一种粉末加样装置及方法

    公开(公告)号:CN107655734A

    公开(公告)日:2018-02-02

    申请号:CN201710848684.4

    申请日:2017-09-20

    申请人: 上海大学

    IPC分类号: G01N1/28

    CPC分类号: G01N1/28

    摘要: 本发明公开一种粉末加样装置及方法。所述方法包括与垂直滑台连接的压杆在步进电机和直流电机的带动下向下垂直旋转;水平滑台上的粉末自动加样头在步进电机的带动下滑动到压杆的正下方;压杆向下垂直旋转至粉末自动加样头的内芯,粉末自动加样头中的粉末流出至精密天平,精密天平测量加样粉末的质量;控制器实时读取精密天平反馈的质量值,与预设的目标值进行比较,等于目标值退出加样,控制器控制压杆迅速反转;控制器根据实时反馈的质量值,计算出实时的粉末加样的速度值,并与预设的速度值进行比较,根据比较结果控制粉末自动加样头的内芯旋转速度值来控制加样的速度达到预设值。采用本发明的装置或方法获取粉末加样的工作效率高、错误率低。

    一种粉末加样装置及方法

    公开(公告)号:CN107655734B

    公开(公告)日:2019-08-06

    申请号:CN201710848684.4

    申请日:2017-09-20

    申请人: 上海大学

    IPC分类号: G01N1/28

    摘要: 本发明公开一种粉末加样装置及方法。所述方法包括与垂直滑台连接的压杆在步进电机和直流电机的带动下向下垂直旋转;水平滑台上的粉末自动加样头在步进电机的带动下滑动到压杆的正下方;压杆向下垂直旋转至粉末自动加样头的内芯,粉末自动加样头中的粉末流出至精密天平,精密天平测量加样粉末的质量;控制器实时读取精密天平反馈的质量值,与预设的目标值进行比较,等于目标值退出加样,控制器控制压杆迅速反转;控制器根据实时反馈的质量值,计算出实时的粉末加样的速度值,并与预设的速度值进行比较,根据比较结果控制粉末自动加样头的内芯旋转速度值来控制加样的速度达到预设值。采用本发明的装置或方法获取粉末加样的工作效率高、错误率低。

    一种细粉末加样方法及系统

    公开(公告)号:CN108501443B

    公开(公告)日:2019-04-30

    申请号:CN201810348542.6

    申请日:2018-04-18

    申请人: 上海大学

    IPC分类号: B30B15/30

    摘要: 本发明公开了一种细粉末加样方法及系统,该方法包括:获取待加样细粉末的目标值和目标误差;选取与目标值相匹配的加样速度和最大误差;实时获取加样细粉末的实际质量;计算第一加样误差,当第一加样误差为最大误差时暂停加样;第一加样误差为加样时实际质量与目标质量的差的绝对值;待加样停止后获取加样细粉末的实际质量并计算第二加样误差;第二加样误差为加样停止后实际质量与目标质量的差的绝对值;判断第二加样误差是否小于目标误差,若是则停止加样;若否则选择与第二加样误差相匹配的加样速度和最大误差继续加样,并返回实时获取加样细粉末的实际质量步骤。采用本发明的加样方法能够高效率、高精度、低成本的实现不同细粉末的自动加样。

    一种细粉末加样方法及系统

    公开(公告)号:CN108501443A

    公开(公告)日:2018-09-07

    申请号:CN201810348542.6

    申请日:2018-04-18

    申请人: 上海大学

    IPC分类号: B30B15/30

    摘要: 本发明公开了一种细粉末加样方法及系统,该方法包括:获取待加样细粉末的目标值和目标误差;选取与目标值相匹配的加样速度和最大误差;实时获取加样细粉末的实际质量;计算第一加样误差,当第一加样误差为最大误差时暂停加样;第一加样误差为加样时实际质量与目标质量的差的绝对值;待加样停止后获取加样细粉末的实际质量并计算第二加样误差;第二加样误差为加样停止后实际质量与目标质量的差的绝对值;判断第二加样误差是否小于目标误差,若是则停止加样;若否则选择与第二加样误差相匹配的加样速度和最大误差继续加样,并返回实时获取加样细粉末的实际质量步骤。采用本发明的加样方法能够高效率、高精度、低成本的实现不同细粉末的自动加样。