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公开(公告)号:CN109581004A
公开(公告)日:2019-04-05
申请号:CN201810663255.4
申请日:2018-06-25
申请人: 宇德曼斯有限公司
摘要: 本发明涉及一种探针单元,更详细而言,涉及一种作为探针单元的结构的接触膜。本发明的防止过电流引起的短路的接触膜包括:基膜,其由软性的材质构成;输出通孔部,其在垂直贯通所述基膜的一端的孔内填充金属而形成,且连接于与面板接触而传递检查信号的接触部;第一输入通孔部,其与所述输出通孔部隔开,且在垂直贯通所述基膜的孔内填充金属而形成,且输入传递至所述接触部的检查信号;信号传输线,其形成于所述基膜的一面,且连接所述输出通孔部和所述第一输入通孔部;断开空间部,其是在所述信号传输线的延长线上的部分区间断开而形成的;以及电阻,其设置于所述断开空间部,且连接所述信号传输线的断开的区间。
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公开(公告)号:CN104422800B
公开(公告)日:2017-11-21
申请号:CN201410455152.0
申请日:2014-09-09
申请人: 宇德曼斯有限公司
摘要: 本文中公开了一种用于测试具有微间距阵列的面板的探针单元,用于电气测试液晶面板,在液晶面板的边缘区具有多个以微间距布置的焊盘电极,以在其上安装测试驱动芯片,探针单元包括:基膜,该基膜包括形成于其上的连接图案,并且用于电气测试液晶面板的电信号施加至该连接图案;包括输入引线和输出引线的测试驱动芯片,该测试驱动芯片具有与驱动芯片的图案相同的图案,并且该测试驱动芯片安装在基膜上,使得所述输入引线与所述连接图案接触;触头,这些触头与所述测试驱动芯片的所述输出引线直接接触,以使所述液晶面板的所述焊盘电极连接至所述测试驱动芯片的所述输出引线;以及本体块,该本体块具有供所述测试驱动芯片及所述基膜固定的下表面。
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