公开(公告)号：CN116412752A

公开(公告)日：2023-07-11

申请号：CN202310293721.5

申请日：2023-03-23

申请人： 南韓商宇德曼斯有限公司

发明人： 池昌炫 ,  具滋鵬 ,  丘璜燮 ,  方鎬燮 ,  李鍾翰

IPC分类号： G01B7/30

摘要： 根据一实施例的压阻式传感器可以包括：多个节点；连接到所述多个节点的多个压敏电阻器；以及由所述多个节点及所述多个压敏电阻器包围的空腔。

公开(公告)号：CN117425821A

公开(公告)日：2024-01-19

申请号：CN202280040152.7

申请日：2022-06-14

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 夫钟郁 ,  金仁会 ,  丘璜燮 ,  具滋鵬

IPC分类号： G01N25/18

摘要： 本发明公开如下具备一体化结构的氢气传感器：在恶劣的环境中也可以使用，不仅大幅缩小传感器的体积，还使因湿度带来的影响最小化，易于以低成本大量生产。

公开(公告)号：CN116917743A

公开(公告)日：2023-10-20

申请号：CN202280019335.0

申请日：2022-03-29

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 丘璜燮 ,  朴钟君 ,  尹淇相 ,  金景豪

IPC分类号： G01R1/04

摘要： 一种用于实现导电体相互间连接以及信号传输的接触器，包括：芯部，其沿纵向延伸，含有导电性颗粒，并且能够弹性变形；绝缘部，其包围上述芯部的横向表面，并且能够弹性变形；屏蔽部，其以与上述芯部隔开的方式包围上述绝缘部的横向表面，含有导电性颗粒，并且能够弹性变形。

公开(公告)号：CN109581004A

公开(公告)日：2019-04-05

申请号：CN201810663255.4

申请日：2018-06-25

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 孟根英 ,  方镐燮 ,  丘璜燮 ,  朴钟君 ,  尹淇相

IPC分类号： G01R1/067 ,  G01R3/00

摘要： 本发明涉及一种探针单元，更详细而言，涉及一种作为探针单元的结构的接触膜。本发明的防止过电流引起的短路的接触膜包括：基膜，其由软性的材质构成；输出通孔部，其在垂直贯通所述基膜的一端的孔内填充金属而形成，且连接于与面板接触而传递检查信号的接触部；第一输入通孔部，其与所述输出通孔部隔开，且在垂直贯通所述基膜的孔内填充金属而形成，且输入传递至所述接触部的检查信号；信号传输线，其形成于所述基膜的一面，且连接所述输出通孔部和所述第一输入通孔部；断开空间部，其是在所述信号传输线的延长线上的部分区间断开而形成的；以及电阻，其设置于所述断开空间部，且连接所述信号传输线的断开的区间。

公开(公告)号：CN117471136A

公开(公告)日：2024-01-30

申请号：CN202310904231.4

申请日：2023-07-21

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 丘璜燮 ,  朴钟君 ,  尹淇相 ,  金景豪

IPC分类号： G01R1/067

摘要： 本发明一实施例的探针包括：第一接触部；第二接触部；中间部，其设置于上述第一接触部和上述第二接触部之间；第一弹性部，其与上述第一接触部和上述中间部连接，沿着上述第一接触部和上述第二接触部连接的排列方向伸缩；第二弹性部，其与上述中间部和上述第二接触部连接，沿着上述排列方向伸缩；及侧壁部，其从上述中间部沿上述排列方向延伸。

公开(公告)号：CN110531124A

公开(公告)日：2019-12-03

申请号：CN201910794571.X

申请日：2016-04-25

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 金暎昊 ,  孟根英 ,  丘璜燮 ,  金铉济 ,  郑熙锡

IPC分类号： G01R1/067

摘要： 本发明涉及一种能够固定的探针及探针固定组件。本发明的探针固定组件包括：探针座，其在一侧面放置凸出形成有插入凸起的探针；以及游动防止部，其包括防止所述探针从所述探针座向左右方向游动的第一游动防止部、防止所述探针从所述探针座向上下方向游动的第二游动防止部，所述第一游动防止部包括形成有供所述插入凸起插入的插入孔的薄膜。

公开(公告)号：CN105452878B

公开(公告)日：2019-01-04

申请号：CN201480044941.3

申请日：2014-07-07

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 丘璜燮 ,  李圭汉 ,  全柄俊 ,  方镐燮 ,  郑熙锡 ,  金铉济

IPC分类号： G01R1/067

摘要： 本发明公开一种微电极电路检查用针。本发明实施例的微电极电路检查用针包括：针，其在两端中的至少一者上形成有接触部，具有弹性复原力的弹性部连接所述两端之间；及外壳，其形成有使所述接触部露出于外部的贯通部，且覆盖所述弹性部；所述针与所述外壳通过半导体MEMS工序而同时形成，所述针及所述外壳的下部与上部中的至少一个面平坦地形成。

公开(公告)号：CN104422800B

公开(公告)日：2017-11-21

申请号：CN201410455152.0

申请日：2014-09-09

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 李圭汉 ,  朴钟君 ,  金暎昊 ,  千圣武 ,  孟根英 ,  高明用 ,  郑熙锡 ,  丘璜燮 ,  金铉济

IPC分类号： G01R1/073 ,  G01R1/04

摘要： 本文中公开了一种用于测试具有微间距阵列的面板的探针单元，用于电气测试液晶面板，在液晶面板的边缘区具有多个以微间距布置的焊盘电极，以在其上安装测试驱动芯片，探针单元包括：基膜，该基膜包括形成于其上的连接图案，并且用于电气测试液晶面板的电信号施加至该连接图案；包括输入引线和输出引线的测试驱动芯片，该测试驱动芯片具有与驱动芯片的图案相同的图案，并且该测试驱动芯片安装在基膜上，使得所述输入引线与所述连接图案接触；触头，这些触头与所述测试驱动芯片的所述输出引线直接接触，以使所述液晶面板的所述焊盘电极连接至所述测试驱动芯片的所述输出引线；以及本体块，该本体块具有供所述测试驱动芯片及所述基膜固定的下表面。