公开(公告)号：CN106574946A

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：CN201580046653.6

申请日：2015-09-17

申请人： 弗兰克公司

发明人： M.D.斯图尔特 ,  P.H.黑伦 ,  J.V.费兰特 ,  M.A.肖赫 ,  H.G.哈蒙德

IPC分类号： G01R31/302 ,  H04N5/33

CPC分类号： H04N5/332 ,  G01D21/02 ,  G01R13/00 ,  G01R13/0236 ,  G01R15/125 ,  G01R31/302 ,  H04N5/225

摘要： 系统可以包括：测试和测量工具，所述测试和测量工具被配置成用于生成测量数据；成像工具，所述成像工具被配置成用于生成图像数据；以及处理器，所述处理器与所述成像工具和所述测试和测量工具通信。所述处理器可被配置成用于从所述成像工具接收图像数据，并且如果所述图像数据满足一个或多个预定条件则触发所述测试和测量工具执行一个或多个相应的操作。类似地，所述处理器可从所述测试和测量工具接收测量数据，并且如果所述测量数据满足一个或多个预定条件则触发所述成像工具执行一个或多个相应的操作。

公开(公告)号：CN102735982A

公开(公告)日：2012-10-17

申请号：CN201210088731.7

申请日：2012-03-29

申请人： 三星LED株式会社

发明人： 池元秀 ,  朴大绪 ,  金秋浩

IPC分类号： G01R31/02 ,  G01M11/02 ,  G01N21/88

CPC分类号： G01R31/2635 ,  G01R31/024 ,  G01R31/302

摘要： 本发明提供了一种用于检查发光器件的特性的发光器件检查设备，所述发光器件包括发射光的一个或多个发光单元，所述发光器件检查设备包括：探测单元，具有工作台和探针，所述发光器件安装在所述工作台上，所述探针向所述发光器件供给电流；图像获取单元，用于获取所述发光器件的图像；以及确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述一个或多个发光单元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。

公开(公告)号：CN101432628B

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN200780015618.3

申请日：2007-11-06

申请人： 西门子公司

发明人： H·克劳斯曼 ,  K·克拉格勒 ,  M·纽瑟

IPC分类号： G01R1/07 ,  G01R31/302 ,  G09G3/00

CPC分类号： G01R31/302 ,  G01R1/07 ,  G01R31/2812

摘要： 提出一种用于检查基板(140)的表面(141)的测量装置(100)。测量装置(100)具有保持元件(110)和空气支承的元件(120，220)，该空气支承的元件安装在保持元件(110)上，并且这样构造，使得它可以与要检查的基板(140)的表面(141)一起构成空气支承，并且所述空气支承的元件具有弹性，从而空气支承的元件(120，220)可以匹配表面(141)的不平度。测量装置(110)此外具有至少一个传感器(130，230)，其安装在空气支承的元件(120，220)上，并且设置用于检测基板(140)的表面(141)。由于空气支承的元件(120，220)的弹性，所述至少一个传感器(130，230)即使在要检测的表面(141)具有波浪度的情况下也能够以到表面(141)的预定的测量距离运动。此外描述了一种用于表面检查的测量方法，其中所述的测量装置(100)相对表面(141)移动。

公开(公告)号：CN106019128A

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201610294307.6

申请日：2016-05-05

申请人： 中国科学院微电子研究所

发明人： 陈珊 ,  毕津顺 ,  王艳 ,  刘明

IPC分类号： G01R31/302 ,  G01R31/303

CPC分类号： G01R31/302 ,  G01R31/303

摘要： 本发明公开了一种应用于辐照试验的芯片封装结构及其制作方法，所述芯片封装结构包括多个通过贴片胶平铺粘贴于封装基板表面的测试芯片以及开孔的遮挡片，所述多个测试芯片以及开孔的遮挡片组装成堆叠结构；其中，所述测试芯片平铺于所述封装基板表面的区域不大于宽束辐照面积，所述堆叠结构的上层是所述开孔的遮挡片，所述测试芯片通过键合丝或者焊球与封装基板电连接。本发明能够缩短辐照试验时长，降低辐照试验费用，在现有的封装工艺基础上提高辐照试验效率。

公开(公告)号：CN102970009B

公开(公告)日：2016-02-03

申请号：CN201210320608.3

申请日：2012-08-31

申请人： 瑞萨电子株式会社

发明人： 归山隼一

IPC分类号： H03K17/08

CPC分类号： G06F11/08 ,  G01R31/265 ,  G01R31/302 ,  G06K19/0723 ,  H01L23/5227 ,  H01L25/16 ,  H01L25/162 ,  H01L25/167 ,  H01L2224/05553 ,  H01L2224/05554 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/49175 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/1305 ,  H01L2924/13055 ,  H01L2924/13091 ,  H01L2924/181 ,  H03F3/085 ,  H03F3/189 ,  H03F3/24 ,  H03F3/45475 ,  H03F3/45479 ,  H03F2203/45544 ,  H03F2203/45621 ,  H03K17/0828 ,  H03K17/567 ,  H03K17/689 ,  H03K17/691 ,  H03K17/78 ,  H03K2017/0806 ,  H04B5/0012 ,  H04B5/0075 ,  H04B5/0081 ,  H04L25/0266 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/45099 ,  H01L2924/00012

摘要： 本发明提供一种半导体集成电路和包括半导体集成电路的驱动设备。在此公开了一种半导体集成电路，其能够检测可以在经由隔离元件的信号发送中引起故障的异常，并且向要控制的目标发出停止信号。该半导体集成电路包括：发送电路，其用于产生和输出用于反映从外部供应的发送数据的发送信号；接收电路，其用于基于接收信号而再产生发送数据；隔离元件，其用于将发送电路与接收电路隔离，并且发送作为接收信号的发送信号；异常检测部，其用于检测可以在经由隔离元件的信号发送中引起故障的异常；以及控制部，如果异常检测部检测到异常，则所述控制部输出停止信号，而与从外部向发送电路供应的发送数据无关。

公开(公告)号：CN102105806A

公开(公告)日：2011-06-22

申请号：CN200980129201.9

申请日：2009-06-24

申请人： 法国国家太空研究中心

发明人： P·佩迪

IPC分类号： G01R31/302 ,  G01R31/315 ,  G01R31/265

CPC分类号： G01R31/302 ,  G01R31/265 ,  G01R31/315

摘要： 本发明涉及一种用于测试电子装置的方法和机器，其中由单向测量探头(46)测量所发射的磁场，其特征在于：由探头(46)测量沿轴ZZ’的磁场分量Bz的第一值(Bz1)并对其进行记录，然后通过绕着与所述轴ZZ’正交的轴XX’根据小于90°的角幅度相对枢转使所述探头(46)和所述电子装置彼此相对移动，同时针对轴ZZ’的每个位置(x，y)保持在同一距离d0处，由探头(46)测量沿轴ZZ’的磁场分量Bz的第二值(Bz2)并对其进行记录，然后基于已经获得的第一值Bz1和第二值Bz2确定所述磁场沿着与所述轴ZZ’和XX’正交的轴YY’的分量By的值并对其进行记录。

公开(公告)号：CN100526897C

公开(公告)日：2009-08-12

申请号：CN200380103561.4

申请日：2003-11-14

申请人： 应用材料有限公司

发明人： 马蒂亚斯·布伦纳

IPC分类号： G01R31/28 ,  G09G3/00 ,  G01R31/302

CPC分类号： G09G3/006 ,  G01R31/2887 ,  G01R31/302

摘要： 本发明涉及定位基底(140)以及为了用具有光轴或相应设备的检验装置检验而接触检验对象(301)的方法。从而，基底被放置在支撑台(130)上。相对于光轴定位基底。接触单元(150)也相对于光轴被定位，其中接触单元的定位与基底的定位操作无关。因此可以实现基底上检验对象的灵活接触。

公开(公告)号：CN101052961A

公开(公告)日：2007-10-10

申请号：CN200580028509.6

申请日：2005-07-15

申请人： 万事达卡国际股份有限公司

发明人： P·斯梅茨 ,  E·L·H·范德维尔德 ,  D·加勒特

IPC分类号： G06F17/00

CPC分类号： G01R31/308 ,  G01R31/302 ,  G06K7/00 ,  G06K7/0008 ,  G06K7/0095 ,  G06K7/10019 ,  G06K7/10336 ,  G06K7/10465 ,  G06K17/00 ,  G06Q20/32 ,  G06Q20/327 ,  G06Q20/341 ,  G07F7/084 ,  G07F7/1008

摘要： 一种增强用于在消费者与商家之间进行的电子支付交易的非接触式支付设备的功能可互操作性的系统和方法。非接触式支付设备包括签发给消费者的嵌有RFID的卡和由商家使用的诸如可使用RFID的读卡器的接近式耦合设备。该系统和方法涉及使用基准卡和基准读卡器以分别建立所发卡和所使用的读卡器的可接受规范。基准卡和基准读卡器被交叉校准以关联卡和读卡器的工作规范。对卡和读卡器功能的重叠的规范范围或容差的适当选择会增强所发卡与所使用的读卡器的可互操作性，以及所使用的读卡器与所发卡的可互操作性。

公开(公告)号：CN103403539A

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN201280008467.X

申请日：2012-01-31

申请人： 诺锭伽夫股份公司

发明人： 安德烈·基里科夫 ,  帕维尔·帕什科夫 ,  费多尔·杜尔诺夫 ,  阿列克谢·斯米尔诺夫

IPC分类号： G01N29/04 ,  G01N29/24 ,  G01N29/48 ,  G01R31/01

CPC分类号： G01N29/2412 ,  G01N29/043 ,  G01N29/48 ,  G01N2291/0231 ,  G01N2291/0289 ,  G01N2291/2697 ,  G01R31/016 ,  G01R31/302

摘要： 一种用于测试具有至少一个嵌入的含金属的层（32）的电子部件（30）、特别是多层陶瓷电容器的装置（10），该装置（10）带有电磁-声学转换器（12），其具有脉冲产生单元（14），脉冲产生单元设计用于在待测试的部件（30）的内部产生至少一个电磁脉冲（IMP），从而在部件（30）内部产生振荡，振荡产生电磁信号（RES）作为对电磁脉冲（IMP）的响应，该装置具有设计用于接收电磁信号（RES）的接收单元（16）和分析处理单元（18），分析处理单元设计用于在至少一个时间点至少在信号（RES）的振幅或是振幅变化方面分析处理电磁信号（RES），其中，装置（10）还具有估算单元（20），其设计用于将信号（RES）的至少一个由分析处理单元（18）测定的振幅或振幅变化与至少一个阈值（TH）相比较，并取决于该比较产生第一输出信号（SIG1），其表示将待测试的部件（30）视为功能良好的，或者产生第二输出信号（SIG2），其表示将待测试的部件（30）视为损坏的。此外还公开了一种相应的方法和电磁-声学转换器（12）的应用。

公开(公告)号：CN101625823B

公开(公告)日：2013-04-17

申请号：CN200910150538.X

申请日：2003-11-14

申请人： 应用材料有限公司

发明人： 马蒂亚斯·布伦纳

IPC分类号： G01R31/305

CPC分类号： G09G3/006 ,  G01R31/2887 ,  G01R31/302

摘要： 本发明涉及定位基底(140)以及为了用具有光轴或相应设备的检验装置检验而接触检验对象(301)的方法。从而，基底被放置在支撑台(130)上。相对于光轴定位基底。接触单元(150)也相对于光轴被定位，其中接触单元的定位与基底的定位操作无关。因此可以实现基底上检验对象的灵活接触。