IGBT器件的测试装置、测试方法及电子设备

    公开(公告)号:CN111426931A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN202010322303.0

    申请日:2020-04-22

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明涉及半导体技术领域,具体涉及一种IGBT器件的测试装置、测试方法及电子设备,其中,测试装置包括:压力传感器,用于检测施加于待测IGBT器件上的多组接触压力值;电压表,两端分别与待测IGBT器件的集电极和发射极连接,用于检测待测IGBT器件集电极与发射极之间的多组通态压降值;固定电流源,与待测IGBT器件集电极和发射极分别连接,用于向待测IGBT器件提供固定电流;处理器,与压力传感器及所述电压表连接,用于利用多组接触压力值、多组通态压降值、固定电流以及施压面积计算得到待测IGBT器件的接触电阻值。本发明提供的IGBT器件的测试装置,利用多组通态压降值、固定电流以及施压面积计算得到接触电阻值,无需测量IGBT器件的微观参数,测试简单易于操作。

    一种功率半导体模块
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109801899A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201811607844.7

    申请日:2018-12-27

    IPC分类号: H01L25/07

    摘要: 本发明公开一种功率半导体模块,包括:多个并列设置的功率半导体单元,每个功率半导体单元封装在管壳中,且通过管壳中的弹力单元进行弹力支撑,每个功率半导体单元相互独立设置,且安装在第一金属电极与第二金属电极之间,第一金属电极与每个功率半导体单元电连接,第一金属电极与第二金属电极分别与外部电路电连接。本发明中的功率半导体模块中的功率半导体单元相互独立设置,当某一功率半导体单元一旦发生故障,可以利用另外正常的功率半导体单元替换,因此,可以充分利用芯片子模块,进而提高芯片子模块的利用率,可以减少芯片子模块的更换成本。