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    发光器件检查设备和方法
    1.
    发明公开
    发光器件检查设备和方法 失效 转让

    公开(公告)号：CN102735982A

    公开(公告)日：2012-10-17

    申请号：CN201210088731.7

    申请日：2012-03-29

    申请人： 三星LED株式会社

    发明人： 池元秀 ,  朴大绪 ,  金秋浩

    IPC分类号： G01R31/02 ,  G01M11/02 ,  G01N21/88

    CPC分类号： G01R31/2635 ,  G01R31/024 ,  G01R31/302

    摘要： 本发明提供了一种用于检查发光器件的特性的发光器件检查设备，所述发光器件包括发射光的一个或多个发光单元，所述发光器件检查设备包括：探测单元，具有工作台和探针，所述发光器件安装在所述工作台上，所述探针向所述发光器件供给电流；图像获取单元，用于获取所述发光器件的图像；以及确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述一个或多个发光单元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。

    检查发光二极管的设备及使用该设备的检查方法
    2.
    发明公开
    检查发光二极管的设备及使用该设备的检查方法 有权 转让

    公开(公告)号：CN102721694A

    公开(公告)日：2012-10-10

    申请号：CN201210086528.6

    申请日：2012-03-28

    申请人： 三星LED株式会社

    发明人： 池元秀 ,  权五锡 ,  金秋浩

    IPC分类号： G01N21/88 ,  G01M11/02

    CPC分类号： G01N21/8806 ,  G01N21/956 ,  G01N2021/8845

    摘要： 本发明公开了一种发光二极管(LED)检查设备和LED检查方法。发光二极管(LED)检查设备包括：至少一个LED，包括涂覆在发射表面上的磷光体；第一照明单元，将可见光发射至LED；第二照明单元，将紫外(UV)光发射至LED；拍摄单元，通过对从LED反射的可见光拍摄来产生至少一个第一图像数据，并通过对从LED反射的UV光拍摄来产生至少一个第二图像数据；确定单元，利用所述至少一个第一图像数据和所述至少一个第二图像数据来确定LED的外观和发射特性的缺陷。