一种电子结构测试用单晶装样精细玻璃丝拉制装置

    公开(公告)号:CN221667645U

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202420021738.5

    申请日:2024-01-04

    Inventor: 姜小明 郭国聪

    Abstract: 本实用新型公开了一种电子结构测试用单晶装样精细玻璃丝拉制装置,包括:用于固定及加工玻璃丝的固定组件,所述固定组件包括用于加热玻璃丝的电阻丝,还包括置于电阻丝上方的固定块和置于电阻丝下方的加工台,所述玻璃丝的一端与固定块连接,所述玻璃丝的另一端穿过电阻丝到达加工台;装置通电工作时,电阻丝发热,对置于其内的玻璃丝加热,加工台带动玻璃丝的另一端向下移动至预设位置,加工台停止移动,电阻丝继续加热玻璃丝,直至玻璃丝被熔断。本实用新型具有设置灵活、操作方便、加工精度高的特点。

    一种电子结构测试用的防止低温结冰装置

    公开(公告)号:CN221506750U

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202323372688.X

    申请日:2023-12-12

    Inventor: 姜小明 郭国聪

    Abstract: 本实用新型公开了一种电子结构测试用的防止低温结冰装置,包括:用于向待测晶体供应冷却气体的气体管道,用于接收和显示待测晶体衍射测试结果的探测器,用于产生光源的X射线发生器,以及用于放置待测晶体的测角仪,所述气体管道为至少两层的套筒结构,内筒用于传输低温气体,外筒与空气管道连通,用于传输空气,所述空气管道内的空气为去除水分后的干燥空气。本实用新型具有防止被测晶体表面结冰、测试结果准确的特点。

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