公开(公告)号：CN105548855A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201510979563.4

申请日：2015-12-23

申请人： 陕西华经微电子股份有限公司

发明人： 寇玉娟 ,  张红娟 ,  段晓燕 ,  韩晴 ,  岳晴瑞 ,  王永生 ,  高思静

IPC分类号： G01R31/26

CPC分类号： G01R31/2601 ,  G01R31/2635

摘要： 本发明公开了一种LED厚膜陶瓷支架的测试装置及测试方法，包括IPC总控制部分、电源系统、机械控制面板、监视器、AD采集板、阵列探针卡和控制器。阵列探针卡的探针分别与对应待测支架的正负金属电极稳定接触，测试出正负金属电极间的电阻值经由阵列探针卡的端口传入控制器和AD采集卡，然后再由控制器和AD采集卡传入IPC总控制部分；IPC总控制部分将测试值与设定指标范围进行对比，处理后再传入控制器，再由控制器控制的监视器来显示测定电阻值是否位于设定的指标范围内，并且标识出不合格单元的具体位置以便LED光源封装时有效剔除不合格单元。本发明操作简单、便于数据收集、监测及追溯，阵列测试可有效提高检测效率，并提高LED光源封装过程的生产效率。

公开(公告)号：CN105247604A

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201480029034.1

申请日：2014-06-19

申请人： 普玛科国际公司

发明人： 皮埃尔-亨利·巴索尔思 ,  弗雷德里克·扎德奥

IPC分类号： G09G3/32 ,  G09G3/00

CPC分类号： G09G3/006 ,  G01R31/2635 ,  G09G3/32 ,  G09G2300/026 ,  G09G2380/06

摘要： 本发明涉及用于验证包括布置在多个子组件(2)中的多个发光二极管的显示面板(1)的操作的方法，其中对应于用于要求期望的照明的设定等级的安培数的电流被施加到每个发光二极管，其特征在于，该方法包括以下步骤：将预先确定的通用设置应用到每个发光二极管子组件(2)；测量由每个发光二极管子组件(2)所消耗的电流；确定由全部子组件(2)所消耗的电流的平均值；当在由所述子组件(2)所消耗的电流和所述平均值之间的偏差的绝对值超过预先确定的阈值时，触发子组件(2)的故障警报。

公开(公告)号：CN103364032B

公开(公告)日：2015-09-16

申请号：CN201310296013.3

申请日：2013-07-15

申请人： 中国科学院半导体研究所

发明人： 赵丽霞 ,  周子超 ,  杨华 ,  王军喜 ,  李晋闽

IPC分类号： G01D21/02 ,  G01R31/26

CPC分类号： G01R31/2635 ,  G01R31/2642

摘要： 本发明公开了一种半导体发光器件或模组在线多功能测试系统及方法，该系统包括电特性发生及测试装置、多个光特性探测及控制装置、光信号处理分析装置、多个热特性探测装置、中央监控及处理计算机、多通道驱动集成控制装置、多个加速多应力控制装置、多个LED器件模组负载装置。利用本发明，实现了在多应力加速老化环境下同时进行加速老化并原位在线监控测试的功能。

公开(公告)号：CN103716972B

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201310451250.2

申请日：2013-09-27

申请人： NXP股份有限公司

发明人： 帕斯卡尔·贝思肯 ,  菲特·恩古耶恩 ,  拉杜·苏尔代亚努

IPC分类号： H05B37/03

CPC分类号： H05B33/0884 ,  G01R31/2635 ,  H05B33/089 ,  H05B33/0893

摘要： 在此公开了一种利用参数检测串联连接的LED串中LED故障的方法，所述参数表示在预定的相对高的电流下所述串两端的电压与在预定相对低的电流下所述串两端的电压之间的电压差，其中在相对低的电流和相对高的电流等级下通过无故障LED的电流均由少数载流子扩散电流占主导地位，所述方法包括：在首次启动阶段期间确定所述参数的校准值；在存储器中存储所述校准值；在后续的测量阶段期间确定所述参数的后续值；以及响应于所述校准值与后续值之间的差异超过阈值，确定已经发生了LED故障。本公开扩展至配置用于检测LED串中LED故障的控制器、包括这种控制器的LED照明单元，以及包括一个或者多个这种LED照明单元的照明子系统，例如汽车照明子系统。

公开(公告)号：CN104701348A

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201410749505.8

申请日：2014-12-09

申请人： 乐金显示有限公司

发明人： 康任局 ,  尹圣埈 ,  郑宇喆

IPC分类号： H01L27/32

CPC分类号： G01R31/2635 ,  H01L27/3262 ,  H01L51/0554 ,  H01L2227/323

摘要： 本发明涉及一种有机发光二极管显示器以及有机发光二极管显示器的制造和检测方法，其可将由于在制造用薄膜晶体管作为控制元件的有机发光二极管显示器的工艺中导致的开口缺陷所造成的故障最小化。因此，通过相对于由于有机发光二极管显示器的基板上的台阶差而容易产生开口缺陷的区域来形成双栅极结构的上金属层从而进一步形成至少一个接触部，使得即使产生开口缺陷时仍能正常施加信号。

公开(公告)号：CN104603625A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201380045934.0

申请日：2013-07-15

申请人： 西姆弗泰克有限责任公司

发明人： 罗伯特·尼切 ,  维尔纳·贝克尔

IPC分类号： G01R31/26

CPC分类号： G01R31/2601 ,  G01R31/2635 ,  G01R31/2648

摘要： 一种用于检测包含在至少一个结构元件试样(1)中的至少一种材料的特性的检验装置(100)，该检验装置包括测量设备(10)，利用该测量设备能在结构元件试样(1)上检测电测量值；并且包括模拟与评价设备(20)，该模拟与评价设备被安置用于将如下的模拟函数匹配于电测量值，这些模拟函数包含作为参数的结构元件试样(1)的特征，其中，设置有输出设备(30)，该输出设备被安置用于从被匹配的模拟函数中输出材料特性，并且其中，另外设置有控制设备(40)，利用该控制设备能依赖于存储的、试样特定的控制函数来控制测量设备(10)和模拟与评价设备(20)中的至少一个。还描述了一种用于检测被包含在至少一个结构元件试样(1)中的材料的特性的方法。

公开(公告)号：CN102565720B

公开(公告)日：2015-01-14

申请号：CN201110416058.0

申请日：2011-12-09

申请人： 三星电子株式会社

发明人： 金镇圣 ,  康规喆 ,  裴振祐 ,  李喆浩 ,  秋钟杨

IPC分类号： G01R31/40

CPC分类号： G01R31/40 ,  G01R31/2635 ,  H05B33/089

摘要： 本发明涉及一种用于电源供应单元的检测装置，包括：主体单元，具备插入发光元件(LED，light emitting diode)的空间，以提供检测施加到所述发光元件的电源供应状态的检测环境；以及，检测单元，设置在所述主体单元的内部且与所述发光元件面对，用以检测电源供应异常时产生的所述发光元件的闪烁(flicker)。根据这种结构，由于能够定量地检测供应至发光元件的电源供应状态，从而能够提高发光元件的电源供应品质。

公开(公告)号：CN102468412B

公开(公告)日：2014-09-24

申请号：CN201110374839.8

申请日：2011-11-16

申请人： 三星电子株式会社

发明人： 池元秀 ,  金秋浩 ,  吴城勋 ,  金敏焕 ,  慎范锡

IPC分类号： H01L33/48 ,  H01L33/62 ,  H01L33/52 ,  H01L33/00 ,  H01L21/66

CPC分类号： H01L22/14 ,  G01R31/2601 ,  G01R31/2635 ,  H01L33/48 ,  H01L2933/0033 ,  H01L2933/005 ,  Y10T29/51

摘要： 本发明公开了一种用于制造发光二极管(LED)封装件的设备和方法。制造LED封装件的设备包括：加热单元，加热引线框架状态下的LED封装件阵列，多个LED封装件安装在所述LED封装件阵列中，从而以阵列方式设置在引线框架上；测试单元，通过向被加热单元加热的LED封装件阵列施加电压或电流来测试LED封装件阵列中的每个LED封装件的操作状态；切割单元，根据测试单元的测试结果仅切割被确定为有功能的产品的LED封装件或者被确定有缺陷的产品的LED封装件，以从引线框架去除被切割的LED封装件。

公开(公告)号：CN104035217A

公开(公告)日：2014-09-10

申请号：CN201410216387.4

申请日：2014-05-21

申请人： 深圳市华星光电技术有限公司

发明人： 付延峰

IPC分类号： G02F1/13

CPC分类号： G02F1/1309 ,  G01R19/16519 ,  G01R31/2621 ,  G01R31/2635 ,  G02F1/1362 ,  G02F2001/136254

摘要： 本发明公开了一种显示器阵列基板的外围测试线路以及液晶显示面板。该显示器阵列基板的外围测试线路包括：多组测试信号线，每组测试信号线由隔开间隔设置的第一测试信号线和第二测试信号线组成；多条测试垫引线，每条测试垫引线设置在相应组的第一测试信号线和第二测试信号线的间隔处，且每条测试垫引线与第一测试信号线和第二测试信号线连接、不与其他组的第一测试信号线和第二测试信号线重叠；多个测试垫，每个测试垫设置在相应的测试垫引线上。本发明的外围测试电路改善了现有外围测试电路中测试垫引线与测试信号线具有重叠跨接、容易造成静电释放而导致测试垫引线与测试信号线短接的问题，能够降低静电释放的击伤风险。

公开(公告)号：CN102548121B

公开(公告)日：2014-08-20

申请号：CN201110312132.4

申请日：2011-10-14

申请人： 通嘉科技股份有限公司

发明人： 李敬赞

IPC分类号： H05B37/02 ,  H02M1/00 ,  G01R31/02

CPC分类号： H05B33/0887 ,  G01R31/025 ,  G01R31/2635 ,  H05B33/0815 ,  H05B33/0827

摘要： 本发明公开了集成电路、相关之控制方法以及光源提供系统。一集成电路用以控制多个发光二极管串的电流。每个发光二极管串具有多个发光二极管，顺向串接在一主阳极与一主阴极之间。每一主阳极连接至一电源端。该集成电路包含有一短路检测端、一定电流源、一电压固定电路、以及一短路比较器。该短路检测端检测所述主阴极中的最高阴极电压。该定电流源提供该短路检测端一定电流。该电压固定电路，大致在所述发光二极管串没有发光时，把该短路检测端固定于一预设电压。该短路比较器比较该短路检测端的一检测电压与一临界电压，以及当该检测电压高于该临界电压时，使能一短路信号。