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公开(公告)号：CN116972967A
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202310902474.4
申请日：2023-07-21
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种多层结构电容阳极及其制备方法、位敏阳极探测器，以解决电容阳极的电荷收集效率低且结构稳定性差的问题。具体包括底层电介质和设置在底层电介质上方的镜像电荷读出单元，设置在底层电介质和镜像电荷读出单元之间的K层第一电极层，及分别设置在相邻两个第一电极层之间的K‑1层第二电极层；K≥2且为整数；第一电极层与第二电极层之间设有中间层电介质；第二电极层上设置信号读出电极；底层电介质和各个中间层电介质上分别对应设置有四个电极孔，用于将信号读出电极引出；镜像电荷读出单元包括感应层基底；感应层基底上端中部镀有高阻感应薄膜，其外缘设有一圈接地电极。
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公开(公告)号：CN116936589A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310718633.5
申请日：2023-06-16
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: H01L27/146
Abstract: 本发明公开了一种背照式面阵探测器及其制备方法，以解决探测器无法实现器件整体的单片集成问题。具体包括背照式SiPM阵列和信号读出单元；信号读出单元包括设置在SiPM阵列正面的第一绝缘介质层及平行设置在第一绝缘介质层上的K层第一电极阵列和M层第二电极阵列；K层第一电极阵列和M层第二电极阵列相互间隔设置；第一绝缘介质层与第一电极阵列相邻；K≥1且为正整数，M＝K，或者，M＝K‑1且M≠0；第一电极阵列与第二电极阵列之间设有第二绝缘介质层；第一电极阵列为((N×N)－1)/2个正方形电极构成的N行×N列矩阵，N>1且为奇数；第二电极阵列为((N×N)－1/2)+1个等边菱形电极构成的N行×N列矩阵；第二电极阵列中的顶角电极为信号读出电极。
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公开(公告)号：CN116779330A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310495469.6
申请日：2023-05-05
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种多层结构电容阳极及其制备方法，以解决电容阳极电荷收集效率不高的问题。具体包括绝缘基底和由下至上依次设置在绝缘基底上的K层第一电极层，以及分别设置在相邻两个第一电极层之间的K‑1层第二电极层；K≥2且为整数；第一电极层与所述第二电极层之间设有绝缘介质层；第二电极层包括第二周长电极区和矩形的第二收集电极区；第二收集电极区包括M×N个等间距设置的正方形电极；第一电极层包括第一周长电极区和矩形的第一收集电极区；第一收集电极区和第二收集电极区大小及形状相同且上下对应；位于第一收集电极区顶点两侧的两个第一长条形电极合并为信号读出电极；第一收集电极区包括多个收集电极。
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公开(公告)号：CN113405659B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202110529212.9
申请日：2021-05-14
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种紫外光谱仪，具体涉及用于临近空间的紫外光谱仪控制系统、方法及紫外光谱仪。能够综合临近空间环境温度、光谱仪温控状态、太阳位置信息以及最近的光谱探测结果进行光谱仪积分时间调整，确保临近空间紫外光谱仪能够在特殊环境下正常工作。克服现有紫外光谱仪，无法应用于临近空间的问题。控制系统除了具备采集谱线数据、处理谱线数据、发送遥测数据以及接收平台指令等常规功能外，还具备独特的控制功能，根据临近空间环境温度变化情况、太阳入射情况、紫外光谱探测结果进行综合控制，确保光学系统、探测器正常工作前提下获取更多有效数据，能够在特殊环境下正常工作，圆满完成探测任务。
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公开(公告)号：CN119152184A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411175777.1
申请日：2024-08-26
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G06V10/25 , G06V10/766 , G06V10/774 , G06V10/82 , G06V10/74 , G06N3/0464 , G06N3/084
Abstract: 本发明属于目标检测领域，具体涉及一种基于反正切微分函数边界框回归损失的目标检测方法。该方法包括以下步骤：1、获取目标图像的检测数据集，并将其划分为训练集和测试集；2、构建目标检测神经网络；3、将训练集输入至目标检测神经网络中，输出预测框；4、将真实框与预测框做TanIoU相似度计算，得到边界框回归损失LTanIoU；5、基于边界框回归损失LTanIoU，更新目标检测神经网络的梯度参数，并判断边界框回归损失LTanIoU是否满足预设条件，若是，则执行步骤6，若否，则返回步骤3，直至满足预设条件；6、将测试集输入到更新梯度参数后的目标检测神经网络中，进行并完成目标检测。本发明能够提升目标检测神经网络的平均检测精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113108907A
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN202110227301.8
申请日：2021-03-01
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种紫外光谱成像仪，具体涉及一种高灵敏、高动态紫外光谱成像仪。本发明的目的是解决现有紫外光谱成像仪存在光通量较低、信噪比较差和灵敏度较低的技术问题，提供一种高通量、高信噪比和高灵敏的紫外光谱成像仪。该成像仪采用哈达玛模板完成空间光路选通、以及特定的色散系统和紫外敏感图像增强型探测器组件，利用组合信号测量方式，降低了紫外光谱成像仪本身固有误差对目标信号真值带来的影响，间接降低目标信号测量值和真值的偏差，提高了探测信号的信噪比，哈达玛模板的采用提高了光通量，使得紫外光谱成像仪整体满足了高灵敏度。
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公开(公告)号：CN111024031A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911319529.9
申请日：2019-12-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于保护紫外光谱仪的太阳角度传感器，旨在解决现有的像增强部件当太阳直接照射时，像增强部件会出现烧穿现象，在长期太阳照射下会导致性能衰减而损坏的问题。本发明太阳角度传感器包括探测器壳体、安装筒、遮光筒以及探测器组件；探测器壳体包括本体，本体的前端设置有前端盖，后端设置有后端盖；前端盖上设置有通孔；探测器壳体外部涂覆保温层；安装筒的后端安装于前端盖上的通孔处，前端安装遮光筒，安装筒的下表面固定于遮光罩上；遮光筒的轴线与遮光罩的轴线平行；探测器组件设置于本体内，且与外部控制器模块电连接，探测器组件的探测面与通孔处对应；探测器组件用于获取太阳光线角度信息以控制像增强器模块。
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公开(公告)号：CN111024031B
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN201911319529.9
申请日：2019-12-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于保护紫外光谱仪的太阳角度传感器，旨在解决现有的像增强部件当太阳直接照射时，像增强部件会出现烧穿现象，在长期太阳照射下会导致性能衰减而损坏的问题。本发明太阳角度传感器包括探测器壳体、安装筒、遮光筒以及探测器组件；探测器壳体包括本体，本体的前端设置有前端盖，后端设置有后端盖；前端盖上设置有通孔；探测器壳体外部涂覆保温层；安装筒的后端安装于前端盖上的通孔处，前端安装遮光筒，安装筒的下表面固定于遮光罩上；遮光筒的轴线与遮光罩的轴线平行；探测器组件设置于本体内，且与外部控制器模块电连接，探测器组件的探测面与通孔处对应；探测器组件用于获取太阳光线角度信息以控制像增强器模块。
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公开(公告)号：CN117471438A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311241875.6
申请日：2023-09-25
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明公开了一种空间激光测距系统的光轴在轨标定方法，以解决现有技术存在增加二维跟踪机构重量，不利于轻量化，或者是需要额外引入设备进行标定，增加了整个系统的复杂度及其成本等问题，具体包括：步骤1、以光学成像载荷的初始光轴中心坐标为初始跟踪中心坐标，并引入其偏置量得到初始跟踪中心遍历区域；步骤2、调节二维跟踪机构，对初始跟踪中心遍历区域进行遍历，得到有效回波跟踪中心区域；步骤3、计算有效回波跟踪中心区域的中心点坐标，记得到有效中心坐标；步骤4、以有效中心坐标为空间激光测距系统的跟踪中心，使得二维跟踪机构瞄准目标，完成空间激光测距系统的光轴在轨标定。
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公开(公告)号：CN113405659A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110529212.9
申请日：2021-05-14
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种紫外光谱仪，具体涉及用于临近空间的紫外光谱仪控制系统、方法及紫外光谱仪。能够综合临近空间环境温度、光谱仪温控状态、太阳位置信息以及最近的光谱探测结果进行光谱仪积分时间调整，确保临近空间紫外光谱仪能够在特殊环境下正常工作。克服现有紫外光谱仪，无法应用于临近空间的问题。控制系统除了具备采集谱线数据、处理谱线数据、发送遥测数据以及接收平台指令等常规功能外，还具备独特的控制功能，根据临近空间环境温度变化情况、太阳入射情况、紫外光谱探测结果进行综合控制，确保光学系统、探测器正常工作前提下获取更多有效数据，能够在特殊环境下正常工作，圆满完成探测任务。
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