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公开(公告)号:CN1713327A
公开(公告)日:2005-12-28
申请号:CN200510084230.1
申请日:2005-07-18
Applicant: 北京工业大学
IPC: H01J9/02
Abstract: 本发明涉及一种电子发射阴极结构的制备,适用于平面显示器件或电子源阴极材阴极。本发明步骤:选定金属或n掺杂半导体,作为电子供给层;选择多层膜构成组分,选择原则为:组分材料的电子亲和势应存在差异;设计多层膜,层数至少两层,且相邻膜层为不同组分,除基底外的多层膜总厚度为6~20nm,而每层厚度大于1nm,小于或等于10nm;确定每层膜层厚度:多层膜总厚度不变,每层膜厚度为1~10nm情况下,改变其膜厚度,得到多种不同厚度比例的多层膜结构;计算上述不同的多层膜结构的场发射电流,选取最大的多层膜结构确定每层膜的实际厚度;按确定每层膜实际厚度在基底上沉积一组多层膜结构。本发明无需开发新材料或完善材料本身特性即可提高场发射特性。
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公开(公告)号:CN100530492C
公开(公告)日:2009-08-19
申请号:CN200510084230.1
申请日:2005-07-18
Applicant: 北京工业大学
IPC: H01J9/02
Abstract: 本发明涉及一种电子发射阴极结构的制备,适用于平面显示器件或电子源阴极材阴极。本发明步骤:选定金属或n掺杂半导体,作为电子供给层;选择多层膜构成组分,选择原则为:组分材料的电子亲和势应存在差异;设计多层膜,层数至少两层,且相邻膜层为不同组分,除基底外的多层膜总厚度为6~20nm,而每层厚度大于1nm,小于或等于10nm;确定每层膜层厚度:多层膜总厚度不变,每层膜厚度为1~10nm情况下,改变其膜厚度,得到多种不同厚度比例的多层膜结构;计算上述不同的多层膜结构的场发射电流,选取最大的多层膜结构确定每层膜的实际厚度;按确定每层膜实际厚度在基底上沉积一组多层膜结构。本发明无需开发新材料或完善材料本身特性即可提高场发射特性。
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公开(公告)号:CN101355031A
公开(公告)日:2009-01-28
申请号:CN200810119693.0
申请日:2008-09-05
Applicant: 北京工业大学
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 本发明涉及一种p型透明氧化物半导体CuCrO2薄膜材料的制备方法。该方法是将纯度均为99.9%的Cu2O粉体和Cr2O3粉体按Cu与Cr的原子比为1∶1配料,然后球磨混合,烘干后在1150℃煅烧12h,生成纯相的CuCrO2粉体,采用热压法将CuCrO2粉体压制成陶瓷靶材;利用磁控溅射方法,以石英片为衬底,衬底温度为400~600℃,以纯度为99.999%的Ar和N2O的混合气体作溅射气体,工作气压为0.8~1.2Pa,N2O分压为0~20%,溅射功率为80~120W,沉积时间为90min;最后将沉积好的薄膜置于管式炉中进行退火,采用纯度为99.999%的N2作保护气氛,退火温度为800~1000℃,退火时间为3~5h,退火后获得纯相CuCrO2薄膜,其厚度为200~400nm。本发明方法可以大面积沉积薄膜,生产成本低,且适用于工业化生产。
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