一种激光清洗装置
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    发明授权

    公开(公告)号:CN112517545B

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202011210375.2

    申请日:2020-11-03

    IPC分类号: B08B7/00 B23K26/064 B23K26/08

    摘要: 本申请公开了一种激光清洗装置,包括基座、承载部、激光部和驱动部。承载部位于基座,承载部配置成承载待清洗物。激光部位于基座,激光部包括激光器、用于对激光器发射的激光进行处理以得到清洗光束的光学模组,光学模组包括在激光的主光路上依次设置的凸透镜和反射镜。驱动部位于基座,驱动部与承载部和/或激光部连接,驱动部配置成驱动承载部和/或激光部运动,使得清洗光束照射至待清洗物的表面形成清洗光斑,且所述清洗光斑在表面运动,且满足如下关系式:A+B=F,其中,A为凸透镜的光心和穿过光心的激光与反射镜的交点的距离,B为交点与清洗光斑的中心的距离,F为凸透镜的焦距。本申请的激光清洗装置提高了清洗效率,保证了清洗质量。

    用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置及方法

    公开(公告)号:CN109283392B

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN201810904681.2

    申请日:2018-08-09

    IPC分类号: G01R27/02

    摘要: 本发明提供了一种用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置及开槽方法,其中,该装置包括:箱体;支撑装置,与箱体相连接并承载待开槽试验芯棒;切割装置,设置于箱体内且与待开槽试验芯棒的预设位置对齐,以在预设位置处开槽;限位装置,与箱体相连接并抵压于待开槽试验芯棒的表面,以对待开槽试验芯棒进行限位。本发明中,在开槽前,通过将待开槽试验芯棒的预设位置与切割装置对齐且限位装置抵压于待开槽试验芯棒的表面,可精确地控制开槽位置;在开槽过程中,通过调整限位装置可控制开槽深度;通过这两方面,使开槽的位置及深度得到了保证,从而达到精确开槽的目的,为后续的试验检测数据的准确性提供了保障。

    用于绝缘子的芯棒体积电阻率测量设备

    公开(公告)号:CN109030952B

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN201810904665.3

    申请日:2018-08-09

    IPC分类号: G01R27/14

    摘要: 本发明提供了一种用于绝缘子的芯棒体积电阻率测量设备,该设备包括:温湿度调节箱,用于为待测芯棒提供温、湿度恒定的密封测试环境;设置于所述温湿度调节箱内壁上的滑动导轨;可滑动地设置于所述滑动导轨上的体积电阻率测试仪,用于夹设所述待测芯棒并对其进行体积电阻率的测量。本发明温湿度调节箱内的密封测试环境中对待测芯棒进行体积电阻率的测量,不仅可以确保温、湿度恒定的密封测试环境,以便避免环境变化影响测量精度,同时,在温湿度调节箱内测量可避免待测芯棒所在电路中漏电致使的安全隐患,且可避免外部人员接触可避免待测芯棒所在电路,进而进一步提高测量的安全性。