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公开(公告)号：CN1601480A
公开(公告)日：2005-03-30
申请号：CN200410011986.9
申请日：2004-09-27
申请人： 因芬尼昂技术股份公司
CPC分类号： G11C29/56 , G11C2029/0407 , G11C2029/5602
摘要： 用于测试适合与母板(10)进行电信号交换的存储模块(2)的装置(1)，包括：适用于检测该模块至少一半导体芯片(26a－26m)该操作状态的装置(8a－8k)，且该装置包括第一组信号线路(8a－8k)，具有存储装置(32)的微处理器(3)，以用于储存该操作状态，且该微控制器(3)系电连接至该信号线路，一时钟产生器适用于产生操作时钟，而该时钟产生器系电连接至该微控制器，以及信号连接(13)适用于将用于控制存取的信号传达至在该电路板配置以及该微控制器的间的该存储模块(2)，并且适用于将一用于启始检测该操作状态的程序的信号传达至该微控制器。
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公开(公告)号：CN1630054A
公开(公告)日：2005-06-22
申请号：CN200310120686.X
申请日：2003-12-18
申请人： 因芬尼昂技术股份公司
CPC分类号： G11C29/022 , G11C29/02
摘要： 本发明关于半导体装置测试装置（6）、半导体装置测试系统（5）、及半导体装置测试方法，用于使半导体装置（1a、1b）上下定位测试接触，其中连接至一个装置模块（2）的至少两个半导体装置（1a、1b）被提供，第一半导体装置（1a）的至少一个端脚（3a）被电传导地与垫片（4a）连接，第二半导体装置（1b）的至少一个端脚（3b）被电传导地与该垫片连接，包括：将第一值写入该第一半导体装置（1a）的内存胞元；将与该第一值不同的第二值写入该第二半导体装置的内存胞元；同时输出对应于该第一半导体装置的该端脚的该第一值之信号及对应于该第二半导体装置的该端脚的该第二值之信号。
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公开(公告)号：CN1519904A
公开(公告)日：2004-08-11
申请号：CN200410001977.1
申请日：2004-01-16
申请人： 因芬尼昂技术股份公司
IPC分类号： H01L21/60
CPC分类号： H01L23/49582 , H01L2924/0002 , H05K3/3426 , H05K2201/10689 , H05K2201/10909 , Y02P70/613 , H01L2924/00
摘要： 本发明关于一壳体(11a)，特别是用于半导体装置(3a)，一半导体装置脚(4e)，以及一种用以制造脚(4a，4e)的方法，其中至少一只脚(4e)系从一基本主体(14)被刺出，特别是一导线架(14)，并系以一或复数的刺孔步骤的方法，其中脚(4e)系以一个别金属层(9)仅在脚(4e)之最终刺出之后涂布。
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公开(公告)号：CN100435104C
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：CN200410011986.9
申请日：2004-09-27
申请人： 因芬尼昂技术股份公司
CPC分类号： G11C29/56 , G11C2029/0407 , G11C2029/5602
摘要： 用于测试适合与母板(10)进行电信号交换的存储模块(2)的装置(1)，包括：适用于检测该模块至少一半导体芯片(26a-26m)该操作状态的装置(8a-8k)，且该装置包括第一组信号线路(8a-8k)，具有存储装置(32)的微处理器(3)，以用于储存该操作状态，且该微控制器(3)系电连接至该信号线路，一时钟产生器适用于产生操作时钟，而该时钟产生器系电连接至该微控制器，以及信号连接(13)适用于将用于控制存取的信号传达至在该电路板配置以及该微控制器的间的该存储模块(2)，并且适用于将一用于启始检测该操作状态的程序的信号传达至该微控制器。
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公开(公告)号：CN100364014C
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN02816470.9
申请日：2002-08-21
申请人： 因芬尼昂技术股份公司
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/50012 , G11C7/1051 , G11C7/1087 , G11C11/401 , G11C29/50
摘要： 本案涉及在一测试装置(PA)的测试方法，用以测试一半导体存储装置(P)，该半导体存储装置(P)具有用于数据选通信号(DQS)的双向数据选通连结，从而该数据选通信号可透过在被测试的半导体存储装置(P)与一相同类型的第二半导体存储装置(R)间的数据传输而被测试。本案亦涉及一种用以实行此发明方法的装置。
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公开(公告)号：CN1545708A
公开(公告)日：2004-11-10
申请号：CN02816470.9
申请日：2002-08-21
申请人： 因芬尼昂技术股份公司
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/50012 , G11C7/1051 , G11C7/1087 , G11C11/401 , G11C29/50
摘要： 本案系关于在一测试装置(PA)之测试方法，用以测试一半导体记忆装置(P)，该半导体记忆装置(P)具有一关于资料选通信号(DQS)的双向资料选通连结，藉此该资料选通信号可透过在被测试的半导体记忆装置(P)与一相同类型的第二半导体记忆装置(R)间的数据传输而被测试。本案亦关于一种用以实行此发明方法的装置。
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