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公开(公告)号：CN109581185A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811368446.4
申请日：2018-11-16
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供了SoC激光模拟单粒子辐照检测及故障定位方法及系统：(1)对待测芯片测试区域镂空处理；(2)若进行动态测试，选择某一模块的功能测试程序，开始功能测试，将测试结果输出；(3)若进行静态测试，则PLL时钟旁路，且停止时钟信号输入，通过电流变化检测电路状态；(4)若进行复位状态测试，则将复位管脚接低，通过复位电路使SoC芯片持续处于复位状态，通过观察电流变化及锁相环频率波形检测电路状态。本发明避免了激光光斑较大对非测试区域产生的影响，提高SoC芯片测试全面性与准确性。
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公开(公告)号：CN109581185B
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN201811368446.4
申请日：2018-11-16
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供了SoC激光模拟单粒子辐照检测及故障定位方法及系统：(1)对待测芯片测试区域镂空处理；(2)若进行动态测试，选择某一模块的功能测试程序，开始功能测试，将测试结果输出；(3)若进行静态测试，则PLL时钟旁路，且停止时钟信号输入，通过电流变化检测电路状态；(4)若进行复位状态测试，则将复位管脚接低，通过复位电路使SoC芯片持续处于复位状态，通过观察电流变化及锁相环频率波形检测电路状态。本发明避免了激光光斑较大对非测试区域产生的影响，提高SoC芯片测试全面性与准确性。
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公开(公告)号：CN108535626A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201711477725.X
申请日：2017-12-29
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 一种SOC单粒子测试的全自动测试装置，包括主机、SOC测试板和程控电源；所述SOC测试板包括flash、被测SOC芯片和上电复位电路；所述主机通过指令命令被测SOC芯片依次遍历被测SOC芯片内的存储区域或者模块，被测SOC芯片获得遍历结果后以固定周期发送给主机；主机接收并存储被测SOC芯片发送的遍历结果；同时主机监测并存储被测SOC芯片发送遍历结果的状态和程控电源的电流，主机还用于控制程控电源的断电和加电；主机利用被测SOC芯片发送的遍历结果和被测SOC芯片发送遍历结果的状态，然后采用统计方法完成被测SOC芯片的测试。同时本发明还包括一种SOC单粒子测试的全自动测试方法。
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公开(公告)号：CN108535626B
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN201711477725.X
申请日：2017-12-29
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 一种SOC单粒子测试的全自动测试装置，包括主机、SOC测试板和程控电源；所述SOC测试板包括flash、被测SOC芯片和上电复位电路；所述主机通过指令命令被测SOC芯片依次遍历被测SOC芯片内的存储区域或者模块，被测SOC芯片获得遍历结果后以固定周期发送给主机；主机接收并存储被测SOC芯片发送的遍历结果；同时主机监测并存储被测SOC芯片发送遍历结果的状态和程控电源的电流，主机还用于控制程控电源的断电和加电；主机利用被测SOC芯片发送的遍历结果和被测SOC芯片发送遍历结果的状态，然后采用统计方法完成被测SOC芯片的测试。同时本发明还包括一种SOC单粒子测试的全自动测试方法。
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公开(公告)号：CN109669802A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201811347608.6
申请日：2018-11-13
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F11/10
摘要： 本发明公开了一种用于EDAC验证的可配置存储器验证系统，包括控制单元、校验码计算单元、地址计算单元、存储单元。控制单元用于进行存储单元中数据和校验码的初始化以及控制整个存储器验证模型的读写访问功能，校验码计算单元用于计算产生初始数据对应的初始校验码，地址计算单元用于计算初始校验码存储地址，存储单元用来存储数据和校验码；本发明能够解决存储器控制器EDAC功能验证时，不使用软件计算产生校验码，简化了验证过程，优化了验证流程，大量节省了验证时间，降低了工作难度。
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