应用于干式化学分析仪的光学检测模块

    公开(公告)号:CN110389118B

    公开(公告)日:2024-11-19

    申请号:CN201910590052.1

    申请日:2019-07-02

    Abstract: 本发明公开了一种应用于干式化学分析仪的光学检测模块,包括:试剂片支架、检测电路板及试剂片;所述试剂片支架包括上层支架、中层片、下层底座及窗口片;所述检测电路板设置在所述下层底座下方,所述试剂片支架上设置有插片通道,所述试剂片插设在所述插片通道内,所述试剂片支架内设置有连通所述检测电路板和所述试剂片的光学检测检测通道。本发明通过设置安装槽安装通光板,安装简单方便;通过设置窗口片能实现光学检测检测通道内的防尘密封,能保护其中的元器件,防止检测结果受粉尘影响;本发明通过设置压紧片结构能在不影响试剂片顺利插入插片通道的前提下,保证试剂片插入后的牢固稳定。

    一种用于生物防护的集成装置及控制电路

    公开(公告)号:CN111025972B

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN201911268464.X

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明提供一种用于生物防护的集成装置,包括用于防护生物仓的集成装置本体,所述集成装置本体包括检控组件、控制组件、处理组件、壳体以及外接组件。本发明还涉及一种用于生物防护的集成控制电路。本发明通过差压变送器实时检测气路的压力,并将检测的信号反馈给控制组件,控制组件发送指令给电磁阀,通过电磁阀来关闭气路,能够实时监控气路的气压,避免气路异常失效造成的危险。该装置中还集成有过滤器,该过滤器能能够直接通过尘埃粒子计数器进行标定,方便检测;电磁阀连接过滤器,能够实时监控各级过滤器的过滤效果,当过滤器异常时电磁阀关闭气路同时标定更好简单方便。

    基于信噪比的多窗口谱峰识别方法、设备、介质及产品

    公开(公告)号:CN115078616B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202210494928.4

    申请日:2022-05-07

    Abstract: 本发明涉及基于信噪比的多窗口谱峰识别方法、设备、介质及产品,该方法包括步骤:对原始谱图数据进行预处理;通过多窗口谱峰识别算法对波峰、波谷及波动平缓无峰数据进行识别,寻找峰顶点;计算每个数据点的信噪比,通过信噪比对峰边界进行修正,根据信噪比及峰宽设定识别峰边界,得到所有峰信息。依赖于谱信号本身,利用多窗口谱峰识别算法对波峰、波谷及正常数据进行快速识别,划分谱峰区域,准确找到峰顶点,然后计算每个数据点的信噪比对峰边界进行修正,根据信噪比及峰宽设定,可准确识别峰边界。基于直方图的信噪比估计算法校正峰边界,校正后的谱峰区域较小,且谱峰基本对称,有利于后续的数据处理,提高结果的准确性。

    一种用于飞行时间质谱的延时电路

    公开(公告)号:CN115799037A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202310078083.5

    申请日:2023-02-08

    Abstract: 本发明公开了一种用于飞行时间质谱的延时电路,包括第一触发信号生成电路输入端接收激光器信号,输出端得到信号检测脉冲触发信号;第一延时电路第二输入端接收时钟信号,第三输入端接收至少一个第一预设延时时间,输出端进行延时,延时至少一个第一预设延时时间后输出置位时钟信号;第二延时电路第二输入端接收时钟信号,第三输入端接收第二预设延时时间,输出端基于置位电路输出信号进行延时,延时第二预设延时时间后输出置位信号;置位电路输出端输出高压耦合触发信号;电平转换电路得到TTL电平形式的信号检测脉冲触发信号、高压耦合触发信号。本发明飞行时间质谱延时时间可调范围更大,日益满足大分子质谱分析需求。

    质谱仪气帘挡板自动清洗装置及方法

    公开(公告)号:CN115780346A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211193021.0

    申请日:2022-09-28

    Abstract: 本发明公开了一种质谱仪气帘挡板自动清洗装置及方法,包括:离子源本体,其内部中空以形成一容纳腔,所述容纳腔内布置有气帘挡板;清洗组件,其设置有不少于两组,且两所述清洗组件对称式布置,所述清洗组件与容纳腔相连通;以及控制器,其与所述清洗组件电连接或无线连接。根据本发明,其通过清洗驱动器先后输送第一储料件及所述第二储料件内的清洗溶剂通过清洗头将所述气帘挡板自动清洗,无需繁琐的手动拆卸离子源进行清洗,清洗快速,清洗效果较好,大大缩短了清洗时间,提高了离子源的清洗效率,便于工作人员的操作,同时提高了设备使用寿命,使得增强了清洗后的设备检测灵敏度,设备检测准确率高,提高了设备的检测效率。

    基于噪声估计的谱峰识别方法及系统

    公开(公告)号:CN114609319A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210133900.8

    申请日:2022-02-14

    Abstract: 本发明公开了一种基于噪声估计的谱峰识别方法,包括以下步骤:1)输入原始色谱数据R0,预处理后采用S‑G平滑算法进行平滑处理得到数据R2;2)获取峰顶点集合P;3)计算数据R1中的每个点的信噪比估计值;4)寻找峰顶点集合P中每个峰的峰起点:5)寻找每个峰的峰终点:6)根据每个峰顶点pcurrent以及对应的峰起点、峰终点得到数据R1中所有的色谱峰。本发明将基于直方图统计的信噪比估计用到峰识别算法中,并改进了直方图统计,采用中值直方图方式,减少了计算复杂度;本发明采用基于噪声估计算法相比较于传统的小波变换算法,具有算法复杂度低、峰识别速度更快且识别精度相当的优点,但更适用于商业应用。

    一种针对半圆柱面工件的修研工装及修研方法

    公开(公告)号:CN112873039B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202110162203.0

    申请日:2021-02-05

    Abstract: 本发明涉及一种针对半圆柱面工件的修研工装,包括轴向弹性元件和径向弹性元件、修研座、修研杆;待修研件位于修研座内;轴向弹性元件和径向弹性元件对待修研件进行弹性力约束,调整轴向弹性元件和径向弹性元件的弹性力分配;待修研件与修研杆之间产生相对运动使修研杆对待修研件产生修研作用。本发明可用于半圆柱面的高精度位置公差和形状公差修研,采用可调的柔性固定工装,约束待修研件和修研工具之间的正压力分布,并进行不同方向正压力的分解计算,从而在修研过程中,完成半圆柱面的形状公差、位置公差的调正,可用其将修研量和修研参数对应并固化,形成可靠的修研工艺控制。本发明还涉及一种针对半圆柱面工件的修研方法。

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