一种获得半导体异质结与超晶格材料的方法及设备

    公开(公告)号:CN1024236C

    公开(公告)日:1994-04-13

    申请号:CN90105603.0

    申请日:1990-01-10

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及在半导体基质材料上获得原子级晶格材料的方法及专用生长设备。在一透明室内注入气相材料,并维持10-2托以下的真空条件,采用灯加热使气相材料反应在基底表面反应淀积,反应淀积温度在气相材料、热解温度或其它临界反应温度之上,重复上述过程可以获得多层同质或异质超晶格材料,最佳生长温度控制在气相材料热解温度或临界反应温度以上附近的温区。专用生长设备包括常规CVD设备、抽真空设备及灯加热设备、质量流量控制器,尤以计算机控制为佳。

    水质COD的光谱测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN104897598A

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201510328828.4

    申请日:2015-06-15

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了水质COD的光谱测量装置,流通池固定在遮光箱中,至少两面透光,光源固定在遮光箱内表面,探测器固定在光源垂直正下方的遮光箱内表面;第一、二样品池设置于遮光箱外,第一水管连通流通池和待测水样,第二水管连通流通池和第一样品池,第三水管连通流通池和第二样品池,第四水管连接流通池底部出水口和遮光箱外界,其上设有蠕动泵,第五水管连接流通池顶部和遮光箱外界,所述单片机用于控制所有装置。并公开了使用该装置来测量水质COD的光谱测量方法。本发明可以快速准确的测量水质COD,且可以循环自动在线测量,吸收光谱比一般方法中直接测量蒸馏水配制的硝酸盐溶液、阴离子表面活性剂光谱更加接近实际水样情况。

Patent Agency Ranking