一种连续波相位测量式单像素三维成像系统及方法

    公开(公告)号:CN106791781B

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201611161665.6

    申请日:2016-12-15

    摘要: 一种连续波相位测量式单像素三维成像系统及方法,涉及三维成像技术,目的是为了满足三维成像技术的发展需求。光场调制器将发射光调制为空间随机分布的散斑光场去照明目标,单元探测器收集从目标上返回的所有光信号,将接收信号与发射信号进行混频,经积分器累积后发送给计算机进行保存,同时计算机记录散斑光场的随机分布,多次改变随机散斑场,分别进行记录,最终可解算出目标的三维像。本发明所述的系统及方法不需要对信号进行高速采样,大大地减小了系统的硬件开销,同时提高了系统的成像速度,而且使系统的分辨率摆脱了高速采样带宽的限制。

    一种远距离微弱信号的探测装置

    公开(公告)号:CN109188392A

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201811033173.8

    申请日:2018-09-05

    IPC分类号: G01S7/48

    摘要: 本发明公开了一种远距离微弱信号的探测装置,包括:同步控制模块、脉冲激光装置、偏振态编码器、发射光学器,接收光学器、三个分光器、全反射镜、检偏器、四分之一波片、二分之一波片、第一单光子探测器Gm-APD、第二第一单光子探测器Gm-APD、第三单光子探测器Gm-APD、第四单光子探测器Gm-APD和同步信号处理器;脉冲激光装置包括:光源,依次与光源连接的透镜、腔镜、激光介质和耦合镜,光源还连接有驱动电路和温控电路。通过温控电路和驱动电路为光源提供高精度的驱动电路和温度控制,进一步提高了整个系统探测结果的准确度。另一方面,利用本发明提供的增益介质,使得发射出的光工作更加稳定、可靠,且实现了远距离微弱信号的高精度探测。

    一种极微弱光信号偏振度探测系统及基于该系统的探测方法

    公开(公告)号:CN106896371A

    公开(公告)日:2017-06-27

    申请号:CN201710225333.8

    申请日:2017-04-07

    IPC分类号: G01S17/88

    CPC分类号: G01S17/88

    摘要: 一种极微弱光信号偏振度探测系统及基于该系统的探测方法,涉及激光雷达技术领域。本发明是为了解决现有激光雷达探测极远距离目标时,获取信息于单一,不能够有效的进行目标的判断和识别的问题。本发明所述的一种极微弱光信号偏振度探测系统及基于该系统的探测方法,将已偏振调制的光信号照射目标,将回波信号光进行四路分光并用Gm‑APD进行光子计数。根据计数结果可得到回波信号光的光子偏振信息,从而达到识别目标的目的。本发明采用Gm‑APD进行光子计数,响应灵敏度已经达到单光子量级,突破了传统雷达遇到的计数瓶颈,并依据响应计数实现了极微弱信号的偏振度的解算。适用于远距离目标识别探测及单光子级别的微弱光信号检测。

    一种无扫描式光子计数非视域三维成像装置及方法

    公开(公告)号:CN106772428A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611161664.1

    申请日:2016-12-15

    IPC分类号: G01S17/89 G01V8/12

    CPC分类号: G01S17/89 G01V8/12

    摘要: 一种无扫描式光子计数非视域三维成像装置及方法,涉及激光成像技术,为了解决现有技术无法对非视域场景进行成像的问题。脉冲激光器发射激光并给多通道时间相关单光子计数器一个时间信号;整形后的激光入射至墙体,墙体散射的激光经目标反射后再次入射至墙体;接收光学系统接收墙体返回的激光,并使接收光学系统的像方视场与单光子探测器阵列的视场相同;多通道时间相关单光子计数器计算入射至单光子探测器阵列的光子从脉冲激光器出发到回到单光子探测器阵列的光子飞行时间,得到时间光子计数图;计算机根据多幅时间光子计数图对目标的三维图像进行重构,得到三维图像。本发明适用于对非视域目标进行三维成像。

    激光雷达系统及采用该系统的正弦调幅-脉冲相位编码调制的复合测距和测速方法

    公开(公告)号:CN102798866B

    公开(公告)日:2014-05-28

    申请号:CN201210288383.8

    申请日:2012-08-14

    IPC分类号: G01S17/32 G01S7/483

    摘要: 激光雷达系统及采用该系统的正弦调幅-脉冲相位编码调制的复合测距和测速方法,涉及激光雷达系统及采用该系统的正弦调幅-脉冲相位编码调制的复合测距和测速方法。它为了解决现有的激光雷达系统测距方法存在激光雷达的距离分辨率与测距范围互相制约的问题。激光雷达系统对光束光强进行了正弦波振幅-脉冲编码复合调制的信号波形。信号的调制方式均为幅度调制,其顺序是一个幅值恒定的信号先经过正弦波幅度调制,再经过脉冲幅度调制,后输出目标的运动速度和距离,由正弦波幅度解调制得到目标运动造成的多普勒频移,从而得出目标的运动速度。本发明适用于雷达领域。

    ICCD增益调频连续波调制无扫描距离成像器

    公开(公告)号:CN101498786B

    公开(公告)日:2011-08-31

    申请号:CN200910071450.9

    申请日:2009-02-27

    IPC分类号: G01S7/295 G01S13/08

    摘要: ICCD增益调频连续波调制无扫描距离成像器,属于光电成像领域。本发明的目的是解决目前基于自混频探测器的无扫描FM/CW装置获取目标距离像的性能不稳定、难以应用的问题。半导体激光器发射出的激光光束经发射光学整形系统整形后照射到目标上,经目标反射后的激光光束被接收光学系统接收、汇聚至ICCD面阵探测器形成回波信号,调频连续波函数发生器发出的激光经高压调制电源与ICCD面阵探测器相连形成ICCD调制信号,ICCD调制信号与回波信号进行混频后,并由控制处理器进行傅立叶变换处理,获得与目标的距离。用于光学领域激光测距。

    指数增益调制距离成像器

    公开(公告)号:CN101487896B

    公开(公告)日:2011-05-18

    申请号:CN200910071428.4

    申请日:2009-02-23

    IPC分类号: G01S17/89

    摘要: 指数增益调制距离成像器,它涉及光电成像领域。本发明解决了现有获取高速运动目标的距离像的装置瞬时功率低、需要长时间曝光导致对高速运动目标距离获取能力低的问题。指数增益调制距离成像器,脉冲激光器输出的光束经第一分光片分成第一反射光和第一透射光,第一反射光入射至光电探测器的感光端,第一透射光经发射光学整形系统、接收光学系统后由第二分光片分成两束并分别入射至第一ICCD成像仪和第二ICCD成像仪的光输入端。高压调制电源的调制信号输出端与第一ICCD成像仪的微通道板连接,高压直流电源的电流信号输出端与第二ICCD成像仪的微通道板连接。本发明可用于远距离主动遥感技术、目标识别技术、机器人视觉技术等领域。

    距离选通式激光3D成像雷达系统

    公开(公告)号:CN100462737C

    公开(公告)日:2009-02-18

    申请号:CN200610010238.8

    申请日:2006-06-29

    IPC分类号: G01S17/89

    摘要: 距离选通式激光3D成像雷达系统,它涉及一种距离像成像雷达系统,它解决了现有的采用连续波激光器进行3D成像作用距离近、距离像模糊的问题。脉冲激光器(6)发射出的光束经光学发射天线(7)整形后照射到目标上,经目标反射的回波光束经光学接收天线(17)和滤光片(15)后入射到选通型ICCD(14)的光输入端,同步控制电路(3)控制多级可变延时发生电路(18)输出各个延时信号给多路开关(19)的输入端,并控制选通型ICCD(14)的栅极选通。采用距离选通进行3D成像,可以采用大功率脉冲激光器,和已有的选通型像增强器,其器件通用性强,容易实现,而且达到的距离分辨率也较高。

    增益调制式脉冲成像激光雷达系统

    公开(公告)号:CN100443920C

    公开(公告)日:2008-12-17

    申请号:CN200610010237.3

    申请日:2006-06-29

    IPC分类号: G01S17/89

    摘要: 增益调制式脉冲成像激光雷达系统,它涉及激光雷达系统领域,它解决了采用连续波激光器发射正弦波在对目标成距离像时限制了激光器的瞬时功率从而严重影响成像质量和测量范围的问题。本发明所述成像装置的脉冲激光器(2)发射出的光束经光学发射天线(1)整形后照射到目标上,回波脉冲通过滤光片(5)入射到用于获得像的强度值与光脉冲的往返时间成正比的目标强度像的强度成像仪(7)的光输入端,高压调制器(6)的单调变化式调制信号输出端连接强度成像仪(7)的增益调制信号控制端,控制处理器(3)的曝光控制端连接强度成像仪(7)的开关控制端。本发明有效地提高了作用距离和成像质量,同时也降低了系统结构的复杂程度。

    光束扫描器性能检测装置
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1327203C

    公开(公告)日:2007-07-18

    申请号:CN200410043781.9

    申请日:2004-08-06

    IPC分类号: G01M11/02 G01M11/00 G02B6/10

    摘要: 光束扫描器性能检测装置,它具体是一种光束扫描器性能检测装置。它由CCD光学系统(1)、图象采集模块(2)、曝光读出模块(3)、计算机(4)、数据输出输入端口(5)组成;(1)的控制输出输入端连接(4)的控制输入输出端,(1)的图象信号输出端连接(2)的图象信号输入端,(1)的曝光读出信号输出输入端连接曝光读出模块(3)的信号输出输入端,(2)的图象数据输出端连接(4)的图象数据输入端,(3)的数据输出输入端连接(4)的一个数据输入输出端,(4)的另一个数据输入输出端连接(5)的数据输入输出端。本发明能对光学扫描系统进行光学性能的检测,能对光学扫描系统进行绝对位置、相对位置、线性度、扫描均匀度进行检测,并具有结构简单、体积小、成本低的优点。