用于EUV反射掩模的薄膜及其制造方法

    公开(公告)号:CN115437208A

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202210553811.9

    申请日:2022-05-19

    IPC分类号: G03F1/24 H01L21/033

    摘要: 用于EUV光掩模的薄膜包括:第一层;第二层;以及主层,设置在第一层和第二层之间并且包括多个纳米管。第一层或第二层中的至少一个包括其中堆叠有一个或多个二维层的二维材料。在以上和以下的一个或多个实施例中,第一层包括第一二维材料并且第二层包括第二二维材料。本申请的实施例还涉及用于极紫外(EUV)反射掩模的薄膜及其制造方法。