一种硅颗粒料中石墨卡瓣杂质的去除方法

    公开(公告)号:CN106269230B

    公开(公告)日:2017-11-21

    申请号:CN201610882714.9

    申请日:2016-10-10

    IPC分类号: B03C1/02

    摘要: 本发明涉及一种硅颗粒料中石墨卡瓣杂质的去除方法,该方法包括以下步骤:⑴制作电磁铁装置;⑵将电磁铁装置铰接在传动机构一端的底部;⑶设置探测器、硅料输出口、杂质收集箱;⑷启动传动机构并匀速传输硅颗粒料;⑸当探测器探测到硅颗粒料完全落在空腔顶面的正面时,电磁铁电源自动开启;⑹当抗磁力与重力达到平衡时硅颗粒料中的石墨卡瓣稳定悬浮起来;电磁铁装置匀速旋转90度,悬浮的石墨卡瓣落在杂质收集箱里,硅颗粒料落入硅料输出口;⑺探测器探测到没有硅颗粒料时,电磁铁电源自动关闭;电磁铁装置再反方向旋转90度恢复,如此反复直至完成一批硅颗粒料的分拣。本发明工作效率高、节约人力成本。

    一种用于多晶硅中痕量杂质分析的前处理装置

    公开(公告)号:CN105158322B

    公开(公告)日:2018-08-07

    申请号:CN201510310832.8

    申请日:2015-06-09

    IPC分类号: G01N27/62 G01N1/28

    摘要: 本发明涉及一种用于多晶硅中痕量杂质分析的前处理装置,包括置于加热板上且设有密封外罩的样品瓶。密封外罩的顶部设有混合气体出口,其下部设有水平布置的环形氮气吹扫管线;环形氮气吹扫管线上设有氮气接口Ⅱ,该氮气接口Ⅱ连有带氮气加热器开关的氮气加热装置;氮气加热装置连有干燥器的出气口Ⅰ,该干燥器的进气口Ⅰ连有金属离子过滤器的出气口Ⅱ;金属离子过滤器的进气口Ⅱ经尘埃过滤器连有氮气管路;混合气体出口连有气体缓冲器的进气口Ⅲ,该气体缓冲器的出气口Ⅲ连有吸收塔;吸收塔的顶部设有连自来水进口的喷淋头,其下部一侧设有废液出口。本发明操作方便、重现性好,实现了多晶硅中痕量元素的快速、准确分析。

    一种无污染密闭式取样装置

    公开(公告)号:CN108254226A

    公开(公告)日:2018-07-06

    申请号:CN201810245824.3

    申请日:2018-03-23

    IPC分类号: G01N1/10

    摘要: 本发明公开了一种无污染密闭式取样装置,包括有取样器和取样瓶,取样器中设有与取样瓶对接的取样卡口,物料管线与取样器对接的部位开设有进样孔;取样器的内部设有支撑架和取样管;在接近取样管下部位置的侧面开设于取样孔,在支撑架中设有取样控制球,取样控制球与取样孔对接,用于封闭或开启结构取样孔。本发明通过支撑架、取样管、取样控制球、压紧弹簧、取样卡口等部件的相互配合下,可杜绝物料与空气接触,防止污染环境,并易于拆卸和清洗;且有利于保护环境,保障人身安全,减少设备的腐蚀,更减少了沸点低、极易挥发的低沸氯硅烷着火爆炸情况的发生。因取样瓶体没有和其他污染物接触,不受金属等污染物的影响,保证了所取样品的洁净度。

    一种硅颗粒料中石墨卡瓣杂质的去除方法

    公开(公告)号:CN106269230A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201610882714.9

    申请日:2016-10-10

    IPC分类号: B03C1/02

    摘要: 本发明涉及一种硅颗粒料中石墨卡瓣杂质的去除方法,该方法包括以下步骤:⑴制作电磁铁装置;⑵将电磁铁装置铰接在传动机构一端的底部;⑶设置探测器、硅料输出口、杂质收集箱;⑷启动传动机构并匀速传输硅颗粒料;⑸当探测器探测到硅颗粒料完全落在空腔顶面的正面时,电磁铁电源自动开启;⑹当抗磁力与重力达到平衡时硅颗粒料中的石墨卡瓣稳定悬浮起来;电磁铁装置匀速旋转90度,悬浮的石墨卡瓣落在杂质收集箱里,硅颗粒料落入硅料输出口;⑺探测器探测到没有硅颗粒料时,电磁铁电源自动关闭;电磁铁装置再反方向旋转90度恢复,如此反复直至完成一批硅颗粒料的分拣。本发明工作效率高、节约人力成本。

    固体颗粒物料的缩分装置及缩分方法

    公开(公告)号:CN109632419A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201811587648.8

    申请日:2018-12-25

    IPC分类号: G01N1/28

    摘要: 本发明公开了一种固体颗粒物料的缩分装置及缩分方法,包括有主体、控制装置和控制电机,在主体的内部设置有一可旋转的缩分桶;在缩分桶的内部设有筛板和分流装置,筛板固定在缩分桶中将缩分桶的内腔沿中心轴分隔成上下两部分,上面部分为物料室,下面部分具有内斜容器。本发明通过在缩分桶内设置漏斗状的物料室、三角状的分流板、布满筛孔的筛板以及球面状的内斜容器,物料从进料口进入物料室后,通过物料室的落料孔全部落在分流装置上,然后被分流装置分流到筛板的两边位置上,再通过筛板落到内斜内容上,如此可以实现非常均匀的混合。其结构简单,能更好的使物料缩分均匀,且能减少物料损失和污染,并且操作方便,提高了作业效率。

    一种用于多晶硅中痕量杂质分析的前处理装置

    公开(公告)号:CN105158322A

    公开(公告)日:2015-12-16

    申请号:CN201510310832.8

    申请日:2015-06-09

    IPC分类号: G01N27/62 G01N1/28

    摘要: 本发明涉及一种用于多晶硅中痕量杂质分析的前处理装置,包括置于加热板上且设有密封外罩的样品瓶。密封外罩的顶部设有混合气体出口,其下部设有水平布置的环形氮气吹扫管线;环形氮气吹扫管线上设有氮气接口Ⅱ,该氮气接口Ⅱ连有带氮气加热器开关的氮气加热装置;氮气加热装置连有干燥器的出气口Ⅰ,该干燥器的进气口Ⅰ连有金属离子过滤器的出气口Ⅱ;金属离子过滤器的进气口Ⅱ经尘埃过滤器连有氮气管路;混合气体出口连有气体缓冲器的进气口Ⅲ,该气体缓冲器的出气口Ⅲ连有吸收塔;吸收塔的顶部设有连自来水进口的喷淋头,其下部一侧设有废液出口。本发明操作方便、重现性好,实现了多晶硅中痕量元素的快速、准确分析。

    一种快接式密闭取样装置

    公开(公告)号:CN105043816B

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201510583833.X

    申请日:2015-09-15

    IPC分类号: G01N1/10

    摘要: 本发明旨在提供一种快接式密闭取样方法,主要涉及多晶硅领域。一种快接式密闭取样方法,主要包括取样器主体部分、取样器快接部分和废液处理部分,其特征在于:所述取样器主体部分包括与物料管线连接的取样器阀体,该取样器阀体一端设有阀门手轮及阀门压盖,取样器阀体中部设有物料分支取样管线;物料分支取样管线的下端设有与取样器密封圈为一体的快接接头。该取样器解决了传统取样过程中物料预排放和管线冲洗及取样器阀体和阀芯易受腐蚀等问题。本发明采用带有快接接头的密闭取样器进行取样,实现了取样的快速、洁净、方便、安全。

    一种快接式密闭取样方法

    公开(公告)号:CN105043816A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510583833.X

    申请日:2015-09-15

    IPC分类号: G01N1/10

    摘要: 本发明旨在提供一种快接式密闭取样方法,主要涉及多晶硅领域。一种快接式密闭取样方法,主要包括取样器主体部分、取样器快接部分和废液处理部分,其特征在于:所述取样器主体部分包括与物料管线连接的取样器阀体,该取样器阀体一端设有阀门手轮及阀门压盖,取样器阀体中部设有物料分支取样管线;物料分支取样管线的下端设有与取样器密封圈为一体的快接接头。该取样器解决了传统取样过程中物料预排放和管线冲洗及取样器阀体和阀芯易受腐蚀等问题。本发明采用带有快接接头的密闭取样器进行取样,实现了取样的快速、洁净、方便、安全。

    气体前处理装置及回收氢气检测装置

    公开(公告)号:CN209362150U

    公开(公告)日:2019-09-10

    申请号:CN201822039690.8

    申请日:2018-12-05

    IPC分类号: B01D53/04 C01B3/50

    摘要: 本实用新型涉及气体分离净化设备技术领域,尤其是涉及一种气体前处理装置及回收氢气检测装置。其包括壳体、第一端盖和第二端盖,壳体的内部设置有用于吸附氯化氢和氯硅烷的吸附介质,壳体的一端与第一端盖连接,壳体的另一端与第二端盖连接,第一端盖设置有进口,进口设置有进气阀,第二端盖设置有出口,出口用于与气相色谱仪的进样口连通,出口设置有出气阀;第一端盖设置有置换气进气管,置换气进气管设置有置换气进口阀,第二端盖设置有置换气出气管,置换气出气管设置有置换气出口阀。本实用新型能够保证色谱柱有效,气路管线畅通,提高了安全性。同时,保证在进样过程中不引入杂质组分,从而保证检测结果的准确性。