电子标签的分离式制作方法及装置、电子标签

    公开(公告)号:CN116933833A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202310709902.1

    申请日:2023-06-15

    Abstract: 本发明涉及无线通信领域,提供一种电子标签的分离式制作方法及装置、电子标签。所述方法包括:在标签生产的主生产线将追踪号码写入标签的电子产品编码区;在标签应用属地识别标签的追踪号码,对追踪号码进行加密,将加密的追踪号码发送到标签生产的主生产线;在主生产线根据标签应用属地发送的追踪号码生成加密口令,将加密口令返回标签应用属地;在标签应用属地对主生产线返回的加密口令进行解密得到明文口令,通过该明文口令解锁标签的电子产品编码区,将电子产品编码区的追踪号码替换为对应该标签的资产管理编号。本发明实现电子标签分离式制作,同时避免了标签内电子产品编码区的锁定风险,且避免了解锁口令远程传输的风险。

    埋入式图案注塑成型电子标签及其制备方法

    公开(公告)号:CN117313777A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202310777963.1

    申请日:2023-06-28

    Abstract: 本发明实施例提供一种埋入式图案注塑成型电子标签,属于无线通信领域。所述电子标签包括:内芯;固定于内芯表面一侧的表面信息结构;其中,所述表面信息结构通过注塑成型制作而成;固定于内芯表面的天线以及固定于天线上的芯片;包裹于内芯、表面信息结构、天线和芯片外部的外壳,所述外壳通过注塑一体成型。本发明实施例提供的埋入式图案注塑成型电子标签可以应用于恶劣应用环境,电子标签上的表面信息能够实现区别于电子标签本体颜色的其他颜色,且随着时间的变长,表面信息不会失去原有颜色,更不会消失,适合在高可靠长寿命超高频射频电子标签表面信息上应用。

    射频识别标签
    7.
    发明公开
    射频识别标签 审中-实审

    公开(公告)号:CN117688964A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311452455.2

    申请日:2023-11-02

    Abstract: 本发明提供一种射频识别标签,属于射频识别技术领域。射频识别标签包括:底材层;面材层,面材层设于底材层上方;特高频标签天线,特高频标签天线设于底材层和面材层之间;频率选择表面阵列,频率选择表面阵列设于底材层和面材层之间,频率选择表面阵列与特高频标签天线设于同一平面,频率选择表面阵列的长度为5mm至10mm,宽度为5mm至10mm。本发明通过设置频率选择表面阵列小型化,在标签天线同一平面设置频率选择表面阵列,合理利用空间和减少成本,在减小特高频标签间表面波干扰、天线周围电磁场来波干扰基础上,通过电磁波反射降低特高频标签和周围其他通信天线的互耦干扰和电场感应电流干扰。

    缓冲焊垫及其制造方法和芯片及其制造方法

    公开(公告)号:CN114783975A

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202210706456.4

    申请日:2022-06-21

    Abstract: 本发明公开了一种缓冲焊垫及其制造方法和芯片及其制造方法。该缓冲焊垫用于芯片,缓冲焊垫包括:第一绝缘层、第二绝缘层、第一导电层和第二导电层,第二绝缘层设于第一绝缘层的上方,第二绝缘层设有沿厚度方向贯通的焊垫开孔,第一导电层设于第一绝缘层和第二绝缘层之间,且第一导电层在焊垫开孔正下方的位置处设置有至少一个缓冲孔,第二导电层至少部分设于焊垫开孔内,且第二导电层与第一导电层导通。根据本发明实施例的缓冲焊垫,第一导电层在焊垫开孔正下方的位置处设置有至少一个缓冲孔,以在缓冲焊垫与金属线采用绑定连接时,缓冲绑定时产生的压力,降低缓冲焊垫失效的风险,从而有利于提升缓冲焊垫的可靠性。

    RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN114047385A

    公开(公告)日:2022-02-15

    申请号:CN202210034777.4

    申请日:2022-01-13

    Abstract: 本发明公开了一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备,其中方法包括:获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益;依次获取多个芯片中每个芯片与至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏度,其中,多个芯片包括待测芯片和至少一个与待测芯片同型号的芯片;根据标签灵敏度、天线阻抗值和天线增益获取多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度;根据多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度,获取待测芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度。由此,能够准确高效的测试出芯片的阻抗值和芯片灵敏度,从而有利于设计出性能更加优异的天线以及获得灵敏度更高的标签。

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