封装基板导电图形制作能力的评估方法

    公开(公告)号:CN116721934A

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202310666044.7

    申请日:2023-06-06

    IPC分类号: H01L21/66 H01L23/544

    摘要: 本发明提供一种封装基板导电图形制作能力的评估方法,简单易操作,可通过设计不同深度的盲槽和/或不同尺寸的凸起来模拟金属蚀刻前工序如电镀所引起的凹坑和/或凸起等情形,以评估封装基板进行导电图形的制作能力,从而避免因不良导电图形的制作所引起的产能损失及成本浪费;通过设计回形金属测试线路,能够简便地进行电性测试,从而可快速、全面得对封装基板导电图形的制作能力进行评估。