一种倒装LED芯片结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN107086260A

    公开(公告)日:2017-08-22

    申请号:CN201710251224.3

    申请日:2017-04-18

    IPC分类号: H01L33/20 H01L33/00

    CPC分类号: H01L33/20 H01L33/007

    摘要: 本发明提供了一种倒装LED芯片结构及其制作方法。倒装LED芯片结构包括:三维图形结构、蓝宝石衬底、半导体材料层、N电极、接触反射层、绝缘隔离层、P电极和焊接电极10;所述半导体材料层包括N型半导体材料、发光层和P型半导体材料。在蓝宝石衬底表面形成掩膜材料,再用光刻蚀刻的方法将光刻胶图案制作在掩膜上,蚀刻掩膜,去除光刻胶,在衬底表面形成三维图形结构掩膜层,再用蚀刻的方法在衬底表面形成三维图形结构,最后清除掩膜。本发明可以根据特定应用场景的光源要求,对倒装LED芯片的蓝宝石衬底出光面进行光学设计与加工,制作出单个的、周期性的或者非周期性的三维光学图形,从而实现所需的光源要求。

    一种用于氧化物半导体薄膜的湿法刻蚀设备及湿法刻蚀方法

    公开(公告)号:CN106373910A

    公开(公告)日:2017-02-01

    申请号:CN201610806112.5

    申请日:2016-09-05

    IPC分类号: H01L21/67 H01L21/467

    摘要: 本发明涉及湿法刻蚀技术领域,公开了一种用于氧化物半导体薄膜的湿法刻蚀设备及湿法刻蚀方法,用于氧化物半导体薄膜的湿法刻蚀设备包括:人工上片工位,蚀刻液喷涂工位,反应工位,清洗工位,风干工位,取料工位,空盘回收工位和输送装置。ZnO片放在人工上片工位的工装盘后,依次经过蚀刻液喷涂工位,反应工位,清洗工位,风干工位,取料工位,取料后空的工装盘由空盘回收工位输送至人工上片工位供下次使用。此外,本发明还提供了一种湿法刻蚀方法。采用本发明技术方案,可以有效的缓解ZnO薄膜的侧向腐蚀问题,提高了产品生产的合格率和蚀刻液的利用率,可适用于大规模批量连续生产。

    一种用于氧化物半导体薄膜的湿法刻蚀设备及湿法刻蚀方法

    公开(公告)号:CN106373910B

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201610806112.5

    申请日:2016-09-05

    IPC分类号: H01L21/67 H01L21/467

    摘要: 本发明涉及湿法刻蚀技术领域,公开了一种用于氧化物半导体薄膜的湿法刻蚀设备及湿法刻蚀方法,用于氧化物半导体薄膜的湿法刻蚀设备包括:人工上片工位,蚀刻液喷涂工位,反应工位,清洗工位,风干工位,取料工位,空盘回收工位和输送装置。ZnO片放在人工上片工位的工装盘后,依次经过蚀刻液喷涂工位,反应工位,清洗工位,风干工位,取料工位,取料后空的工装盘由空盘回收工位输送至人工上片工位供下次使用。此外,本发明还提供了一种湿法刻蚀方法。采用本发明技术方案,可以有效的缓解ZnO薄膜的侧向腐蚀问题,提高了产品生产的合格率和蚀刻液的利用率,可适用于大规模批量连续生产。