一种用于核燃料棒表面检测的设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN109961860A

    公开(公告)日:2019-07-02

    申请号:CN201910244774.1

    申请日:2019-03-28

    IPC分类号: G21C17/06

    摘要: 本发明公开了一种用于核燃料棒表面检测的设备及其检测方法,属于自动化设备技术领域。该设备包括检测装置、上料装置、下料装置和控制装置,通过设置上料装置能够实现棒料的自动上料,通过设置检测装置能够对经过测字符识别机构识别后的棒料的表面微小缺陷以及端部焊缝的微小缺陷进行精确检测,通过设置下料装置能够实现棒料的自动下料,并根据检测装置的检测结果将检验完毕的棒料输送至合格区和不合格区,以便操作人员对不合格区的棒料进行复检。整个设备不仅集成化程度高、自动化程度高、且检测效率高、所需的操作人员少,且能够对棒料表面的微小缺陷和焊缝端部的微小缺陷进行自动检测,有利于提高检测精度和棒料的使用安全性。

    一种用于核燃料棒表面检测的设备

    公开(公告)号:CN209691405U

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201920409646.3

    申请日:2019-03-28

    IPC分类号: G21C17/06

    摘要: 本实用新型公开了一种用于核燃料棒表面检测的设备,属于自动化设备技术领域。该设备包括检测装置、上料装置、下料装置和控制装置,通过设置上料装置能够实现棒料的自动上料,通过设置检测装置能够对经过测字符识别机构识别后的棒料的表面微小缺陷以及端部焊缝的微小缺陷进行精确检测,通过设置下料装置能够实现棒料的自动下料,并根据检测装置的检测结果将检验完毕的棒料输送至合格区和不合格区,以便操作人员对不合格区的棒料进行复检。整个设备不仅集成化程度高、自动化程度高、检测效率高、所需的操作人员少,且能够对棒料表面的微小缺陷和焊缝端部的微小缺陷进行自动检测,有利于提高检测精度,保证棒料的使用安全性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种用于核燃料棒表面检测的装置

    公开(公告)号:CN209764753U

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201920410473.7

    申请日:2019-03-28

    IPC分类号: G01N21/952

    摘要: 本实用新型公开了一种用于核燃料棒表面检测的装置,属于自动化设备技术领域。本实用新型所提供的用于核燃料棒表面检测的装置包括第二机架、卡盘机构、光谱检测机构、激光线性扫描机构和控制装置,通过设置卡盘机构能够夹持棒料并驱动棒料旋转,且通过设置光谱检测机构和激光线性扫描机构能够同时对棒料表面的微小缺陷和端部焊缝的微小缺陷进行360°检测,相较于现有技术中棒料进行的逐项检测,在极大程度上降低了检测所需的时间。该用于核燃料棒表面检测的装置不仅自动化程度高,集成化高,检测效率高,且能够对棒料表面的微小缺陷和焊缝端部的微小缺陷进行自动检测,有利于提高检测精度,保证棒料的使用安全性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种芯片检测机
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113252685A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110485846.9

    申请日:2021-04-30

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/95 G01B11/02

    摘要: 本发明属于芯片检测技术领域,公开了一种芯片检测机,该芯片检测机用于检测芯片待检测面的缺陷,芯片检测机包括相机、第一光源组件及光学投影组件,相机与检测装置的检测区域正对设置,以采集芯片的待检测面的图像,第一光源组件包括四个第一条形光源,四个第一条形光源于相机的光轴的四周两两相对设置,并均能够朝向芯片的待检测面发射光束,相机获取芯片待检测面的二维图像,光学投影组件包括两个以上的投影件,两个以上的投影件绕相机的光轴均匀排列,并能够朝向芯片的待检测面投射结构光,进而获取芯片待检测面的三维数据,本发明通过分析得到半导体芯片的锡球高度,既能够检测芯片的待检测面缺陷,同时还能量测半导体芯片的锡球高度。