公开(公告)号：CN105452878B

公开(公告)日：2019-01-04

申请号：CN201480044941.3

申请日：2014-07-07

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 丘璜燮 ,  李圭汉 ,  全柄俊 ,  方镐燮 ,  郑熙锡 ,  金铉济

IPC分类号： G01R1/067

摘要： 本发明公开一种微电极电路检查用针。本发明实施例的微电极电路检查用针包括：针，其在两端中的至少一者上形成有接触部，具有弹性复原力的弹性部连接所述两端之间；及外壳，其形成有使所述接触部露出于外部的贯通部，且覆盖所述弹性部；所述针与所述外壳通过半导体MEMS工序而同时形成，所述针及所述外壳的下部与上部中的至少一个面平坦地形成。

公开(公告)号：CN104422800B

公开(公告)日：2017-11-21

申请号：CN201410455152.0

申请日：2014-09-09

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 李圭汉 ,  朴钟君 ,  金暎昊 ,  千圣武 ,  孟根英 ,  高明用 ,  郑熙锡 ,  丘璜燮 ,  金铉济

IPC分类号： G01R1/073 ,  G01R1/04

摘要： 本文中公开了一种用于测试具有微间距阵列的面板的探针单元，用于电气测试液晶面板，在液晶面板的边缘区具有多个以微间距布置的焊盘电极，以在其上安装测试驱动芯片，探针单元包括：基膜，该基膜包括形成于其上的连接图案，并且用于电气测试液晶面板的电信号施加至该连接图案；包括输入引线和输出引线的测试驱动芯片，该测试驱动芯片具有与驱动芯片的图案相同的图案，并且该测试驱动芯片安装在基膜上，使得所述输入引线与所述连接图案接触；触头，这些触头与所述测试驱动芯片的所述输出引线直接接触，以使所述液晶面板的所述焊盘电极连接至所述测试驱动芯片的所述输出引线；以及本体块，该本体块具有供所述测试驱动芯片及所述基膜固定的下表面。