一种偏振图像的增强方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118628390A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410731521.8

    申请日:2024-06-06

    Abstract: 本发明涉及一种偏振图像的增强方法、装置、设备及存储介质,属于偏振成像技术领域,其中,该方法包括:根据同一场景不同曝光条件下的偏振图像集建立融合权重矩阵;基于所述偏振图像集对应的曝光比与待增强图像推导响应模型确定最优曝光比;根据所述最优曝光比、所述待增强图像、所述融合权重矩阵生成目标偏振图像;对所述目标偏振图像进行去噪处理得到去噪后的增强图像。本发明通过同一场景不同曝光条件下的偏振图像集建立融合权重矩阵并确定最优曝光比,通过与待增强图像融合生成目标偏振图像后再进行去噪处理,利用真实场景下的图像能够对各种光照下的偏振图像进行增强,有效去除了偏振图像中的噪声干扰,并防止了偏振图像中偏振信息的丢失。

    光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN105258798B

    公开(公告)日:2017-08-25

    申请号:CN201510759890.9

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法,属于光学辐射定标测量仪器及方法,解决现有测试系统成本昂贵且难以保证测量精度的问题,以实现光谱响应的高精度测量。本发明的测试系统,包括正弦调制光源、聚光透镜、单色仪、滤光片轮、暗箱、电机驱动电路,微控制器控制电路、前置放大电路、正弦锁相放大电路、数据采集卡和计算机,所述正弦调制光源为正弦调制的白炽灯、卤钨灯或LED光源。本发明使用正弦调制光源,采用可编程器件实现正弦锁相放大的方式,测量并绘制在300~900nm范围内的光电探测器光谱响应,实现高精度测量的同时,降低了设备成本和设计难度。

    光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN105258798A

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201510759890.9

    申请日:2015-11-10

    Abstract: 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法,属于光学辐射定标测量仪器及方法,解决现有测试系统成本昂贵且难以保证测量精度的问题,以实现光谱响应的高精度测量。本发明的测试系统,包括正弦调制光源、聚光透镜、单色仪、滤光片轮、暗箱、电机驱动电路,微控制器控制电路、前置放大电路、正弦锁相放大电路、数据采集卡和计算机,所述正弦调制光源为正弦调制的白炽灯、卤钨灯或LED光源。本发明使用正弦调制光源,采用可编程器件实现正弦锁相放大的方式,测量并绘制在300~900nm范围内的光电探测器光谱响应,实现高精度测量的同时,降低了设备成本和设计难度。

    一种基于双层介质超表面的宽谱光学变焦系统

    公开(公告)号:CN114296155A

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202111460725.5

    申请日:2021-12-02

    Abstract: 本发明公开了一种基于双层介质超表面的宽谱光学变焦系统,属于光学器件领域,包括:第一介质超表面、第二介质超表面和平移机构;第一介质超表面和第二介质超表面平行设置,均包括多个彼此拼接的基础单元,基础单元包括基板和设置在基板上的介质柱,介质柱的横截面尺寸与其所处位置相关,介质柱为三段式结构,且中间段介质柱的折射率低于两端段介质柱的折射率,用于消除射入的宽谱入射光中的色差,宽谱入射光的波长范围为1310nm‑1550nm;第一介质超表面和第二介质超表面用于依次对宽谱入射光进行相位调制以聚焦,平移机构用于调节第一介质超表面和第二介质超表面之间的横向位移以调节聚焦焦距。实现宽谱范围入射光的变焦,并降低变焦系统的复杂度。

    一种用于空间光通信的光路对准方法

    公开(公告)号:CN111416661B

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202010042513.4

    申请日:2020-01-15

    Inventor: 赵茗 王晶 杨振宇

    Abstract: 本发明属于无线通信领域,具体涉及一种用于空间光通信的光路对准方法,包括:分别调整待对准准直光路光斑和探测器探头端待扫描二维区域的位置,使得光斑投射在待扫描二维区域内;控制探头扫描二维区域,并在扫描过程中实时同步探测当前扫描点的光功率值以及将该光功率值与光通信功率阈值对比,当该光功率值或者包括该光功率值的连续相邻多个光功率值大于光通信功率阈值时,停止扫描,实现光路对准,否则继续扫描,直至达到扫描终止条件。本发明通过扫描方式实时获取扫描过程中各离散扫描点的光功率值,基于功率阈值实现光路对准,适用于各种不同类型光源光路,避免了现有光路对准方法需要CCD成像等带来的对准系统复杂、成本高、对准耗时等的问题。

    一种基于双层介质超表面的光学变焦系统

    公开(公告)号:CN110161676B

    公开(公告)日:2020-09-08

    申请号:CN201910470787.0

    申请日:2019-05-31

    Abstract: 本发明公开一种基于双层介质超表面的光学变焦系统,包括:第一层介质超表面和第二层介质超表面,二者平行排列;两层介质超表面均由多个基础单元拼接构成,每个基础单元包括基板和设于基板上的圆柱介质柱,每层介质超表面的圆柱介质柱的直径与其距离介质超表面中心的距离和其角度存在映射关系;入射光入射依次经过两层介质超表面;两层介质超表面依次对入射光进行两次相位调制,实现对入射光的聚焦效果;当第一层介质超表面和第二层介质超表面的相对旋转角相对初始状态发生改变时,两层介质超表面对应的聚焦焦距发生改变,两层介质超表面对所述入射光的聚焦效果发生变化。本发明提供的变焦系统根据旋转角的大小实现变焦,且均可实现大范围变焦。

    一种基于介质超表面的紧凑光学测量仪

    公开(公告)号:CN108375418B

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201810111548.1

    申请日:2018-02-05

    Abstract: 本发明公开了一种基于介质超表面的紧凑光学测量仪,包括介质超表面和探测器阵列,探测器阵列位于介质超表面的焦距处;介质超表面包括多个基本模块,相邻的基本模块相互接触;每个基本模块独立工作以获取入射到该基本模块表面的待测光的偏振态;每个基本模块包括第一平面聚焦镜、第二平面聚焦镜、第三平面聚焦镜和第四平面聚焦镜,四块平面聚焦镜按照从左至右、从上自下的顺序构成“田”字形平面结构;这四个平面聚焦镜的焦距一致。本发明提供的紧凑光学测量仪可以探测入射光的偏振态和波前,在可见光波段损耗较小,在近红外到红外波段几乎没有损耗,极大降低了光损耗,提高了探测的灵敏度。

    一种螺旋状金属线栅圆偏振器

    公开(公告)号:CN101782666A

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN201010120798.5

    申请日:2010-03-05

    Abstract: 一种螺旋状金属线栅圆偏振器,属于光学器件,目的在于使其在可见光波段具有较宽的工作波长,且器件尺寸小、结构紧凑、易于集成。本发明的圆偏振器,在石英玻璃基板上沉积有N个均匀分布的螺旋状的铝金属线栅,金属线栅直径40-60纳米,螺旋状的螺旋周期数大于等于2周,螺旋状的金属线栅间距190-290纳米,螺旋周期间距150-400纳米,螺旋直径100纳米,N≥106。本发明能够工作在可见光光谱范围,工作波长范围可以达到580-730纳米,偏振消光比大于8.8∶1,偏振光透过率大于67%,且器件尺寸小、结构紧凑、易于集成,适用于偏振分光、彩色显示、激光技术等领域。

    一种基于超表面的光束偏振分离与整形系统与方法

    公开(公告)号:CN117250769A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202311223703.6

    申请日:2023-09-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于超表面的光束偏振分离与整形系统与方法,系统包括:单层介质,以及生长在所述单层介质前端的第一个超表面和后端的第二个超表面;两个超表面的介质柱的尺寸与其满足预设光束整形所需的相位分布和半波片功能存在映射关系;高斯光入射依次经过两个超表面;两个超表面依次对入射光进行两次相位调制,实现对入射光的分束整形效果;当第一个超表面和第二个超表面的相位分布满足要求时,基于超表面的光束偏振分离与整形系统对应的光束整形效果得以实现,对所述高斯入射光的聚焦形貌产生变化,同时其中一束光的偏振态产生改变,输出与另一束光的偏振态相同。本发明提供的光束整形系统根据预设聚焦形貌的大小实现整形。

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