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公开(公告)号：CN104160265B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201380012447.4
申请日：2013-03-05
申请人： 东丽株式会社
CPC分类号： G06K9/0014 , G01N21/6458 , G01N33/5308 , G06K9/4661 , G06T7/0012 , G06T2207/10056 , G06T2207/10064 , G06T2207/30072
摘要： 本发明所要解决的课题是提供一种在将载体中的检测强度图像化而得到的图像数据中确定斑点的位置，提取与该斑点对应的像素群，算出提取出的像素群中的检测强度的中位数值、与从该像素群中除去了上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的检测强度的中位数值的比或差，基于算出的比或差、和规定的基准值，判定可靠性的好坏。
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公开(公告)号：CN104160265A
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201380012447.4
申请日：2013-03-05
申请人： 东丽株式会社
CPC分类号： G06K9/0014 , G01N21/6458 , G01N33/5308 , G06K9/4661 , G06T7/0012 , G06T2207/10056 , G06T2207/10064 , G06T2207/30072
摘要： 本发明所要解决的课题是提供一种在将载体中的检测强度图像化而得到的图像数据中确定斑点的位置，提取与该斑点对应的像素群，算出提取出的像素群中的检测强度的中位数值、与从该像素群中除去了上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的检测强度的中位数值的比或差，基于算出的比或差、和规定的基准值，判定可靠性的好坏。
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公开(公告)号：CN104718427B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201380052862.2
申请日：2013-10-04
申请人： 东丽株式会社
CPC分类号： G01N21/6486 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N2021/6441 , G01N2201/0461 , G06F17/10
摘要： 本发明提供能够取得能够准确地检测基板的高度差异的图像的检测方法、微阵列的分析方法以及荧光读取装置。所述检测方法是将通过透镜而被聚光后的激光照射于具有凹凸形状的基板，取得来自基板的反射光和/或散射光的接收强度作为图像数据，检测凹凸形状的高度的差异的检测方法，在与透镜的焦点位置相比靠近透镜的位置配置基板的光照射面，接收来自光照射面的反射光和/或散射光作为检测光，基于接收到的光的强度的变化，检测基板的高度的差异。
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公开(公告)号：CN1514436A
公开(公告)日：2004-07-21
申请号：CN03136516.7
申请日：1996-03-28
申请人： 东丽株式会社
IPC分类号： G11B7/24
CPC分类号： G11B7/2534 , G11B7/00454 , G11B7/00456 , G11B7/0051 , G11B7/0052 , G11B7/00557 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00718 , G11B7/126 , G11B7/24 , G11B7/24079 , G11B7/243 , G11B7/252 , G11B7/254 , G11B7/2542 , G11B7/258 , G11B7/2585 , G11B2007/24306 , G11B2007/24308 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316 , G11B2007/25706 , G11B2007/2571 , G11B2007/25715 , G11B2007/25716 , Y10S430/146
摘要： 一种通过非晶相和结晶相之间的相变化来进行信息的记录和抹除，在纹间表面和沟纹两方形成记录符号来进行记录的光记录媒体，其特征在于所述的记录媒体至少具有基板/第1电介质层/记录层/第2电介质层/光吸收层/反射层，其沟纹深度形成重放光波长的1/7以上1/5以下的光路长，并且记录层的非结晶部分和结晶部分的光吸收率由式Aa－Ac≤10％表示，其中Aa表示记录层的非结晶部分的光吸收率(％)，Ac表示记录层的结晶部分的光吸收率(％)。
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公开(公告)号：CN103339493B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201180066561.6
申请日：2011-12-26
申请人： 东丽株式会社
IPC分类号： G01N21/64 , G01N33/53 , G01N33/543 , G01N37/00
CPC分类号： G01N21/6486 , B01J2219/00529 , B01J2219/00576 , B01J2219/00693 , C40B60/12 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N33/54373 , G01N33/582 , G06F19/20
摘要： 为了提供无论在未配置阳性对照的DNA芯片的分析中，还是样本所包含的DAN量少的芯片的分析中，都可以适当地进行对准处理的分析方法，微阵列的分析方法对在具有凹凸形状的基板表面配置有探针的微阵列照射激励光，并取得来自由激励光进行了激励的各探针的荧光量作为数值数据，包括：步骤（a），对探针的荧光量进行测定而取得荧光图像数据；步骤（b），接受来自基板表面的反射光和／或散射光，根据该光的受光强度取得微阵列的基板表面的凹凸形状作为对准用图像数据；以及步骤（c），基于所述对准用图像数据确定各探针在所述荧光图像数据中的位置。
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公开(公告)号：CN1934451B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN200580009083.X
申请日：2005-03-17
申请人： 东丽株式会社
CPC分类号： B01F13/0059 , B01F13/0052 , B01F13/0054 , B01F13/02 , G01N2035/00158 , G01N2035/00544 , Y10T436/25
摘要： 本发明的搅拌溶液的方法是一种使含有与选择结合性物质反应的被检物质的溶液与固定在载体表面的选择结合性物质接触，搅拌溶液的方法，其在含有被检物质的溶液中混合微粒或气泡，使微粒或气泡不与选择结合性物质的固定化面接触而移动。通过本发明的搅拌溶液的方法，促进固定在载体上的选择结合性物质与被检物质的反应，即使是微量的试样，也可以提供信号强度和S/N比良好的搅拌方法。通过本发明，使得采用DNA芯片等选择结合性物质固定化载体的临床现场的诊断和诊察成为可能。
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公开(公告)号：CN1496480A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN02806339.2
申请日：2002-01-11
申请人： 东丽株式会社
IPC分类号： G01N33/53 , G01N33/566 , G01N21/64 , G01N21/27 , G01N37/00
CPC分类号： G01N33/54313 , B01J19/0046 , B01J2219/00497 , B01J2219/00515 , B01J2219/00524 , B01J2219/00576 , B01J2219/00585 , B01J2219/00596 , B01J2219/00605 , B01J2219/0061 , B01J2219/00612 , B01J2219/00621 , B01J2219/00626 , B01J2219/00637 , B01J2219/00659 , B01J2219/00664 , B01J2219/00673 , B01J2219/00677 , B01J2219/00722 , B01J2219/00725 , B01J2219/00729 , B01J2219/0074 , C40B40/06 , C40B40/10 , G01N33/54366
摘要： 本发明公开了一种固定了选择结合性物质的排列体，其可以不依赖于位置关系地区分识别各个试样，可以组合任意的排列体，另外可以根据使用方法自由改变密度，且简便地检测出结合的试样和其他试样的反应。本发明提供固定了选择结合性物质的纤维或含有该纤维的束的纤维排列体。另外，提供一种选择结合性物质和对应选择结合性物质的结合反应的方法，其通过在选择结合反应步骤中，在与固定选择结合性物质的面的垂直轴交叉的方向上外加交流电压等方法，使上述被测试样液和/或上述对应选择结合性物质相对于固定了上述选择结合性物质的面相对移动。
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公开(公告)号：CN1256487A
公开(公告)日：2000-06-14
申请号：CN99123530.4
申请日：1999-11-10
申请人： 东丽株式会社
IPC分类号： G11B7/24
CPC分类号： G11B7/2578 , G11B7/252 , G11B7/2534 , G11B7/2585 , G11B2007/24304 , G11B2007/2431 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316 , G11B2007/25706 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25711 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715 , G11B2007/25716 , Y10S428/913 , Y10S430/146 , Y10T428/21
摘要： 本发明提供一种相变型光记录介质,在其衬底中至少依次层叠有第一介电层、与记录层接触的第一边界层和记录层。第一边界层主要包括从周期表中从第二到第六周期的ⅢA族到ⅥB族的元素的氧化物、碳化物或氮化物,碳,或碳和氧和/或氮的复合物中选择的一种物质。记录层也具有特定的成分。本发明的光记录介质在反复重写时性能很少劣化,具有优良的保存持久性能。
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公开(公告)号：CN1201225A
公开(公告)日：1998-12-09
申请号：CN97129770.3
申请日：1997-12-16
申请人： 东丽株式会社
IPC分类号： G11B7/24
CPC分类号： G11B7/252 , G11B7/2531 , G11B7/2533 , G11B7/2534 , G11B7/2585 , G11B7/26 , G11B2007/24306 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316 , G11B2007/25706 , G11B2007/2571 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715 , G11B2007/25716 , Y10S428/913 , Y10T428/21
摘要： 一种光记录媒质具有高硬度层、第一绝缘层、记录层、第二绝缘层和反射层。高硬度层的硬度大于第一绝缘层的硬度,并且第二绝缘层的厚度在3到50nm的范围内。这种可重写相变化式光记录媒质显示出在频繁重写扇区的写开始部分和写结束部分中减少损坏,并且具有好的抖动特性。
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公开(公告)号：CN104718427A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201380052862.2
申请日：2013-10-04
申请人： 东丽株式会社
CPC分类号： G01N21/6486 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N2021/6441 , G01N2201/0461 , G06F17/10
摘要： 本发明提供能够取得能够准确地检测基板的高度差异的图像的检测方法、微阵列的分析方法以及荧光读取装置。所述检测方法是将通过透镜而被聚光后的激光照射于具有凹凸形状的基板，取得来自基板的反射光和/或散射光的接收强度作为图像数据，检测凹凸形状的高度的差异的检测方法，在与透镜的焦点位置相比靠近透镜的位置配置基板的光照射面，接收来自光照射面的反射光和/或散射光作为检测光，基于接收到的光的强度的变化，检测基板的高度的差异。
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