用于光掩模的表膜及其制造方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110609435A

    公开(公告)日:2019-12-24

    申请号:CN201910504878.1

    申请日:2019-06-12

    发明人: 金文子 丁昶荣

    IPC分类号: G03F1/48 G03F1/22

    摘要: 公开用于光掩模的表膜及其制造方法。所述用于光掩模的表膜包括表膜膜片。所述表膜膜片包括具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面的基础层、和覆盖所述基础层的所述第一表面的第一恢复层。在所述第一恢复层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量小于或等于在所述基础层中包含的碳原子之间的SP2共价键的含量。

    用于极紫外光刻的相移掩模和用其制造半导体装置的方法

    公开(公告)号:CN113805427A

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN202110660102.6

    申请日:2021-06-15

    IPC分类号: G03F1/26 G03F7/20

    摘要: 一种用于极紫外光刻的相移掩模,其包括:衬底;衬底上的反射层;反射层上的封盖层;封盖层上的缓冲图案,缓冲图案包括暴露封盖层的表面的开口;以及缓冲图案上的吸收器图案,吸收器图案包括小于缓冲图案的折射率的折射率和大于缓冲图案的厚度的厚度。缓冲图案包括相对于吸收器图案和封盖层具有蚀刻选择性的材料。

    表膜和包括其的掩模版
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110119064A

    公开(公告)日:2019-08-13

    申请号:CN201910066838.3

    申请日:2019-01-24

    IPC分类号: G03F1/48

    摘要: 本发明涉及表膜和包括其的掩模版。提供待用于光刻工艺的表膜。该表膜包括如下的膜,所述膜的至少一部分包括碳同素异形体。所述膜具有第一表面和与所述第一表面相反的第二表面,该膜包括包含掺杂剂的掺杂区域,该掺杂区域与所述第一表面相邻,所述掺杂剂包括硼或氮的至少一种,以及所述掺杂区包括所述掺杂剂的至少一种的原子与碳原子之间的键。