边界框求交并比的优化方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN116452590A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202310713628.5

    申请日:2023-06-16

    IPC分类号: G06T7/00

    摘要: 本发明属于目标检测、目标识别技术领域,具体涉及一种边界框求交并比的优化方法、系统及电子设备,旨在解决现有CIoU方法无法准确地反映两个边界框之间的重叠程度,进而导致图像识别不全、辨别不清、误判漏判的问题。本发明方法包括:获取图像中目标的第一边界框、第二边界框,并计算两框的交并比,作为初始交并比;计算两框的中心点距离;计算两框的纵横比、正权衡;计算两框的宽度比值、高度比值;基于初始交并比,结合中心点距离、纵横比、正权衡、宽度比值以及高度比值,重新计算两框的交并比,作为优化后的交并比。本发明计算的交并比准确地反映两个边界框之间的重叠程度,提升模型的检测精度和识别粒度。