电磁环境电力芯片检测装置及系统

    公开(公告)号:CN116840590A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310628180.7

    申请日:2023-05-30

    IPC分类号: G01R31/00 G01R29/08

    摘要: 本发明提供一种电磁环境电力芯片检测装置及系统,属于电磁特征采集领域,包括:室外电磁环境检测单元,设置在室外电磁环境中,用于检测电力设备的电磁环境,生成室外电磁信号;室内电磁环境复现单元,用于根据接收到的室外电磁信号在微波暗室内对室外电磁信号进行模拟;芯片电磁特征检测单元,包括电磁特征检测模块和高速采集卡,电磁特征检测模块用于检测设置在微波暗室内的样品芯片的电磁特征,生成电磁特征信号,高速采集卡与电磁特征检测模块连接,用于对接收到的电磁特征信号进行显示。通过本发明提供的装置,能够在实验室模拟真实环境的电磁场景,对芯片的电磁兼容性进行测试和评估,以确保设备能够在真实的电磁环境下正常工作。

    磁场探头校准系数确定方法、装置和电子设备

    公开(公告)号:CN117008033A

    公开(公告)日:2023-11-07

    申请号:CN202310773437.8

    申请日:2023-06-28

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明提供一种磁场探头校准系数确定方法、一种磁场探头校准系数确定装置和一种电子设备,属于磁场检测技术领域。磁场探头校准系数确定方法,包括:确定磁场探头对通电的微带线测量的电压值;确定磁场探头限定的磁场强度检测区域中每个子区域的磁场强度值;基于所有子区域的磁场强度值确定磁场探头对微带线测量的磁场强度平均值;基于电压值和磁场强度平均值,确定磁场探头校准系数。相比现有方法在使用微带线对磁场探头进行校准时,计算磁场强度时只计算了探头环中心位置处的场值。本发明通过计算磁场探头限定的磁场强度检测区域中每个子区域的磁场强度值得到的磁场强度平均值更加准确,进而减小计算得到的磁场探头校准系数的误差。