电容耦合封装结构
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118173509A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202211577888.6

    申请日:2022-12-09

    发明人: 王又法

    摘要: 本发明公开一种电容耦合封装结构,其包括第一引线架、第二引线架、多个传送器模块以及多个接收器模块。第二引线架对应并对准第一引线架,且第一引线架与第二引线架之间具有一间隙。多个传送器模块分别设置于第一引线架的一第一表面上或第二引线架的一第二表面上。多个接收器模块分别设置于第一引线架的第一表面上或第二引线架的第二表面上。传送器模块的第一信号输出极板及第二信号输出极板,以及接收器模块的第一信号输入极板及第二信号输入极板分别通过多个悬浮支架以一預設距离分别设置。

    检测闪烁频率的系统和方法以及包括该系统的电子装置

    公开(公告)号:CN114845060B

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202110143790.9

    申请日:2021-02-02

    发明人: 庄彩新 崔珂尔

    IPC分类号: H04N23/745

    摘要: 本发明公开一种检测闪烁频率的系统和方法,系统包括光传感器、序列产生器、第一计算电路和第二计算电路。光传感器根据取样频率,将入射光转换为数字序列,且取样频率大于至少2倍的闪烁频率。序列产生器根据闪烁频率和取样频率,产生具有周期性的第一参考序列和第二参考序列,且第二参考序列为第一参考序列延迟1/4周期的序列。第一计算电路用来计算数字序列和第一参考序列间的第一相关系数,并且计算数字序列和第二参考序列间的第二相关系数。第二计算电路根据第一相关系数和第二相关系数,计算组合相关系数,并且根据组合相关系数,计算检测分数表示闪烁频率存在的机率。

    红外光接近式传感器
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111190237B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN201910578853.6

    申请日:2019-06-28

    IPC分类号: G01V8/12

    摘要: 本发明公开一种红外光接近式传感器,其包括:基板、发射单元、接收单元、封装单元以及隔离单元,基板具有承载面,且承载面具有发射端区域以及一相对于发射端区域的接收端区域;发射单元设置于发射端区域上;接收单元设置于接收端区域上;封装单元包括第一封装体以及第二封装体,第一封装体覆盖发射单元,第二封装体覆盖所述接收单元;隔离单元设置于第一封装体以及第二封装体之间;其中,该第一封装体以及该第二封装体的封装材料是在一预定红外光波段有60%至80%穿透率的红外光遮蔽化合物。借此,能有效缩减红外光接近式传感器的体积。

    光耦合器电路模型建构方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114722749A

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202110002601.6

    申请日:2021-01-04

    发明人: 王又法 周佳

    IPC分类号: G06F30/33

    摘要: 本发明公开一种光耦合器电路模型建构方法。光耦合器电路模型建构方法包括:提供光耦合器电路在多个温度值时的多个电性参数。根据在每个温度值的光耦合器的电性参数,建立每个温度值时的光耦合器SPICE模型电路,从而产生多组光耦合器非温度影响的SPICE模型电路;利用电压控制开关和电阻温度特性,产生多个温度电压转换开关电路组件;以及将对应多个温度值的多个温度电压转换开关电路组件分别连接多组非温度影响电路,以产生对应光耦合器的一光耦合器温度仿真电路模型。

    用于物件检测的运算装置及物件检测方法

    公开(公告)号:CN113296070A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN202010113550.X

    申请日:2020-02-24

    发明人: 程文圣 何伟

    IPC分类号: G01S7/41

    摘要: 本发明提供一种用于物件检测的运算装置及物件检测方法,适用于自雷达回波中检测至少一物件。在物件检测方法中,自待测数据检测杂波以产生杂波检测结果。待测数据是基于雷达回波所产生,待测数据包括多个样本,每一样本对应距离及其强度,这些样本的强度相关于物件的检测结果,且杂波检测结果相关于是否检测到杂波。反应于杂波检测结果是检测到杂波,依据杂波调整排序型恒虚警率检测自待测数据中所保留的部份样本。排序型恒虚警率检测保留部份样本来确定检测物件所用的强度阈值,且排序型恒虚警率检测对部份样本依据强度大小排序。

    低压降分流稳压器
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110531826B

    公开(公告)日:2020-09-25

    申请号:CN201810516123.9

    申请日:2018-05-25

    IPC分类号: G05F3/26

    摘要: 本发明提供了一种低压降分流稳压器,其包括一第一电流镜模块、一第二电流镜模块以及一输出模块。第一电流镜模块的第一端电性连接输入电压,第一电流镜模块具有一高输出阻抗;第二电流镜模块的第一端电性连接第一电流镜模块的第二端,第二电流镜模块的第二端电性连接一参考电压;输出模块的输出端电性连接第一电流镜模块的第三端,所述输出模块的输出端以及第一端分别电性连接第二电流镜模块,输出模块的所述第二端电性连接参考电压。本发明中的低压降分流稳压器是利用结合低压制程以及高压制程开关组件,构成具有高输出阻抗的电流镜电路,以降低大幅度的输入电压范围所造成的电流变化,更可以减少低压降分流稳压器内部消耗能量。

    感测装置及其制造方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107608001B

    公开(公告)日:2020-09-25

    申请号:CN201610543873.6

    申请日:2016-07-11

    IPC分类号: G01V8/10

    摘要: 本发明公开一种感测装置及其制造方法。感测装置包括一感测模块及一壳体模块。壳体模块设置在感测模块上。感测模块包括一衬底、一发射单元及一感测单元。衬底具有一发射端区域及一接收端区域。发射单元设置于发射端区域上。感测单元设置于接收端区域上。壳体模块包括一塑料壳体单元及一金属屏蔽单元。塑料壳体单元具有一容置空间及一开孔。金属屏蔽单元设置于塑料壳体单元上。容置空间通过金属屏蔽单元分隔成一第一容置槽及一第二容置槽,且开孔通过金属屏蔽单元分隔成一发射孔位及一感测孔位。借此,以缩减发射孔位以及感测孔位之间的距离,并有效提升产品的良率。

    转阻放大器
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107359865B

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN201610302649.8

    申请日:2016-05-09

    IPC分类号: H03F3/45 H03F3/08

    摘要: 本公开提供一种转阻放大器,包括第一级转导放大器、第二级转导放大器、第三级放大器与反馈电路。第一级转导放大器电性连接于输入电流源,以接收第一输入信号,再输出第一输出信号。第二级转导放大器电性连接于第一级转导放大器,以接收第一输出信号,再输出第二输出信号。第三级放大器电性连接于第二级转导放大器,以接收第二输出信号,再由输出第三输出信号。反馈电路的一端电性连接于第一级转导放大器,反馈电路的另一端电性连接于第三级放大器,以稳定第三输出信号。其中,第三级放大器由第一输出级与第二输出级所组成。本公开可以缩短转阻放大器的传输延迟的时间。

    光学感测模块与光学感测模块的运作方法

    公开(公告)号:CN118275395A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202310642578.6

    申请日:2023-06-01

    IPC分类号: G01N21/47 G01V8/10

    摘要: 本发明提供了一种光学感测模块与光学感测模块的运作方法,光学感测模块包括用于发射一波长范围的感测光线的光发射器以及光二极管模块,光二极管模块包括感测第一波长光线的第一光二极管、感测第二波长光线的第二光二极管,以及感测第三波长光线的第三光二极管。光学感测模块可通过第二光二极管与第三光二极管的运作实现一接近传感器,或者光学感测模块通过第一光二极管、第二光二极管与第三光二极管的运作实现一生物识别传感器。光二极管模块接收自一侦测对象反射感测光线的光线,能判断侦测对象是否接近,并进一步判断侦测对象是否是人类皮肤。

    用于物件检测的运算装置及物件检测方法

    公开(公告)号:CN113296070B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202010113550.X

    申请日:2020-02-24

    发明人: 程文圣 何伟

    IPC分类号: G01S7/41

    摘要: 本发明提供一种用于物件检测的运算装置及物件检测方法,适用于自雷达回波中检测至少一物件。在物件检测方法中,自待测数据检测杂波以产生杂波检测结果。待测数据是基于雷达回波所产生,待测数据包括多个样本,每一样本对应距离及其强度,这些样本的强度相关于物件的检测结果,且杂波检测结果相关于是否检测到杂波。反应于杂波检测结果是检测到杂波,依据杂波调整排序型恒虚警率检测自待测数据中所保留的部份样本。排序型恒虚警率检测保留部份样本来确定检测物件所用的强度阈值,且排序型恒虚警率检测对部份样本依据强度大小排序。