号： G02F1/1345 ,  G09G3/00

    CPC分类号： G02F1/13452 ,  G02F2001/13456 ,  G09G3/006

    摘要： 本发明提供一种阵列基板，具有显示区与围绕所述显示区的非显示区，所述显示区设置有栅极线与数据线，其中，还包括：扇出区，设置在所述非显示区；至少一条信号线，沿第一方向延展，所述第一方向由所述扇出区指向所述显示区；至少一个绑定端子，所述绑定端子用于绑定驱动电路；其中，所述绑定端子的第一端电连接所述信号线，所述绑定端子的第二端通过第一引线电连接测试端子；所述绑定端子之间设置有至少一条所述信号线或者至少一条所述第一引线；所述绑定端子之间区域的所述信号线或者所述第一引线上覆盖有一层覆盖电极，且所述覆盖电极与所述信号线或所述第一引线电绝缘。

    一种显示面板的测试电路及测试方法
    70.
    发明公开
    一种显示面板的测试电路及测试方法 有权

    公开(公告)号：CN107065313A

    公开(公告)日：2017-08-18

    申请号：CN201710470336.8

    申请日：2017-06-20

    申请人： 惠科股份有限公司 ,  重庆惠科金渝光电科技有限公司

    发明人： 陈猷仁

    IPC分类号： G02F1/1337 ,  G09G3/00

    CPC分类号： G02F1/133707 ,  G02F1/133711 ,  G09G3/006

    摘要： 本发明公开了一种显示面板的测试电路及测试方法，测试电路包括：多个开关单元；多条第一测试引线；多个第一测试垫；第二测试垫和第二测试引线；其中，每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫；且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接；每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接；所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接。本发明提供的显示面板的测试电路及测试方法，实现了在进行阵列测试时分别对每个显示面板进行测试，在进行液晶分子取向时同时对多个显示面板内形成预倾角。