公开(公告)号：CN109581004A

公开(公告)日：2019-04-05

申请号：CN201810663255.4

申请日：2018-06-25

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 孟根英 ,  方镐燮 ,  丘璜燮 ,  朴钟君 ,  尹淇相

IPC分类号： G01R1/067 ,  G01R3/00

摘要： 本发明涉及一种探针单元，更详细而言，涉及一种作为探针单元的结构的接触膜。本发明的防止过电流引起的短路的接触膜包括：基膜，其由软性的材质构成；输出通孔部，其在垂直贯通所述基膜的一端的孔内填充金属而形成，且连接于与面板接触而传递检查信号的接触部；第一输入通孔部，其与所述输出通孔部隔开，且在垂直贯通所述基膜的孔内填充金属而形成，且输入传递至所述接触部的检查信号；信号传输线，其形成于所述基膜的一面，且连接所述输出通孔部和所述第一输入通孔部；断开空间部，其是在所述信号传输线的延长线上的部分区间断开而形成的；以及电阻，其设置于所述断开空间部，且连接所述信号传输线的断开的区间。

公开(公告)号：CN105452878B

公开(公告)日：2019-01-04

申请号：CN201480044941.3

申请日：2014-07-07

申请人： 宇德曼斯有限公司

发明人： 丘璜燮 ,  李圭汉 ,  全柄俊 ,  方镐燮 ,  郑熙锡 ,  金铉济

IPC分类号： G01R1/067

摘要： 本发明公开一种微电极电路检查用针。本发明实施例的微电极电路检查用针包括：针，其在两端中的至少一者上形成有接触部，具有弹性复原力的弹性部连接所述两端之间；及外壳，其形成有使所述接触部露出于外部的贯通部，且覆盖所述弹性部；所述针与所述外壳通过半导体MEMS工序而同时形成，所述针及所述外壳的下部与上部中的至少一个面平坦地形成。