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公开(公告)号：CN101488744B
公开(公告)日：2010-11-10
申请号：CN200910078846.6
申请日：2009-03-05
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： H03K19/0185 , H03K19/003
摘要： 一种可以减小电源线和地线噪声的输出驱动缓冲器，在现有的由单个PMOS晶体管和NMOS晶体管组成的推挽式结构基础上，加入了速率转换控制电路和单脉冲产生电路，速率转换控制电路和单脉冲产生电路并联，速率控制电路通过控制上拉或者下拉开关晶体管的栅极电流来实现对上拉或者下拉开关晶体管开关时间的控制，从而为输出驱动缓冲器提供一个合适的转换速率，避免电源线和地线上的噪声，单脉冲产生电路可以为上拉或者下拉开关晶体管提供一个短暂的脉冲，保证在减小电源线和地线噪声的同时，又不影响输出驱动缓冲器的性能。
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公开(公告)号：CN100576745C
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200810112420.3
申请日：2008-05-23
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： H03K19/0175 , H03K19/0185
摘要： 一种TTL和CMOS兼容式输入缓冲器，包括参考电压产生器和输入缓冲器，输入缓冲器包括至少一级输入反相器，输入反相器包括PMOS管P1和NMOS管N2，PMOS管P1和NMOS管N2的栅极相连作为输入信号Vin的输入端，PMOS管P1的源极接参考电压产生器提供的参考电压VREF；当电路工作在TTL输入模式时，参考电压产生器提供给输入反相器的参考电压VREF在3.3～3.5V之间，输入反相器的翻转点电压为1.4V，使输入噪声容限最大；当电路工作在CMOS输入模式时，参考电压产生器没有静态功耗，参考电压产生器提供给输入反相器的参考电压VREF在4.6～5V之间，输入反相器的翻转点电压为2.5V，以获得最大噪声容限。
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公开(公告)号：CN100576361C
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200810112419.0
申请日：2008-05-23
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G11C29/12
摘要： 一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法，将FPGA中的内嵌双端口存储器全部配置为可选工作模式中的同一种，将同一类端口的输入并行连接到一起作为公共输入端；测试时，先采用March C算法轮流测试两类端口，然后对两类端口同时施加组合向量，进行两端口的关联性故障测试，判断存储器输出的正确性。本发明有效地完成了FPGA内嵌双端口存储器的测试，测试覆盖率达到100%，且合理利用了FPGA中空闲的资源作为检验逻辑，简化了调试过程，减少了输入输出端口，大大提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN101286367A
公开(公告)日：2008-10-15
申请号：CN200810112419.0
申请日：2008-05-23
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G11C29/12
摘要： 一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法，将FPGA中的内嵌双端口存储器全部配置为可选工作模式中的同一种，将同一类端口的输入并行连接到一起作为公共输入端；测试时，先采用March C算法轮流测试两类端口，然后对两类端口同时施加组合向量，进行两端口的关联性故障测试，判断存储器输出的正确性。本发明有效地完成了FPGA内嵌双端口存储器的测试，测试覆盖率达到100％，且合理利用了FPGA中空闲的资源作为检验逻辑，简化了调试过程，减少了输入输出端口，大大提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN101282114A
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200810112420.3
申请日：2008-05-23
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： H03K19/0175 , H03K19/0185
摘要： 一种TTL和CMOS兼容式输入缓冲器，包括参考电压产生器和输入缓冲器，输入缓冲器包括至少一级输入反相器，输入反相器包括PMOS管P1和NMOS管N2，PMOS管P1和NMOS管N2的栅极相连作为输入信号Vin的输入端，PMOS管P1的源极接参考电压产生器提供的参考电压VREF；当电路工作在TTL输入模式时，参考电压产生器提供给输入反相器的参考电压VREF在3.3～3.5V之间，输入反相器的翻转点电压为1.4V，使输入噪声容限最大；当电路工作在CMOS输入模式时，参考电压产生器没有静态功耗，参考电压产生器提供给输入反相器的参考电压VREF在4.6～5V之间，输入反相器的翻转点电压为2.5V，以获得最大噪声容限。
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公开(公告)号：CN100549712C
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200710063888.3
申请日：2007-02-14
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G01R31/317
摘要： 一种五次配置完成FPGA可配置逻辑块的测试方法，其特点在于：将FPGA可配置逻辑块的时序逻辑电路和组合逻辑电路结合起来测试，通过优化安排测试资源，交叉使用同或、异或等函数和穷举法的测试向量，减少了测试配置次数；本发明中使用了级连蛇形一维阵列的技术，将所有待测可配置逻辑块按满足测试可控制性和测试可观测的要求串联起来测试，既简化了设计复杂程度，又减少了测试输入输出端口，并且达到了100%的测试覆盖率，有效的降低了测试成本。
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公开(公告)号：CN101551439B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200910078274.1
申请日：2009-02-24
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G01R31/3185 , G01R31/3187
摘要： 一种FPGA输入输出模块的内建自测试方法，先将FPGA中所有输入输出模块均配置为双向IO缓冲器作为待测电路，FPGA器件中间部分的逻辑资源配置成测试向量产生电路，IO缓冲器周围的逻辑资源配置成扫描链结构的输出响应分析电路，测试时，由测试向量产生电路产生伪随机穷举测试向量向每个待测电路施加测试图形；测试向量施加完成后，启动输出响应分析电路的扫描链工作，输出响应分析电路在测试时钟的控制下输出输入输出模块本次配置的内建自测试结果，直到测试覆盖输入输出模块内部的所有资源。本发明中简化了内建自测试结果取回方式，减少了测试配置次数，在保障100％的测试覆盖率前提下，降低了测试成本，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN100550638C
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200710086450.7
申请日：2007-03-12
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： H03K19/0185
摘要： 消除NMOS单管传输形成静态短路电流的电路，包括：NMOS传输管与CMOS缓冲器电路，CMOS缓冲器电路包括两个CMOS反向器电路，有一电压钳位电路耦接在第一CMOS反向器电路的主电流路径和电源端之间，有一反馈回路跨接在第二CMOS反向器电路的输入端与输出端。本发明能够确保当传输管输出信号出现阈值下降时后级CMOS电路的PMOS管处于截止状态，避免了静态短路电流的产生；本发明大大节省了芯片面积，具有设计步骤简单的优点，在有效消除静态短路电流的同时对电路原本的性能和功能的影响很小。
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公开(公告)号：CN101551439A
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200910078274.1
申请日：2009-02-24
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： G01R31/3185 , G01R31/3187
摘要： 一种FPGA输入输出模块的内建自测试方法，先将FPGA中所有输入输出模块均配置为双向IO缓冲器作为待测电路，FPGA器件中间部分的逻辑资源配置成测试向量产生电路，IO缓冲器周围的逻辑资源配置成扫描链结构的输出响应分析电路，测试时，由测试向量产生电路产生伪随机穷举测试向量向每个待测电路施加测试图形；测试向量施加完成后，启动输出响应分析电路的扫描链工作，输出响应分析电路在测试时钟的控制下输出输入输出模块本次配置的内建自测试结果，直到测试覆盖输入输出模块内部的所有资源。本发明中简化了内建自测试结果取回方式，减少了测试配置次数，在保障100％的测试覆盖率前提下，降低了测试成本，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN101488744A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200910078846.6
申请日：2009-03-05
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天时代电子公司第七七二研究所
IPC分类号： H03K19/0185 , H03K19/003
摘要： 一种可以减小电源线和地线噪声的输出驱动缓冲器，在现有的由单个PMOS晶体管和NMOS晶体管组成的推挽式结构基础上，加入了速率转换控制电路和单脉冲产生电路，速率转换控制电路和单脉冲产生电路并联，速率控制电路通过控制上拉或者下拉开关晶体管的栅极电流来实现对上拉或者下拉开关晶体管开关时间的控制，从而为输出驱动缓冲器提供一个合适的转换速率，避免电源线和地线上的噪声，单脉冲产生电路可以为上拉或者下拉开关晶体管提供一个短暂的脉冲，保证在减小电源线和地线噪声的同时，又不影响输出驱动缓冲器的性能。
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