半导体封装结构
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN118969739B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411438306.5

    申请日:2024-10-15

    Abstract: 本发明提供了一种半导体封装结构,其中,半导体封装结构包括:封装壳,包括基板以及与基板连接的围板;半导体芯片,与基板连接;第一端子,与半导体芯片的第一侧连接;第二端子,与半导体芯片的第二侧连接;绝缘加强部,与围板连接,绝缘加强部包括第一绝缘加强肋和第二绝缘加强肋,第一绝缘加强肋设置在第一端子和第二端子之间,第二绝缘加强肋的两端分别与围板的相对的两个内表面连接,第一绝缘加强肋和第二绝缘加强肋相交且相连。本申请的技术方案能够有效地解决相关技术中的壳体的绝缘性能和结构强度难以兼顾的问题。

    半导体封装结构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118969739A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411438306.5

    申请日:2024-10-15

    Abstract: 本发明提供了一种半导体封装结构,其中,半导体封装结构包括:封装壳,包括基板以及与基板连接的围板;半导体芯片,与基板连接;第一端子,与半导体芯片的第一侧连接;第二端子,与半导体芯片的第二侧连接;绝缘加强部,与围板连接,绝缘加强部包括第一绝缘加强肋和第二绝缘加强肋,第一绝缘加强肋设置在第一端子和第二端子之间,第二绝缘加强肋的两端分别与围板的相对的两个内表面连接,第一绝缘加强肋和第二绝缘加强肋相交且相连。本申请的技术方案能够有效地解决相关技术中的壳体的绝缘性能和结构强度难以兼顾的问题。

    一种压接型功率半导体器件内部温度分布测量方法及系统

    公开(公告)号:CN106483441A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201610843020.4

    申请日:2016-09-22

    Abstract: 本发明提供了一种压接型功率半导体器件内部温度分布测量方法及系统,所述方法包括构建压接型功率半导体器件的有限元模型;在有限元模型中耦合压接型功率半导体器件在预置工况条件下其内部的热应力分布;依据耦合热应力后的有限元模型,仿真得到压接型功率半导体器件在预置工况条件下其内部的压力分布;测量压接型功率半导体器件在预置工况条件下其内部的实际压力分布;确定压接型功率半导体器件在预置工况条件下其内部的实际温度分布。与现有技术相比,本发明提供的一种压接型功率半导体器件内部温度分布测量方法及系统,通过试验测量和仿真测量相结合的方式可以间接测量压接式功率半导体器件在任何工况条件下的压力分布和温度分布。

    一种新型压接式IGBT模块
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105552037A

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201510960380.8

    申请日:2015-12-18

    Abstract: 本发明提供一种新型压接式IGBT模块,包括管壳和同轴设于所述管壳上、下两端的板状金属电极,下端金属电极的内侧面上固定有凸台,所述凸台与上端金属电极之间压接有功率子模块;所述凸台以所述下端金属电极的中心为圆心,由内层到外层依次圆周等分布在所述下端金属电极的内侧面上。本发明提供的技术方案改善了压接式IGBT模块的凸台在通过瞬态电流时,部分电流过冲太大的问题,提高了压接式IGBT功率模块的可靠性,增大了压接式IGBT功率模块的安全工作区。

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