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公开(公告)号：CN116382026A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202211731276.8
申请日：2022-12-30
申请人： 北京空间机电研究所
摘要： 本发明公开了一种光轴竖直相机的折转镜的装调测试方法，该方法基于定制的三种不同高度转站销，结合三维坐标变换，进行装调目标值反算，逆解出折转镜的空间位置和姿态，实现了光轴竖直相机折转镜的精密装调与测试。通过三坐标实测数据表明，对于光轴竖直相机折转镜的平移量控制在±0.015mm以内，倾斜量控制在±2秒以内。结果表明，该测试方法具有通用性强，测量精度高等特点，也较好地克服了传统折转镜装调测试方法，反复拆装，测试精度不足的问题，实现对光轴竖直相机主光路中折转镜的高效装配和空间位姿的高精度测量。
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公开(公告)号：CN102338919B
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201110317009.1
申请日：2011-10-18
申请人： 北京空间机电研究所
摘要： 一种全微晶镜头的装调方法，利用外置的框式结构辅助支撑微晶反射镜及微晶结构件，在微晶零件的连接面涂胶实施粘接，利用干涉测量结果调整各反射镜的相对平移，监测干涉测量数据直至胶粘剂完全固化，拆除辅助支撑结构完成镜头装调。本发明实现了全微晶镜头的装调，在胶粘剂固化过程能够监控，保证镜头的质量。
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公开(公告)号：CN117849987A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311665236.2
申请日：2023-12-06
申请人： 北京空间机电研究所
摘要： 本发明公开了一种基于坐标测量的光轴竖直相机高精度定焦方法，主要应用于长焦距竖直大口径光学遥感器装调及定焦面过程，确定光轴竖直相机的可见及红外焦面的平行性及视轴指向参数，提高定焦精度。本发明解决了竖直相机视轴测试难题，且控制精度优于传统经纬仪测角法，相机在轨表现稳定，图像清晰。
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公开(公告)号：CN115951502A
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202211526690.5
申请日：2022-11-30
申请人： 北京空间机电研究所
摘要： 为了解决竖直光轴的同轴式平行光管焦面组件的装调问题，本发明提出了一种利用激光跟踪仪的平行光管焦面组件装调方法。首先，利用激光干涉仪给出平行光管焦点位置；然后，在平面反射镜附近架设激光跟踪仪并测量，建立平面反射镜坐标系，引出平行光管光轴，测量公共转换点坐标；再次，在平行光管附近架设激光跟踪仪，利用公共转换点恢复平面反射镜坐标系，通过测量折镜法线，在折镜和干涉仪之间构建平行光管光轴直线，作为焦面组件导轨的理论方向；最后，根据导轨实测方向和理论方向对焦面组件的导轨方向和靶标的法线方向进行装调和测试的迭代过程，最终完成平行光管的焦面组件的装调。本发明可满足平行光管焦面组件导轨方向与平行光管光轴的平行度装调要求。
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公开(公告)号：CN115452323A
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202210946228.4
申请日：2022-08-08
申请人： 北京空间机电研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种测试相机系统内方位元素的系统及方法，其中，该系统包括：平面反射镜、第一靶标、第二靶标、第一照明光源、第二照明光源、六自由度转台和地面检测系统；其中，所述第一靶标和所述第二靶标均设置于所述相机系统的焦面位置，所述第一靶标和所述第二靶标沿所述相机系统的焦面探测器的中心对称；所述相机系统设置于所述六自由度转台上；所述地面检测系统与所述相机系统的焦面探测器相连接。本发明抛弃了平行光管和自准直仪，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN111076898A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911215298.7
申请日：2019-12-02
申请人： 北京空间机电研究所
摘要： 本发明公开了一种激光跟踪仪配合CGH测量非球面反射镜光轴的方法，所述方法包括如下步骤：(1)给出CGH补偿器；(2)在中心偏测量仪上将CGH补偿器的光轴调整到与中心偏测量仪的转台同轴；(3)保持CGH补偿器在中心偏测量仪转台上的位置不变，用激光跟踪仪测量中心偏测量仪的转轴，并测量CGH补偿器光轴和设置于CGH补偿器边角的个第一跟踪仪靶球的相对位置关系；(4)搭建CGH补偿器测量非球面反射镜面形的测试光路；(5)激光跟踪仪架设在测试光路中，测试CGH补偿器上的4个第一跟踪仪靶球位置，利用激光跟踪仪的坐标转换复现CGH补偿器的光轴，在此测试光路中即等效于非球面反射镜的光轴。本发明使得测量精度更高。
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公开(公告)号：CN107796597B
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201710839440.X
申请日：2017-09-18
申请人： 北京空间机电研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明提供了一种光学系统波前的子孔径反演与实施方法，采用数值计算方法计算全孔径‑子孔径转换矩阵，将转换矩阵扩展到Zernike第36项，由于转换矩阵覆盖了条纹Zernike分解的全部级数，子孔径‑全孔径对应关系唯一，因此可采用一个子孔径对全孔径进行反演；本发明还借助定位平面镜进行像素级别的标准平面镜阵列空间定位，克服了传统子孔径反演实施中标准平面镜阵列的中心法线与检测光路主光轴共轴调整时特别在偏视场测试时难以建立空间基准的问题；本发明利用子孔径测试条件解决了全孔径系统波前的测试，节约了测试成本，缩短了测试周期。
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公开(公告)号：CN108132042A
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201711311554.3
申请日：2017-12-11
申请人： 北京空间机电研究所
IPC分类号： G01C1/02
摘要： 本发明公开了一种共轴反射式系统装调过程中高精度测角方法，用于检测空间遥感器次镜相对于空间遥感器主镜的角度变化，包括如下步骤：在待测空间遥感器的主镜和次镜上分别安装平面反射镜；将待测空间遥感器置于干涉仪前，启动干涉仪进行调试；调节待测空间遥感器的角度；架设经纬仪；利用经纬仪进行测量并记录数据；根据数据计算次镜法线与主镜法线的夹角。本发明通过引入干涉仪辅助进行角度测量，实现了在提升角度测量精度的前提下同时确保测量范围，弥补了传统高精度角度测量方法测量精度不够或者精度提升后角度测量范围不够的缺陷。
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公开(公告)号：CN116182749A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211737031.6
申请日：2022-12-30
申请人： 北京空间机电研究所
摘要： 本发明公开了一种光轴竖直相机的外基准测试方法，包括：架设测试系统；测试系统包括：激光跟踪仪、激光跟踪仪控制器、经纬仪、经纬仪控制器、上位机和立方棱镜；通过激光跟踪仪分别采集得到光轴数据和线阵数据，并存储；布置公共转站点，架设激光跟踪仪、经纬仪和立方棱镜；进行组网并统一四台仪器的坐标系；在统一四台仪器的坐标系后，进行光轴测量和线阵方向测量；对各测量数据进行处理，得到外基准测试结果并输出。本发明旨在解决当前光轴水平相机的外基准测量方法不适用于光轴竖直相机光轴指向天空的情况，通过本发明的方法可实现大口径和超大口径光轴竖直相机外基准的高精度测量。
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公开(公告)号：CN115494608A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211047468.7
申请日：2022-08-29
申请人： 北京空间机电研究所
IPC分类号： G02B7/198
摘要： 本发明涉及一种超大口径子孔径拼接准直系统，包括：平面镜组件和拼接调整机构，平面镜组件包括平面镜、支撑吊钩、执行背板和支撑背板，支撑背板与执行背板连接；平面镜内部结构为蜂窝减重形式，背部有悬挂孔结构，用于安装支撑吊钩；拼接调整机构起到调节平面镜组件的作用，具备电动四维调节功能。本发明实现了2m直径平面反射镜镜面向下光轴竖直状态的卸载支撑，支撑结构稳定且产生的支撑误差较小，满足光学系统检测需求。
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