公开(公告)号：CN115980543A

公开(公告)日：2023-04-18

申请号：CN202211468173.7

申请日：2022-11-22

Applicant: 上海无线电设备研究所

Inventor： 刘靓欢 ,  汪亮 ,  王雪博 ,  蒋张涛 ,  李梦妍 ,  李俊山 ,  辛增献 ,  杜佳

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种复杂高集成数模混合处理微系统自动测试系统及测试方法，包括：便携式上位机控制系统和与其连接的测试板卡，所述便携式上位机控制系统用于下发测试指令、配置参数和接收测试结果；测试板卡，包括若干电源芯片及接口管理CPLD芯片EPM2210、一核心逻辑及处理SoC芯片XC7Z045、一待测复杂高集成数模混合处理微系统；所述便携式上位机控制系统通过总线仲裁，将测试指令和配置参数下发至复杂高集成数模混合处理微系统，再将微系统回传的测试数据上传至便携式上位机控制系统。本发明自动化程度高、具有良好的通用性，减少了数据处理时间，提高了测试效率，并为复杂高集成数模混合微系统的可测性和测试覆盖性等能力的提升提供了解决思路和方法。