半导体封装结构
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118969739A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411438306.5

    申请日:2024-10-15

    Abstract: 本发明提供了一种半导体封装结构,其中,半导体封装结构包括:封装壳,包括基板以及与基板连接的围板;半导体芯片,与基板连接;第一端子,与半导体芯片的第一侧连接;第二端子,与半导体芯片的第二侧连接;绝缘加强部,与围板连接,绝缘加强部包括第一绝缘加强肋和第二绝缘加强肋,第一绝缘加强肋设置在第一端子和第二端子之间,第二绝缘加强肋的两端分别与围板的相对的两个内表面连接,第一绝缘加强肋和第二绝缘加强肋相交且相连。本申请的技术方案能够有效地解决相关技术中的壳体的绝缘性能和结构强度难以兼顾的问题。

    半导体器件的封装结构和封装方法

    公开(公告)号:CN117766470B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410190217.7

    申请日:2024-02-20

    Abstract: 本申请公开了一种半导体器件的封装结构和封装方法,该半导体器件的封装结构包括:绝缘基板,绝缘壳体,多个绝缘肋条和半导体器件,其中绝缘壳体位于绝缘基板的一侧以围成容纳空间,绝缘壳体具有顶面和侧壁,至少一个侧壁具有多个间隔设置的条状结构;多个绝缘肋条位于相邻的多个条状结构之间,绝缘肋条分别与顶面和条状结构所在的侧壁连接,相邻条状结构之间具有间隔区域,绝缘肋条在第一方向上具有相对的两端,绝缘肋条的两端突出于间隔区域,第一方向为绝缘基板指向绝缘壳体的方向;半导体器件设置于容纳空间中;该半导体的封装结构实现了在高电压、小电流的应用场景下满足了器件的高绝缘强度需求。

    半导体器件的封装结构和封装方法

    公开(公告)号:CN117766470A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202410190217.7

    申请日:2024-02-20

    Abstract: 本申请公开了一种半导体器件的封装结构和封装方法,该半导体器件的封装结构包括:绝缘基板,绝缘壳体,多个绝缘肋条和半导体器件,其中绝缘壳体位于绝缘基板的一侧以围成容纳空间,绝缘壳体具有顶面和侧壁,至少一个侧壁具有多个间隔设置的条状结构;多个绝缘肋条位于相邻的多个条状结构之间,绝缘肋条分别与顶面和条状结构所在的侧壁连接,相邻条状结构之间具有间隔区域,绝缘肋条在第一方向上具有相对的两端,绝缘肋条的两端突出于间隔区域,第一方向为绝缘基板指向绝缘壳体的方向;半导体器件设置于容纳空间中;该半导体的封装结构实现了在高电压、小电流的应用场景下满足了器件的高绝缘强度需求。

    功率器件
    6.
    发明公开
    功率器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN119050110A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411540451.4

    申请日:2024-10-31

    Abstract: 本发明提供了一种功率器件,包括:功率单元、第一功率端子以及第二功率端子;功率单元包括:底板上具有沿第一预设方向间隔设置第一导电层和第二导电层,第一导电层与第二导电层导电连接;芯片设置在第一导电层上,芯片的第一侧与第一导电层连接,芯片的第二侧与第三导电层连接;绝缘层设置在第一导电层上;控制部与芯片连接,控制部设置在绝缘层远离第一导电层的表面上,芯片和第二导电层位于控制部的两侧;第一二极管设置在第二导电层上。本申请的技术方案有效地解决了相关技术中的功率器件散热效果差的问题。

    互连构件及具有其的功率器件
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119050090A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411509866.5

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 本发明提供了一种互连构件及具有其的功率器件,互连构件包括:主体段,主体段的下表面为导电连接面;界面互连段,与主体段连接,界面互连段的下表面为互连面;拱形连接段,包括相连接的第一弧形段和第二弧形段,第一弧形段与主体段连接,第二弧形段与界面互连段连接,第一弧形段在预设纵向截面内具有第一弧形中心线,第一弧形中心线与预设曲线满足确定系数R2,预设曲线满足以下公式:#imgabs0#;x和y为预设曲线在预设坐标系内的横坐标值和纵坐标值;h为预设曲线的最高点至X轴的距离,a为预设曲线至Y轴的最大距离,#imgabs1#为预设常数;在预设曲线的最高点处,预设曲线满足#imgabs2#;R2≥0.8。通过本方案,能够缓解互连构件的互连界面处的应力大的问题。

    功率半导体封装结构
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119314974A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202411838928.7

    申请日:2024-12-13

    Abstract: 本发明提供了一种功率半导体封装结构,包括:基板,具有间隔设置的第一导电层和第二导电层;功率模块,位于第一导电层上,且功率模块的漏极与第一导电层电连接;互连结构,位于功率模块远离基板的一侧,功率模块和基板通过互连结构电气连接;源极连接器,位于第二导电层上,且与功率模块的开尔文源极电连接。通过本申请,解决了由于现有技术中功率器件的电感不匹配导致开关损耗较大的问题。

    封装结构及其制造方法、封装模块

    公开(公告)号:CN119181681A

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202411696422.7

    申请日:2024-11-25

    Abstract: 本发明提供了一种封装结构及其制造方法、封装模块,其中,封装结构,包括:基板上设置有功率端子导电部;封装体设置在基板上并封装功率端子导电部的第一区域,第一通孔结构露出功率端子导电部的第二区域;芯片结构并位于封装体内;功率端子结构穿设在第一通孔结构中,功率端子结构的第一端连接在功率端子导电部的第二区域上并与芯片结构导电连接,功率端子结构的第二端穿出第一通孔结构。本申请的技术方案有效地解决了相关技术中的封装结构的应用场景受限的问题。

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