公开(公告)号：CN119180196A

公开(公告)日：2024-12-24

申请号：CN202411207760.X

申请日：2024-08-30

Applicant: 上海大学

Inventor： 段超群 ,  赵萌萌 ,  曹恒睿 ,  刘富樯 ,  盛博 ,  蒲华燕 ,  罗均

IPC: G06F30/27 ,  G06N7/01 ,  G06F17/16 ,  G06F17/18 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/0442 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明属于设备退化预测技术领域，具体公开了一种基于随机过程和深度学习交互的退化预测方法、电子设备及存储介质，其方法包括以下步骤：S1、构建基于多尺度残差模块、双向长短期记忆网络和交叉注意力机制的神经网络；S2、构建漂移系数为正态分布的维纳退化模型，用于反映当前的退化状态；S3、采用极大似然估计法，得到维纳退化模型中的漂移系数；S4、根据贝叶斯定理获得漂移系数正态分布的两个参数；S5、维纳退化模型和神经网络的交互，利用神经网络输出的数据更新S4中的两个参数，再通过S3得到漂移系数；S6、设定失效阈值，利用神经网络获得剩余寿命。